POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca

CORRELATION BETWEEN ANOMALOUS LATCH-UP I-V CHARACTERISTICS AND OBSERVATION OF CURRENT DISTRIBUTION BY IR MICROSCOPY IN CMOS IC'S / Corsi, Francesco; Canali, C; Muschitiello, M; Zanoni, E.. - In: ELECTRONICS LETTERS. - ISSN 0013-5194. - 24:4(1988).

CORRELATION BETWEEN ANOMALOUS LATCH-UP I-V CHARACTERISTICS AND OBSERVATION OF CURRENT DISTRIBUTION BY IR MICROSCOPY IN CMOS IC'S

CORSI, Francesco;
1988-01-01
1988
CORRELATION BETWEEN ANOMALOUS LATCH-UP I-V CHARACTERISTICS AND OBSERVATION OF CURRENT DISTRIBUTION BY IR MICROSCOPY IN CMOS IC'S / Corsi, Francesco; Canali, C; Muschitiello, M; Zanoni, E.. - In: ELECTRONICS LETTERS. - ISSN 0013-5194. - 24:4(1988).
1.1 Articolo in rivista
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11589/8528
Citazioni
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact