Bias-Programmable Hardware Reconfiguration for On-Chip Test Response Evaluation / DE VENUTO, Daniela; Ohletz, Mj. - (2000), pp. 58-63. (Intervento presentato al convegno 6th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, Montpellier Francia, IMSTW 2000 tenutosi a Montpellier, France nel June 22–24, 2000).
Bias-Programmable Hardware Reconfiguration for On-Chip Test Response Evaluation
DE VENUTO, Daniela;
2000-01-01
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