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POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca
From an analysis of inclusive leptons in data collected by the ALEPH detector at LEP, we measure the fractions of bb and cc events in hadronic Z decays. The bb fraction times semileptonic branching ratio is measured to be Br(b → e)·Γbb/Γhad = 0.0224 ± 0.0016 ± 0.0010. Assuming a b semileptonic branching ratio of 0.102 ± 0.010 gives Γbb/Γhad = 0.220 ± 0.016 ± 0.024, in good agreement with the standard model prediction of 0.217. The cc fraction times semileptonic branching ratio is measured to be Br(c → e)·Γcc/Γhad = 0.0133 ± 0.0040-0.0031 +0.0038. Assuming a c semileptonic branching ratio of 0.090 ± 0.013 gives Γcc/Γhad = 0.148 ± 0.044-0.038 +0.045, in agreement with the standard model prediction of 0.171.
Heavy flavour production in Z decays / Decamp, D.; Deschizeaux, B.; Goy, C.; Lees, J. -P.; Minard, M. -N.; Crespo, J. M.; Delfino, M.; Fernandez, E.; Mato, P.; Miguel, R.; Mir, Ll. M.; Orteu, S.; Pacheco, A.; Perlas, J. A.; Tubau, E.; Catanesi, M. G.; de Palma, M.; Farilla, A.; Iaselli, G.; Maggi, G.; Natali, S.; Nuzzo, S.; Ranieri, A.; Raso, G.; Romano, F.; Ruggieri, F.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Gao, Y.; Hu, H.; Huang, D.; Jin, S.; Lin, J.; Ruan, T.; Wang, T.; Wu, W.; Xie, Y.; Xu, D.; Xu, R.; Zhang, J.; Zhang, Z.; Zhao, W.; Albrecht, H.; Atwood, W. B.; Bird, F.; Blucher, E.; Brown, D.; Burnett, T. H.; Drevermann, H.; Dydak, F.; Forty, R. W.; Garrido, Ll.; Grab, C.; Hagelberg, R.; Haywood, S.; Jost, B.; Kasemann, M.; Kellner, G.; Knobloch, J.; Lacourt, A.; Lehraus, I.; Lohse, T.; Lüke, D.; Marchioro, A.; Martinez, M.; May, J.; Menary, S.; Minten, A.; Miotto, A.; Palazzi, P.; Pepe-Altarelli, M.; Ranjard, F.; Roth, A.; Rothberg, J.; Rotscheidt, H.; von Rüden, W.; St. Denis, R.; Schlatter, D.; Takashima, M.; Talby, M.; Taureg, H.; Tejessy, W.; Wachsmuth, H.; Wasserbaech, S.; Wheeler, S.; Wiedenmann, W.; Witzeling, W.; Wotschack, J.; Ajaltouni, Z.; Bardadin-Otwinowska, M.; Falvard, A.; Gay, P.; Henrard, P.; Jousset, J.; Michel, B.; Montret, J. -C.; Pallin, D.; Perret, P.; Proriol, J.; Prulhière, F.; Hansen, J. D.; Hansen, J. R.; Hansen, P. H.; Møllerud, R.; Nilsson, B. S.; Petersen, G.; Efthymiopoulos, I.; Simopoulou, E.; Vayaki, A.; Badier, J.; Blondel, A.; Bonneaud, G.; Bourotte, J.; Braems, F.; Brient, J. C.; Ciocci, M. A.; Fouque, G.; Guirlet, R.; Rougé, A.; Rumpf, M.; Tanaka, R.; Videau, H.; Videau, I.; Candlin, D. J.; Parrini, G.; Corden, M.; Georgiopoulos, C.; Ikeda, M.; Lannutti, J.; Levinthal, D.; Mermikides, M.; Sawyer, L.; Stimpfl, G.; Antonelli, A.; Baldini, R.; Bencivenni, G.; Bologna, G.; Bossi, F.; Campana, P.; Capon, G.; Chiarella, V.; de Ninno, G.; D'Ettorre-Piazzoli, B.; Felici, G.; Laurelli, P.; Mannocchi, G.; Murtas, F.; Murtas, G. P.; Nicoletti, G.; Passalacqua, L.; Picchi, P.; Zografou, P.; Altoon, B.; Boyle, O.; Halley, A. W.; Ten Have, I.; Hearns, J. L.; Lynch, J. G.; Morton, W. T.; Raine, C.; Scarr, J. M.; Smith, K.; Thompson, A. S.; Brandl, B.; Braun, O.; Geiges, R.; Geweniger, C.; Hanke, P.; Hepp, V.; Kluge, E. E.; Maumary, Y.; Panter, M.; Putzer, A.; Rensch, B.; Stahl, A.; Tittel, K.; Wunsch, M.; Belk, A. T.; Beuselinck, R.; Binnie, D. M.; Cameron, W.; Cattaneo, M.; Dornan, P. J.; Dugeay, S.; Greene, A. M.; Hassard, J. F.; Patton, S. J.; Sedgbeer, J. K.; Taylor, G.; Tomalin, I. R.; Wright, A. G.; Girtler, P.; Kuhn, D.; Rudolph, G.; Bowdery, C. K.; Brodbeck, T. J.; Finch, A. J.; Foster, F.; Hughes, G.; Keemer, N. R.; Nuttall, M.; Rowlingson, B. S.; Sloan, T.; Snow, S. W.; Barczewski, T.; Bauerdick, L. A. T.; Kleinknecht, K.; Renk, B.; Roehn, S.; Sander, H. -G.; Schmelling, M.; Steeg, F.; Albanese, J. -P.; Aubert, J. -J.; Benchouk, C.; Bonissent, A.; Courvoisier, D.; Etienne, F.; Matsinos, E.; Papalexiou, S.; Payre, P.; Pietrzyk, B.; Qian, Z.; Blum, W.; Cattaneo, P.; Cowan, G.; Dehning, B.; Dietl, H.; Fernandez-Bosman, M.; Jahn, A.; Lange, E.; Lütjens, G.; Lutz, G.; Männer, W.; Moser, H. -G.; Pan, Y.; Richter, R.; Schwarz, A. S.; Settles, R.; Stiegler, U.; Stierlin, U.; Thomas, J.; Bertin, V.; de Bouard, G.; Boucrot, J.; Callot, O.; Chen, X.; Cordier, A.; Davier, M.; Ganis, G.; Grivaz, J. -F.; Heusse, Ph.; Janot, P.; Journé, V.; Kim, D. W.; Lefrançois, J.; Lutz, A. -M.; Veillet, J. -J.; Zomer, F.; Amendolia, S. R.; Bagliesi, G.; Batignani, G.; Bosisio, L.; Bottigli, U.; Bradaschia, C.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Foà, L.; Focardi, E.; Forti, F.; Giassi, A.; Giorgi, M. A.; Ligabue, F.; Lusiani, A.; Mannelli, E. B.; Marrocchesi, P. S.; Messineo, A.; Palla, F.; Sanguinetti, G.; Steinberger, J.; Tenchini, R.; Tonelli, G.; Triggiani, G.; Carter, J. M.; Green, M. G.; March, P. V.; Medcalf, T.; Saich, M. R.; Strong, J. A.; Thomas, R. M.; Wildish, T.; Botterill, D. R.; Clifft, R. W.; Edgecock, T. R.; Edwards, M.; Fisher, S. M.; Harvey, J.; Jones, T. J.; Norton, P. R.; Salmon, D. P.; Thompson, J. C.; Bloch-Devaux, B.; Colas, P.; Klopfenstein, C.; Lançon, E.; Locci, E.; Loucatos, S.; Mirabito, L.; Monnier, E.; Perez, P.; Perrier, F.; Rander, J.; Renardy, J. -F.; Roussarie, A.; Schuller, J. -P.; Ashman, J. G.; Booth, C. N.; Combley, F.; Dinsdale, M.; Martin, J.; Parker, D.; Thompson, L. F.; Brandt, S.; Burkhardt, H.; Grupen, C.; Meinhard, H.; Neugebauer, E.; Schäfer, U.; Seywerd, H.; Gobbo, B.; Liello, F.; Milotti, E.; Rolandi, L.; Bellantoni, L.; Boudreau, J. F.; Cinabro, D.; Conway, J. S.; Cowen, D. F.; Feng, Z.; Harton, J. L.; Hilgart, J.; Jared, R. C.; Johnson, R. P.; Leclaire, B. W.; Pan, Y. B.; Parker, T.; Pater, J. R.; Saadi, Y.; Sharma, V.; Wear, J. A.; Weber, F. V.; Sau, Lan; Wu, ; Xue, S. T.; Zobernig, G.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - STAMPA. - 244:3-4(1990), pp. 551-565. [10.1016/0370-2693(90)90362-A]
Heavy flavour production in Z decays
Decamp, D.;Deschizeaux, B.;Goy, C.;Lees, J. -P.;Minard, M. -N.;Crespo, J. M.;Delfino, M.;Fernandez, E.;Mato, P.;Miguel, R.;Mir, Ll. M.;Orteu, S.;Pacheco, A.;Perlas, J. A.;Tubau, E.;Catanesi, M. G.;de Palma, M.;Farilla, A.;Iaselli, G.;Maggi, G.;Natali, S.;Nuzzo, S.;Ranieri, A.;Raso, G.;Romano, F.;Ruggieri, F.;Selvaggi, G.;Silvestris, L.;Tempesta, P.;Zito, G.;Gao, Y.;Hu, H.;Huang, D.;Jin, S.;Lin, J.;Ruan, T.;Wang, T.;Wu, W.;Xie, Y.;Xu, D.;Xu, R.;Zhang, J.;Zhang, Z.;Zhao, W.;Albrecht, H.;Atwood, W. B.;Bird, F.;Blucher, E.;Brown, D.;Burnett, T. H.;Drevermann, H.;Dydak, F.;Forty, R. W.;Garrido, Ll.;Grab, C.;Hagelberg, R.;Haywood, S.;Jost, B.;Kasemann, M.;Kellner, G.;Knobloch, J.;Lacourt, A.;Lehraus, I.;Lohse, T.;Lüke, D.;Marchioro, A.;Martinez, M.;May, J.;Menary, S.;Minten, A.;Miotto, A.;Palazzi, P.;Pepe-Altarelli, M.;Ranjard, F.;Roth, A.;Rothberg, J.;Rotscheidt, H.;von Rüden, W.;St. Denis, R.;Schlatter, D.;Takashima, M.;Talby, M.;Taureg, H.;Tejessy, W.;Wachsmuth, H.;Wasserbaech, S.;Wheeler, S.;Wiedenmann, W.;Witzeling, W.;Wotschack, J.;Ajaltouni, Z.;Bardadin-Otwinowska, M.;Falvard, A.;Gay, P.;Henrard, P.;Jousset, J.;Michel, B.;Montret, J. -C.;Pallin, D.;Perret, P.;Proriol, J.;Prulhière, F.;Hansen, J. D.;Hansen, J. R.;Hansen, P. H.;Møllerud, R.;Nilsson, B. S.;Petersen, G.;Efthymiopoulos, I.;Simopoulou, E.;Vayaki, A.;Badier, J.;Blondel, A.;Bonneaud, G.;Bourotte, J.;Braems, F.;Brient, J. C.;Ciocci, M. A.;Fouque, G.;Guirlet, R.;Rougé, A.;Rumpf, M.;Tanaka, R.;Videau, H.;Videau, I.;Candlin, D. J.;Parrini, G.;Corden, M.;Georgiopoulos, C.;Ikeda, M.;Lannutti, J.;Levinthal, D.;Mermikides, M.;Sawyer, L.;Stimpfl, G.;Antonelli, A.;Baldini, R.;Bencivenni, G.;Bologna, G.;Bossi, F.;Campana, P.;Capon, G.;Chiarella, V.;de Ninno, G.;D'Ettorre-Piazzoli, B.;Felici, G.;Laurelli, P.;Mannocchi, G.;Murtas, F.;Murtas, G. P.;Nicoletti, G.;Passalacqua, L.;Picchi, P.;Zografou, P.;Altoon, B.;Boyle, O.;Halley, A. W.;Ten Have, I.;Hearns, J. L.;Lynch, J. G.;Morton, W. T.;Raine, C.;Scarr, J. M.;Smith, K.;Thompson, A. S.;Brandl, B.;Braun, O.;Geiges, R.;Geweniger, C.;Hanke, P.;Hepp, V.;Kluge, E. E.;Maumary, Y.;Panter, M.;Putzer, A.;Rensch, B.;Stahl, A.;Tittel, K.;Wunsch, M.;Belk, A. T.;Beuselinck, R.;Binnie, D. M.;Cameron, W.;Cattaneo, M.;Dornan, P. J.;Dugeay, S.;Greene, A. M.;Hassard, J. F.;Patton, S. J.;Sedgbeer, J. K.;Taylor, G.;Tomalin, I. R.;Wright, A. G.;Girtler, P.;Kuhn, D.;Rudolph, G.;Bowdery, C. K.;Brodbeck, T. J.;Finch, A. J.;Foster, F.;Hughes, G.;Keemer, N. R.;Nuttall, M.;Rowlingson, B. S.;Sloan, T.;Snow, S. W.;Barczewski, T.;Bauerdick, L. A. T.;Kleinknecht, K.;Renk, B.;Roehn, S.;Sander, H. -G.;Schmelling, M.;Steeg, F.;Albanese, J. -P.;Aubert, J. -J.;Benchouk, C.;Bonissent, A.;Courvoisier, D.;Etienne, F.;Matsinos, E.;Papalexiou, S.;Payre, P.;Pietrzyk, B.;Qian, Z.;Blum, W.;Cattaneo, P.;Cowan, G.;Dehning, B.;Dietl, H.;Fernandez-Bosman, M.;Jahn, A.;Lange, E.;Lütjens, G.;Lutz, G.;Männer, W.;Moser, H. -G.;Pan, Y.;Richter, R.;Schwarz, A. S.;Settles, R.;Stiegler, U.;Stierlin, U.;Thomas, J.;Bertin, V.;de Bouard, G.;Boucrot, J.;Callot, O.;Chen, X.;Cordier, A.;Davier, M.;Ganis, G.;Grivaz, J. -F.;Heusse, Ph.;Janot, P.;Journé, V.;Kim, D. W.;Lefrançois, J.;Lutz, A. -M.;Veillet, J. -J.;Zomer, F.;Amendolia, S. R.;Bagliesi, G.;Batignani, G.;Bosisio, L.;Bottigli, U.;Bradaschia, C.;Ferrante, I.;Fidecaro, F.;Foà, L.;Focardi, E.;Forti, F.;Giassi, A.;Giorgi, M. A.;Ligabue, F.;Lusiani, A.;Mannelli, E. B.;Marrocchesi, P. S.;Messineo, A.;Palla, F.;Sanguinetti, G.;Steinberger, J.;Tenchini, R.;Tonelli, G.;Triggiani, G.;Carter, J. M.;Green, M. G.;March, P. V.;Medcalf, T.;Saich, M. R.;Strong, J. A.;Thomas, R. M.;Wildish, T.;Botterill, D. R.;Clifft, R. W.;Edgecock, T. R.;Edwards, M.;Fisher, S. M.;Harvey, J.;Jones, T. J.;Norton, P. R.;Salmon, D. P.;Thompson, J. C.;Bloch-Devaux, B.;Colas, P.;Klopfenstein, C.;Lançon, E.;Locci, E.;Loucatos, S.;Mirabito, L.;Monnier, E.;Perez, P.;Perrier, F.;Rander, J.;Renardy, J. -F.;Roussarie, A.;Schuller, J. -P.;Ashman, J. G.;Booth, C. N.;Combley, F.;Dinsdale, M.;Martin, J.;Parker, D.;Thompson, L. F.;Brandt, S.;Burkhardt, H.;Grupen, C.;Meinhard, H.;Neugebauer, E.;Schäfer, U.;Seywerd, H.;Gobbo, B.;Liello, F.;Milotti, E.;Rolandi, L.;Bellantoni, L.;Boudreau, J. F.;Cinabro, D.;Conway, J. S.;Cowen, D. F.;Feng, Z.;Harton, J. L.;Hilgart, J.;Jared, R. C.;Johnson, R. P.;Leclaire, B. W.;Pan, Y. B.;Parker, T.;Pater, J. R.;Saadi, Y.;Sharma, V.;Wear, J. A.;Weber, F. V.;Sau Lan;Wu;Xue, S. T.;Zobernig, G.
1990-01-01
Abstract
From an analysis of inclusive leptons in data collected by the ALEPH detector at LEP, we measure the fractions of bb and cc events in hadronic Z decays. The bb fraction times semileptonic branching ratio is measured to be Br(b → e)·Γbb/Γhad = 0.0224 ± 0.0016 ± 0.0010. Assuming a b semileptonic branching ratio of 0.102 ± 0.010 gives Γbb/Γhad = 0.220 ± 0.016 ± 0.024, in good agreement with the standard model prediction of 0.217. The cc fraction times semileptonic branching ratio is measured to be Br(c → e)·Γcc/Γhad = 0.0133 ± 0.0040-0.0031 +0.0038. Assuming a c semileptonic branching ratio of 0.090 ± 0.013 gives Γcc/Γhad = 0.148 ± 0.044-0.038 +0.045, in agreement with the standard model prediction of 0.171.
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.