Enhancing the Time Resolution of an EBT System via the Primary Electron Pulse Shape Measurement / Corsi, F; Chiorboli, G; DE VENUTO, Daniela; Morandi, C; Portacci, Gv. - (1993), pp. 241-247. (Intervento presentato al convegno third European conference on Electron and optical testing of electronic devices tenutosi a Zürich, Switzerland nel September 1-3, 1993).

Enhancing the Time Resolution of an EBT System via the Primary Electron Pulse Shape Measurement

DE VENUTO, Daniela;
1993-01-01

1993
third European conference on Electron and optical testing of electronic devices
0-00167-9317
Enhancing the Time Resolution of an EBT System via the Primary Electron Pulse Shape Measurement / Corsi, F; Chiorboli, G; DE VENUTO, Daniela; Morandi, C; Portacci, Gv. - (1993), pp. 241-247. (Intervento presentato al convegno third European conference on Electron and optical testing of electronic devices tenutosi a Zürich, Switzerland nel September 1-3, 1993).
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