DETECTION OF INTERNAL SIGNALS IN SILICON IC'S VIA CONTINUOUS WAVE LOW POWER LASER PROBE / De Venuto, Daniela; Corsi, Francesco; Portulano, S.. - (1995). (Intervento presentato al convegno INT. CONF. ON MICROELECTRONICS MIEL '95).

DETECTION OF INTERNAL SIGNALS IN SILICON IC'S VIA CONTINUOUS WAVE LOW POWER LASER PROBE

De Venuto, Daniela;CORSI, Francesco;
1995-01-01

1995
INT. CONF. ON MICROELECTRONICS MIEL '95
DETECTION OF INTERNAL SIGNALS IN SILICON IC'S VIA CONTINUOUS WAVE LOW POWER LASER PROBE / De Venuto, Daniela; Corsi, Francesco; Portulano, S.. - (1995). (Intervento presentato al convegno INT. CONF. ON MICROELECTRONICS MIEL '95).
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11589/18687
Citazioni
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact