POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca

IDDQ: optimal test technique for SOI CMOS technology? / DE VENUTO, D., Kayal, M., Ohletz, M.j.. - (2001). (7th IEEE International Mixed-Signal testing Workshop Atlanta, USA June 11-14 2001).

IDDQ: optimal test technique for SOI CMOS technology?

DE VENUTO, Daniela;
2001
2001
7th IEEE International Mixed-Signal testing Workshop
IDDQ: optimal test technique for SOI CMOS technology? / DE VENUTO, D., Kayal, M., Ohletz, M.j.. - (2001). (7th IEEE International Mixed-Signal testing Workshop Atlanta, USA June 11-14 2001).
4.1 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11589/16734
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