THERMAL STRESS DETERMINATION IN A TRANSISTOR BY SPECKLE INTERFEROMETRY / Pappalettere, Carmine; Rizzo, G; Sun, W. M.; Trentadue, Bartolomeo - In: POSTCONFERENCE PROCEEDINGS OF THE 1997 SEM SPRING CONFERENCE ON EXPERIMENTAL MECHANICS / SEM ; [a cura di] SEM. - BETHEL : Society for Experimental Mechanics (SEM), 1998. - ISBN 0-912063-62-3. - pp. 158-164
THERMAL STRESS DETERMINATION IN A TRANSISTOR BY SPECKLE INTERFEROMETRY
PAPPALETTERE, Carmine;TRENTADUE, Bartolomeo
1998-01-01
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