THERMAL STRESS DETERMINATION IN A TRANSISTOR BY SPECKLE INTERFEROMETRY / Pappalettere, Carmine; Rizzo, G; Sun, W. M.; Trentadue, Bartolomeo. - (1998), pp. 158-164.

THERMAL STRESS DETERMINATION IN A TRANSISTOR BY SPECKLE INTERFEROMETRY

PAPPALETTERE, Carmine;TRENTADUE, Bartolomeo
1998-01-01

1998
POSTCONFERENCE PROCEEDINGS OF THE 1997 SEM SPRING CONFERENCE ON EXPERIMENTAL MECHANICS
0-912063-62-3
Society for Experimental Mechanics (SEM)
THERMAL STRESS DETERMINATION IN A TRANSISTOR BY SPECKLE INTERFEROMETRY / Pappalettere, Carmine; Rizzo, G; Sun, W. M.; Trentadue, Bartolomeo. - (1998), pp. 158-164.
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