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The T2K experiment measures muon neutrino disappearance and electron neutrino appearance in accelerator-produced neutrino and antineutrino beams. With an exposure of 14.7(7.6)×1020 protons on target in the neutrino (antineutrino) mode, 89 νe candidates and seven anti-νe candidates are observed, while 67.5 and 9.0 are expected for δCP=0 and normal mass ordering. The obtained 2σ confidence interval for the CP-violating phase, δCP, does not include the CP-conserving cases (δCP=0, π). The best-fit values of other parameters are sin2θ23=0.526-0.036+0.032 and Δm322=2.463-0.070+0.071×10-3 eV2/c4.
Search for CP Violation in Neutrino and Antineutrino Oscillations by the T2K Experiment with 2.2×1021 Protons on Target / Abe, K.; Akutsu, R.; Ali, A.; Amey, J.; Andreopoulos, C.; Anthony, L.; Antonova, M.; Aoki, S.; Ariga, A.; Ashida, Y.; Azuma, Y.; Ban, S.; Barbi, M.; Barker, G. J.; Barr, G.; Barry, C.; Batkiewicz, M.; Bench, F.; Berardi, V.; Berkman, S.; Berner, R. M.; Berns, L.; Bhadra, S.; Bienstock, S.; Blondel, A.; Bolognesi, S.; Bourguille, B.; Boyd, S. B.; Brailsford, D.; Bravar, A.; Bronner, C.; Buizza Avanzini, M.; Calcutt, J.; Campbell, T.; Cao, S.; Cartwright, S. L.; Catanesi, M. G.; Cervera, A.; Chappell, A.; Checchia, C.; Cherdack, D.; Chikuma, N.; Christodoulou, G.; Coleman, J.; Collazuol, G.; Coplowe, D.; Cudd, A.; Dabrowska, A.; De Rosa, G.; Dealtry, T.; Denner, P. F.; Dennis, S. R.; Densham, C.; Di Lodovico, F.; Dokania, N.; Dolan, S.; Drapier, O.; Duffy, K. E.; Dumarchez, J.; Dunne, P.; Emery-Schrenk, S.; Ereditato, A.; Fernandez, P.; Feusels, T.; Finch, A. J.; Fiorentini, G. A.; Fiorillo, G.; Francois, C.; Friend, M.; Fujii, Y.; Fujita, R.; Fukuda, D.; Fukuda, Y.; Gameil, K.; Giganti, C.; Gizzarelli, F.; Golan, T.; Gonin, M.; Hadley, D. R.; Haegel, L.; Haigh, J. T.; Hamacher-Baumann, P.; Hansen, D.; Harada, J.; Hartz, M.; Hasegawa, T.; Hastings, N. C.; Hayashino, T.; Hayato, Y.; Hiramoto, A.; Hogan, M.; Holeczek, J.; Hosomi, F.; Ichikawa, A. K.; Ikeda, M.; Imber, J.; Inoue, T.; Intonti, R. A.; Ishida, T.; Ishii, T.; Ishitsuka, M.; Iwamoto, K.; Izmaylov, A.; Jamieson, B.; Jiang, M.; Johnson, S.; Jonsson, P.; Jung, C. K.; Kabirnezhad, M.; Kaboth, A. C.; Kajita, T.; Kakuno, H.; Kameda, J.; Karlen, D.; Katori, T.; Kato, Y.; Kearns, E.; Khabibullin, M.; Khotjantsev, A.; Kim, H.; Kim, J.; King, S.; Kisiel, J.; Knight, A.; Knox, A.; Kobayashi, T.; Koch, L.; Koga, T.; Koller, P. P.; Konaka, A.; Kormos, L. L.; Koshio, Y.; Kowalik, K.; Kubo, H.; Kudenko, Y.; Kurjata, R.; Kutter, T.; Kuze, M.; Labarga, L.; Lagoda, J.; Lamoureux, M.; Lasorak, P.; Laveder, M.; Lawe, M.; Licciardi, M.; Lindner, T.; Liptak, Z. J.; Litchfield, R. P.; Li, X.; Longhin, A.; Lopez, J. P.; Lou, T.; Ludovici, L.; Lu, X.; Magaletti, L.; Mahn, K.; Malek, M.; Manly, S.; Maret, L.; Marino, A. D.; Martin, J. F.; Martins, P.; Maruyama, T.; Matsubara, T.; Matveev, V.; Mavrokoridis, K.; Ma, W. Y.; Mazzucato, E.; Mccarthy, M.; Mccauley, N.; Mcfarland, K. S.; Mcgrew, C.; Mefodiev, A.; Metelko, C.; Mezzetto, M.; Minamino, A.; Mineev, O.; Mine, S.; Missert, A.; Miura, M.; Moriyama, S.; Morrison, J.; Mueller, Th. A.; Murphy, S.; Nagai, Y.; Nakadaira, T.; Nakahata, M.; Nakajima, Y.; Nakamura, K. G.; Nakamura, K.; Nakamura, K. D.; Nakanishi, Y.; Nakayama, S.; Nakaya, T.; Nakayoshi, K.; Nantais, C.; Nielsen, C.; Niewczas, K.; Nishikawa, K.; Nishimura, Y.; Nonnenmacher, T. S.; Novella, P.; Nowak, J.; O'Keeffe, H. M.; O'Sullivan, L.; Okumura, K.; Okusawa, T.; Oryszczak, W.; Oser, S. M.; Owen, R. A.; Oyama, Y.; Palladino, V.; Palomino, J. L.; Paolone, V.; Paudyal, P.; Pavin, M.; Payne, D.; Pickering, L.; Pidcott, C.; Pinzon Guerra, E. S.; Pistillo, C.; Popov, B.; Porwit, K.; Posiadala-Zezula, M.; Pritchard, A.; Quilain, B.; Radermacher, T.; Radicioni, E.; Ratoff, P. N.; Reinherz-Aronis, E.; Riccio, C.; Rondio, E.; Rossi, B.; Roth, S.; Rubbia, A.; Ruggeri, A. C.; Rychter, A.; Sakashita, K.; Sánchez, F.; Sasaki, S.; Scantamburlo, E.; Scholberg, K.; Schwehr, J.; Scott, M.; Seiya, Y.; Sekiguchi, T.; Sekiya, H.; Sgalaberna, D.; Shah, R.; Shaikhiev, A.; Shaker, F.; Shaw, D.; Shiozawa, M.; Smirnov, A.; Smy, M.; Sobczyk, J. T.; Sobel, H.; Sonoda, Y.; Steinmann, J.; Stewart, T.; Stowell, P.; Suda, Y.; Suvorov, S.; Suzuki, A.; Suzuki, S. Y.; Suzuki, Y.; Sztuc, A. A.; Tacik, R.; Tada, M.; Takeda, A.; Takeuchi, Y.; Tamura, R.; Tanaka, H. K.; Tanaka, H. A.; Thakore, T.; Thompson, L. F.; Toki, W.; Touramanis, C.; Tsui, K. M.; Tsukamoto, T.; Tzanov, M.; Uchida, Y.; Uno, W.; Vagins, M.; Vallari, Z.; Vasseur, G.; Vilela, C.; Vladisavljevic, T.; Volkov, V. V.; Wachala, T.; Walker, J.; Wang, Y.; Wark, D.; Wascko, M. O.; Weber, A.; Wendell, R.; Wilking, M. J.; Wilkinson, C.; Wilson, J. R.; Wilson, R. J.; Wret, C.; Yamada, Y.; Yamamoto, K.; Yamasu, S.; Yanagisawa, C.; Yang, G.; Yano, T.; Yasutome, K.; Yen, S.; Yershov, N.; Yokoyama, M.; Yoshida, T.; Yu, M.; Zalewska, A.; Zalipska, J.; Zaremba, K.; Zarnecki, G.; Ziembicki, M.; Zimmerman, E. D.; Zito, M.; Zsoldos, S.; Zykova, A.. - In: PHYSICAL REVIEW LETTERS. - ISSN 0031-9007. - STAMPA. - 121:17(2018). [10.1103/PhysRevLett.121.171802]
Search for CP Violation in Neutrino and Antineutrino Oscillations by the T2K Experiment with 2.2×1021 Protons on Target
Abe, K.;Akutsu, R.;Ali, A.;Amey, J.;Andreopoulos, C.;Anthony, L.;Antonova, M.;Aoki, S.;Ariga, A.;Ashida, Y.;Azuma, Y.;Ban, S.;Barbi, M.;Barker, G. J.;Barr, G.;Barry, C.;Batkiewicz, M.;Bench, F.;Berardi, V.;Berkman, S.;Berner, R. M.;Berns, L.;Bhadra, S.;Bienstock, S.;Blondel, A.;Bolognesi, S.;Bourguille, B.;Boyd, S. B.;Brailsford, D.;Bravar, A.;Bronner, C.;Buizza Avanzini, M.;Calcutt, J.;Campbell, T.;Cao, S.;Cartwright, S. L.;Catanesi, M. G.;Cervera, A.;Chappell, A.;Checchia, C.;Cherdack, D.;Chikuma, N.;Christodoulou, G.;Coleman, J.;Collazuol, G.;Coplowe, D.;Cudd, A.;Dabrowska, A.;De Rosa, G.;Dealtry, T.;Denner, P. F.;Dennis, S. R.;Densham, C.;Di Lodovico, F.;Dokania, N.;Dolan, S.;Drapier, O.;Duffy, K. E.;Dumarchez, J.;Dunne, P.;Emery-Schrenk, S.;Ereditato, A.;Fernandez, P.;Feusels, T.;Finch, A. J.;Fiorentini, G. A.;Fiorillo, G.;Francois, C.;Friend, M.;Fujii, Y.;Fujita, R.;Fukuda, D.;Fukuda, Y.;Gameil, K.;Giganti, C.;Gizzarelli, F.;Golan, T.;Gonin, M.;Hadley, D. R.;Haegel, L.;Haigh, J. T.;Hamacher-Baumann, P.;Hansen, D.;Harada, J.;Hartz, M.;Hasegawa, T.;Hastings, N. C.;Hayashino, T.;Hayato, Y.;Hiramoto, A.;Hogan, M.;Holeczek, J.;Hosomi, F.;Ichikawa, A. K.;Ikeda, M.;Imber, J.;Inoue, T.;Intonti, R. A.;Ishida, T.;Ishii, T.;Ishitsuka, M.;Iwamoto, K.;Izmaylov, A.;Jamieson, B.;Jiang, M.;Johnson, S.;Jonsson, P.;Jung, C. K.;Kabirnezhad, M.;Kaboth, A. C.;Kajita, T.;Kakuno, H.;Kameda, J.;Karlen, D.;Katori, T.;Kato, Y.;Kearns, E.;Khabibullin, M.;Khotjantsev, A.;Kim, H.;Kim, J.;King, S.;Kisiel, J.;Knight, A.;Knox, A.;Kobayashi, T.;Koch, L.;Koga, T.;Koller, P. P.;Konaka, A.;Kormos, L. L.;Koshio, Y.;Kowalik, K.;Kubo, H.;Kudenko, Y.;Kurjata, R.;Kutter, T.;Kuze, M.;Labarga, L.;Lagoda, J.;Lamoureux, M.;Lasorak, P.;Laveder, M.;Lawe, M.;Licciardi, M.;Lindner, T.;Liptak, Z. J.;Litchfield, R. P.;Li, X.;Longhin, A.;Lopez, J. P.;Lou, T.;Ludovici, L.;Lu, X.;Magaletti, L.;Mahn, K.;Malek, M.;Manly, S.;Maret, L.;Marino, A. D.;Martin, J. F.;Martins, P.;Maruyama, T.;Matsubara, T.;Matveev, V.;Mavrokoridis, K.;Ma, W. Y.;Mazzucato, E.;McCarthy, M.;McCauley, N.;McFarland, K. S.;McGrew, C.;Mefodiev, A.;Metelko, C.;Mezzetto, M.;Minamino, A.;Mineev, O.;Mine, S.;Missert, A.;Miura, M.;Moriyama, S.;Morrison, J.;Mueller, Th. A.;Murphy, S.;Nagai, Y.;Nakadaira, T.;Nakahata, M.;Nakajima, Y.;Nakamura, K. G.;Nakamura, K.;Nakamura, K. D.;Nakanishi, Y.;Nakayama, S.;Nakaya, T.;Nakayoshi, K.;Nantais, C.;Nielsen, C.;Niewczas, K.;Nishikawa, K.;Nishimura, Y.;Nonnenmacher, T. S.;Novella, P.;Nowak, J.;O'Keeffe, H. M.;O'Sullivan, L.;Okumura, K.;Okusawa, T.;Oryszczak, W.;Oser, S. M.;Owen, R. A.;Oyama, Y.;Palladino, V.;Palomino, J. L.;Paolone, V.;Paudyal, P.;Pavin, M.;Payne, D.;Pickering, L.;Pidcott, C.;Pinzon Guerra, E. S.;Pistillo, C.;Popov, B.;Porwit, K.;Posiadala-Zezula, M.;Pritchard, A.;Quilain, B.;Radermacher, T.;Radicioni, E.;Ratoff, P. N.;Reinherz-Aronis, E.;Riccio, C.;Rondio, E.;Rossi, B.;Roth, S.;Rubbia, A.;Ruggeri, A. C.;Rychter, A.;Sakashita, K.;Sánchez, F.;Sasaki, S.;Scantamburlo, E.;Scholberg, K.;Schwehr, J.;Scott, M.;Seiya, Y.;Sekiguchi, T.;Sekiya, H.;Sgalaberna, D.;Shah, R.;Shaikhiev, A.;Shaker, F.;Shaw, D.;Shiozawa, M.;Smirnov, A.;Smy, M.;Sobczyk, J. T.;Sobel, H.;Sonoda, Y.;Steinmann, J.;Stewart, T.;Stowell, P.;Suda, Y.;Suvorov, S.;Suzuki, A.;Suzuki, S. Y.;Suzuki, Y.;Sztuc, A. A.;Tacik, R.;Tada, M.;Takeda, A.;Takeuchi, Y.;Tamura, R.;Tanaka, H. K.;Tanaka, H. A.;Thakore, T.;Thompson, L. F.;Toki, W.;Touramanis, C.;Tsui, K. M.;Tsukamoto, T.;Tzanov, M.;Uchida, Y.;Uno, W.;Vagins, M.;Vallari, Z.;Vasseur, G.;Vilela, C.;Vladisavljevic, T.;Volkov, V. V.;Wachala, T.;Walker, J.;Wang, Y.;Wark, D.;Wascko, M. O.;Weber, A.;Wendell, R.;Wilking, M. J.;Wilkinson, C.;Wilson, J. R.;Wilson, R. J.;Wret, C.;Yamada, Y.;Yamamoto, K.;Yamasu, S.;Yanagisawa, C.;Yang, G.;Yano, T.;Yasutome, K.;Yen, S.;Yershov, N.;Yokoyama, M.;Yoshida, T.;Yu, M.;Zalewska, A.;Zalipska, J.;Zaremba, K.;Zarnecki, G.;Ziembicki, M.;Zimmerman, E. D.;Zito, M.;Zsoldos, S.;Zykova, A.
2018-01-01
Abstract
The T2K experiment measures muon neutrino disappearance and electron neutrino appearance in accelerator-produced neutrino and antineutrino beams. With an exposure of 14.7(7.6)×1020 protons on target in the neutrino (antineutrino) mode, 89 νe candidates and seven anti-νe candidates are observed, while 67.5 and 9.0 are expected for δCP=0 and normal mass ordering. The obtained 2σ confidence interval for the CP-violating phase, δCP, does not include the CP-conserving cases (δCP=0, π). The best-fit values of other parameters are sin2θ23=0.526-0.036+0.032 and Δm322=2.463-0.070+0.071×10-3 eV2/c4.
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.