POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca

Testing High Resolution SD ADC’s by using the Noise Transfer Function / DE VENUTO, Daniela; Richardson, A.. - (2004). (Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Ajaccio, France nel 23-26 May).

Testing High Resolution SD ADC’s by using the Noise Transfer Function

DE VENUTO, Daniela;
2004-01-01
2004
IEEE European Test Symposium (ETS)
Testing High Resolution SD ADC’s by using the Noise Transfer Function / DE VENUTO, Daniela; Richardson, A.. - (2004). (Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Ajaccio, France nel 23-26 May).
4.1 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11589/15668
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