IDDQ: optimal test technique for SOI CMOS technology? / DE VENUTO, Daniela; Kayal, M; Ohletz, Mj. - (2001). (Intervento presentato al convegno 7th IEEE International Mixed-Signal testing Workshop tenutosi a Atlanta, USA nel June 11-14 2001).

IDDQ: optimal test technique for SOI CMOS technology?

DE VENUTO, Daniela;
2001-01-01

2001
7th IEEE International Mixed-Signal testing Workshop
IDDQ: optimal test technique for SOI CMOS technology? / DE VENUTO, Daniela; Kayal, M; Ohletz, Mj. - (2001). (Intervento presentato al convegno 7th IEEE International Mixed-Signal testing Workshop tenutosi a Atlanta, USA nel June 11-14 2001).
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