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A Heterogeneous Hypercube Based On Strengthened Nodes For A Fast Processing Of SAR Raw-data
1990-01-01 Aloisio, G.; Bochicchio, M.; Marzocca, C.
Effects of neglecting the finite length of conductors in evaluation of critical areas
1991-01-01 F., Corsi; S., Martino; Marzocca, Cristoforo; R., Tangorra; C., Baroni; M., Buraschi
EFFECTS OF NEGLECTING THE FINITE LENGHT OF CONDUCTORS IN THE EVALUATION OF CRITICAL AREAS
1991-01-01 Corsi, Francesco; Martino, S; Marzocca, C; Tangorra, R; Baroni, C; Buraschi, M.
ACCURATE EVALUATION OF CRITICAL AREAS FOR SHORTS BETWEEN FINITE LENGHT CONDUCTORS
1991-01-01 Baroni, C; Bochicchio, M; Buraschi, M; Corsi, Francesco; Martino, S; Marzocca, C; Tangorra, R; Zampetti, P.
Accurate evaluation of critical areas for shorts between finite length conductors
1991-01-01 C., Baroni; M., Bochicchio; M., Buraschi; F., Corsi; S., Martino; Marzocca, Cristoforo; R., Tangorra; P., Zampetti
Critical areas for finite length conductors
1992-01-01 Corsi, F.; Martino, S.; Marzocca, C.; Tangorra, R.; Baroni, C.; Buraschi, M.
A NEW TECHNIQUE FOR FAST THRESHOLD VOLTAGE EXTRACTION IN MOS TRANSISTORS
1993-01-01 Corsi, Francesco; Portacci, G; Marzocca, C.
New experimental technique for fast and accurate MOSFET threshold extraction
1993-01-01 Corsi, F.; Marzocca, C.; Portacci, G. V.
A Fault Signature Approach to Analog Devices Testing
1993-01-01 Corsi, F.; Chiarantoni, Michele; Lorusso, R.; Marzocca, C.
A FAULT SIGNATURE ANALYSIS FOR ANALOG DEVICE TESTING
1993-01-01 Corsi, Francesco; Chiarantoni, M; Lorusso, R; Marzocca, C.
Defect level for non-equiprobable faults in digital ICs
1993-01-01 Corsi, F.; Del Console, D.; Marzocca, C.
STEPS TOWARD THE USE OF SILICON DRIFT DETECTORS IN HEAVY ION COLLISION AL LHC
1995-01-01 Gramegna, G; Corsi, Francesco; Cantatore, E; De Venuto, Daniela; Marzocca, C.
Designing input stimuli for linear filter testing
1995-01-01 Cantatore, E; Corsi, Francesco; DE VENUTO, Daniela; Gramegna, G; Marzocca, Cristoforo; Vino, Fp
Designing a Linear Silicon Drift Detector
1995-01-01 Gramegna, C.; Corsi, F.; De Venuto, D.; Marzocca, C.; Vacchi, A.; Manzari, V.; Navach, F.; Beole, S.; Casse, G.; Giubellino, P.; Riccati, L.; Burger, P.
Use of field plate in a linear silicon drift detector (SDD)
1995-01-01 Gramegna, G.; Corsi, F.; Cantatore, E.; Cuomo, M.; De Venuto, D.; Marzocca, C.; Portacci, G. V.; Vacchi, A.; Manzari, V.; Navach, F.; Beolé, S.; Casse, G.; Giubellino, P.; Riccati, L.; Burger, P.
Steps towards the use of silicon drift detectors in heavy ion collisions at LHC
1995-01-01 Beolè, S.; Burger, P.; Cantatore, Elio; Casse, G.; Corsi, F.; Cuomo, M.; D ąabrowski, W.; De Venuto, D.; Giubellino, P.; Gramegna, G.; Manzari, V.; Marzocca, C.; Navach, F.; Portacci, G.; Riccati, L.; Vacchi, A.
A STATISTICAL APPROACH TO THE PARAMETRIC FAULT TESTING OF ANALOG CIRCUITS
1996-01-01 Cantatore, E; Corsi, Francesco; De Venuto, Daniela; DI CIANO, M; Gramegna, G; Marzocca, C.
A Statistical Approach to the Parametric Fault Testing of Analogue Circuits
1996-01-01 Cantatore, E; Corsi, Francesco; DE VENUTO, Daniela; Di Ciano, M; Gramegna, G; Marzocca, Cristoforo
CMOS Preamplifier with High Linearity and Ultra Low Noise for X-Ray Spectroscopy
1996-01-01 O'Connor, P.; Rehak, P.; Gramegna, G.; Corsi, F.; Marzocca, C.
Assessing the quality level of digital CMOS ICs under the hypothesis of nonuniform distribution of fault probabilities
1996-01-01 Corsi, F.; Marzocca, C.; Martino, S.
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