Testing High Resolution SD ADC’s by using the Noise Transfer Function / DE VENUTO, Daniela; Richardson, A.. - (2004). (Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Ajaccio, France nel 23-26 May).
Testing High Resolution SD ADC’s by using the Noise Transfer Function
DE VENUTO, Daniela;
2004-01-01
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