POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca
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EnglishNew Test Access for High Resolution SD ADC’s for Noise Transfer Function Evaluation. / De Venuto, Daniela. - (2004), pp. 81-85. ((Intervento presentato al convegno 5th International Symposium Quality Electronic Design, 2004 tenutosi a San Jose, CA, USA nel 22-24 March 2004.
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http://hdl.handle.net/11589/15793| Autori interni: | DE VENUTO, Daniela |
| Titolo: | New Test Access for High Resolution SD ADC’s for Noise Transfer Function Evaluation. |
| Data di pubblicazione: | 2004 |
| Nome del convegno: | 5th International Symposium Quality Electronic Design, 2004 |
| ISBN: | 0-7695-2093-6 |
| Digital Object Identifier (DOI): | 10.1109/ISQED.2004.1283654 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11589/15793 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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