POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca

Thermal stress determination in a transistor by Speckle Interferometry / Pappalettere, Carmine; Rizzo, G.; Sun, W. M.; Trentadue, Bartolomeo. - STAMPA. - (1997), pp. 303-304. (Intervento presentato al convegno SEM Spring Conference on Experimental Mechanics, Bellevue, Washington, USA tenutosi a Washington nel 2-4 June).

Thermal stress determination in a transistor by Speckle Interferometry

PAPPALETTERE, Carmine
Membro del Collaboration Group
;TRENTADUE, Bartolomeo
Membro del Collaboration Group
1997-01-01
1997
SEM Spring Conference on Experimental Mechanics, Bellevue, Washington, USA
Thermal stress determination in a transistor by Speckle Interferometry / Pappalettere, Carmine; Rizzo, G.; Sun, W. M.; Trentadue, Bartolomeo. - STAMPA. - (1997), pp. 303-304. (Intervento presentato al convegno SEM Spring Conference on Experimental Mechanics, Bellevue, Washington, USA tenutosi a Washington nel 2-4 June).
4.1 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11589/17027
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