Layout-Based Defect Analysis and Test of Radiation Hardened Mixed-Signal Circuits / DE VENUTO, Daniela; Corsi, Francesco; Ohletz, Mj. - (1999). (Intervento presentato al convegno IEEE European Test Workshop, ETW99 tenutosi a Costance, Germany nel May 25-28, 1999).
Layout-Based Defect Analysis and Test of Radiation Hardened Mixed-Signal Circuits
DE VENUTO, Daniela;CORSI, Francesco;
1999-01-01
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