POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca

Accounting for Device Variation in Analogue Circuit Testing / Cantatore, E., Corsi, F., DE VENUTO, D.. - (1996). (IEEE European Test Workshop, ETW’96 Montpellier, France June 12-14, 1996).

Accounting for Device Variation in Analogue Circuit Testing

DE VENUTO, Daniela
1996
1996
IEEE European Test Workshop, ETW’96
Accounting for Device Variation in Analogue Circuit Testing / Cantatore, E., Corsi, F., DE VENUTO, D.. - (1996). (IEEE European Test Workshop, ETW’96 Montpellier, France June 12-14, 1996).
4.1 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11589/16730
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