THERMAL STRESS DETERMINATION IN A TRANSISTOR BY SPECKLE INTERFEROMETRY / Pappalettere, Carmine; Rizzo, G; Sun, W. M.; Trentadue, Bartolomeo. - (1998), pp. 158-164.
THERMAL STRESS DETERMINATION IN A TRANSISTOR BY SPECKLE INTERFEROMETRY
PAPPALETTERE, Carmine;TRENTADUE, Bartolomeo
1998-01-01
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