CORRELATION BETWEEN LATCH-UP HYSTERESIS AND WINDOW EFFECTS IN COMMERCIAL CMOS IC'S BY MEANS OF IR MICROSCOPY AND SCANNING LASER MICROSCOPY / Corsi, Francesco; Muschitiello, M; Stucchi, M; Zanoni, E.. - (1989). (Intervento presentato al convegno 4TH INT. CONF. QUALITY IN ELECTRONIC COMPONENTS tenutosi a BORDEAUX nel APRILE 1989).
CORRELATION BETWEEN LATCH-UP HYSTERESIS AND WINDOW EFFECTS IN COMMERCIAL CMOS IC'S BY MEANS OF IR MICROSCOPY AND SCANNING LASER MICROSCOPY
CORSI, Francesco;
1989-01-01
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