POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca
Archivio istituzionale dei prodotti della ricerca destinato a raccogliere, rendere visibile e conservarela produzione scientifica del Politecnico di Bari.
EnglishA new solution to improve the testability of high resolution SigmaDelta Analogue to Digital Converters (SigmaDeltaADC's) using the quantizer input as test node is described. Both, the theory of the method and results from high level simulations for a 16 bit audio ADC example are presented. The analysis demonstrates the potential to reduce the computation overhead associated with test response analysis versus conventional techniques.
| Autori: | |
| Titolo: | New test access for high resolution Sigma Delta ADC's by using the noise transfer function evaluation |
| Data di pubblicazione: | 2004 |
| Nome del convegno: | 5th International Symposium on Quality Electronic Design, ISQUED 2004 |
| ISBN: | 0-7695-2093-6 |
| Digital Object Identifier (DOI): | 10.1109/ISQED.2004.1283654 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11589/15793 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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