POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca

Kink Effect Modelling for the Fault Simulation of CMOS/SOI Mixed-Signal Circuits / DE VENUTO, Daniela; Ohletz, Mj. - (2002). (Intervento presentato al convegno Proc. of 8th IEEE International Mixed-Signal testing Workshop, IEEE IMSTW03 nel June 25-27, 2003).

Kink Effect Modelling for the Fault Simulation of CMOS/SOI Mixed-Signal Circuits

DE VENUTO, Daniela;
2002-01-01
2002
Proc. of 8th IEEE International Mixed-Signal testing Workshop, IEEE IMSTW03
Kink Effect Modelling for the Fault Simulation of CMOS/SOI Mixed-Signal Circuits / DE VENUTO, Daniela; Ohletz, Mj. - (2002). (Intervento presentato al convegno Proc. of 8th IEEE International Mixed-Signal testing Workshop, IEEE IMSTW03 nel June 25-27, 2003).
4.1 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11589/16735
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