Comparative study of < 111 > and < 100 > crystals and capacitance measurements on Si strip detectors in CMS

Albergo, S.; Angarano, M.; Azzi, P.; Bacchetta, E.; Babucci, N.; Bader, A.; Bagliesi, G.; Basti, A.; Bilei, U.; Biggeri, G. M.; Bisello, D.; Boemi, D.; Bosi, F.; Bozzi, L.; Borrello, C.; Braibant, S.; Breuker, H.; Bruzzi, M.; Busoni, A.; Buffini, S.; Candelori, A.; Caner, A.; Castaldi, R.; Catacchini, A.; Castro, E.; Checcucci, B.; Ciampolini, P.; Creanza, C.; Civinini, D.; D'Alessandro, R.; da Rold, M.; de Palma, N.; Demaria, M.; Dell'Orso, R.; della Marina, R.; Eklund, S.; Dutta, C.; Elliott-Peisert, A.; Feld, L.; Fiore, L.; French, E.; Focardi, M.; Freudenreich, K.; Fürtjes, A.; Giorgi, A.; Giassi, M.; Giraldo, A.; Glessing, B.; W. H., Gu; Hammerstrom, G.; Hall, R.; Hebbeker, T.; Hrubec, J.; Kaminsky, M.; Huhtinen, A.; Karimaki, V.; Koenig, St.; Lariccia, M.; Krammer, P.; Lenzi, M.; Loreti, M.; Lustermann, K.; Luebelsmeyer, W.; Mättig, P.; Maggi, G.; Mantovani, M.; Mannelli, G.; Marchioro, A.; Mariotti, C.; Mcevoy, G.; Martignon, B.; Meschini, M.; Messineo, A.; Migliore, E.; Paccagnella, S.; My, A.; Palla, F.; Pandoulas, D.; Papi, A.; Passeri, G.; Parrini, D.; Pieri, M.; Piperov, S.; Potenza, R.; Raffaelli, V.; Radicci, F.; Raymond, M.; Santocchia, A.; Selvaggi, B.; Schmitt, G.; Servoli, L.; Sguazzoni, G.; Silvestris, R.; Siedling, L.; Skog, K.; Starodumov, A.; Stefanini, I.; Stavitski, G.; Tempesta, P.; Tonelli, G.; Tuuva, A.; Tricomi, T.; Vannini, C.; Verdini, P. G.; Viertel, G.; Yahong, Z.; Xie, Li; Watts, S.; Wittmer, B.

For the construction of the silicon microstrip detectors for the Tracker of the CMS experiment, two different substrate choices were investigated. A high-resistivity (6 k Omega cm) substrate with (111) crystal orientation and a low-resistivity (2 k Omega cm) one with (100) crystal orientation. The interstrip and backplane capacitances mere measured before and after the exposure to radiation in a range of strip pitches from 60 mu m to 240 mu m and for values of the width-over-pitch ratio between 0.1 and 0.5.

Comparative study of < 111 > and < 100 > crystals and capacitance measurements on Si strip detectors in CMS / Albergo, S.; Angarano, M.; Azzi, P.; Bacchetta, E.; Babucci, N.; Bader, A.; Bagliesi, G.; Basti, A.; Bilei, U.; Biggeri, G. M.; Bisello, D.; Boemi, D.; Bosi, F.; Bozzi, L.; Borrello, C.; Braibant, S.; Breuker, H.; Bruzzi, M.; Busoni, A.; Buffini, S.; Candelori, A.; Caner, A.; Castaldi, R.; Catacchini, A.; Castro, E.; Checcucci, B.; Ciampolini, P.; Creanza, C.; Civinini, D.; D'Alessandro, R.; da Rold, M.; de Palma, N.; Demaria, M.; Dell'Orso, R.; della Marina, R.; Eklund, S.; Dutta, C.; Elliott-Peisert, A.; Feld, L.; Fiore, L.; French, E.; Focardi, M.; Freudenreich, K.; Fürtjes, A.; Giorgi, A.; Giassi, M.; Giraldo, A.; Glessing, B.; Gu, W. H.; Hammerstrom, G.; Hall, R.; Hebbeker, T.; Hrubec, J.; Kaminsky, M.; Huhtinen, A.; Karimaki, V.; Koenig, St.; Lariccia, M.; Krammer, P.; Lenzi, M.; Loreti, M.; Lustermann, K.; Luebelsmeyer, W.; Mättig, P.; Maggi, G.; Mantovani, M.; Mannelli, G.; Marchioro, A.; Mariotti, C.; Mcevoy, G.; Martignon, B.; Meschini, M.; Messineo, A.; Migliore, E.; Paccagnella, S.; My, A.; Palla, F.; Pandoulas, D.; Papi, A.; Passeri, G.; Parrini, D.; Pieri, M.; Piperov, S.; Potenza, R.; Raffaelli, V.; Radicci, F.; Raymond, M.; Santocchia, A.; Selvaggi, B.; Schmitt, G.; Servoli, L.; Sguazzoni, G.; Silvestris, R.; Siedling, L.; Skog, K.; Starodumov, A.; Stefanini, I.; Stavitski, G.; Tempesta, P.; Tonelli, G.; Tuuva, A.; Tricomi, T.; Vannini, C.; Verdini, P. G.; Viertel, G.; Yahong, Z.; Xie, Li; Watts, S.; Wittmer, B.. - In: IL NUOVO CIMENTO DELLA SOCIETÀ ITALIANA DI FISICA. B. - ISSN 1826-9877. - STAMPA. - 112:11(1999), pp. 1261-1269.