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Electron antineutrino appearance is measured by the T2K experiment in an accelerator-produced antineutrino beam, using additional neutrino beam operation to constrain parameters of the Pontecorvo-Maki-Nakagawa-Sakata (PMNS) mixing matrix. T2K observes 15 candidate electron antineutrino events with a background expectation of 9.3 events. Including information from the kinematic distribution of observed events, the hypothesis of no electron antineutrino appearance is disfavored with a significance of 2.40σ and no discrepancy between data and PMNS predictions is found. A complementary analysis that introduces an additional free parameter which allows non-PMNS values of electron neutrino and antineutrino appearance also finds no discrepancy between data and PMNS predictions.
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Abe K.;Akutsu R.;Ali A.;Alt C.;Andreopoulos C.;Anthony L.;Antonova M.;Aoki S.;Ariga A.;Asada Y.;Ashida Y.;Atkin E. T.;Awataguchi Y.;Ban S.;Barbi M.;Barker G. J.;Barr G.;Barrow D.;Barry C.;Batkiewicz-Kwasniak M.;Beloshapkin A.;Bench F.;Berardi V.;Berkman S.;Berns L.;Bhadra S.;Bienstock S.;Blondel A.;Bolognesi S.;Bourguille B.;Boyd S. B.;Brailsford D.;Bravar A.;Bravo Berguno D.;Bronner C.;Bubak A.;Buizza Avanzini M.;Calcutt J.;Campbell T.;Cao S.;Cartwright S. L.;Catanesi M. G.;Cervera A.;Chappell A.;Checchia C.;Cherdack D.;Chikuma N.;Christodoulou G.;Coleman J.;Collazuol G.;Cook L.;Coplowe D.;Cudd A.;Dabrowska A.;De Rosa G.;Dealtry T.;Denner P. F.;Dennis S. R.;Densham C.;Di Lodovico F.;Dokania N.;Dolan S.;Doyle T. A.;Drapier O.;Dumarchez J.;Dunne P.;Eklund L.;Emery-Schrenk S.;Ereditato A.;Fernandez P.;Feusels T.;Finch A. J.;Fiorentini G. A.;Fiorillo G.;Francois C.;Friend M.;Fujii Y.;Fujita R.;Fukuda D.;Fukuda R.;Fukuda Y.;Fusshoeller K.;Gameil K.;Giganti C.;Golan T.;Gonin M.;Gorin A.;Guigue M.;Hadley D. R.;Haigh J. T.;Hamacher-Baumann P.;Hartz M.;Hasegawa T.;Hastings N. C.;Hayashino T.;Hayato Y.;Hiramoto A.;Hogan M.;Holeczek J.;Hong Van N. T.;Iacob F.;Ichikawa A. K.;Ikeda M.;Ishida T.;Ishii T.;Ishitsuka M.;Iwamoto K.;Izmaylov A.;Jakkapu M.;Jamieson B.;Jenkins S. J.;Jesus-Valls C.;Jiang M.;Johnson S.;Jonsson P.;Jung C. K.;Kabirnezhad M.;Kaboth A. C.;Kajita T.;Kakuno H.;Kameda J.;Karlen D.;Kasetti S. P.;Kataoka Y.;Katori T.;Kato Y.;Kearns E.;Khabibullin M.;Khotjantsev A.;Kikawa T.;Kim H.;Kim J.;King S.;Kisiel J.;Knight A.;Knox A.;Kobayashi T.;Koch L.;Koga T.;Konaka A.;Kormos L. L.;Koshio Y.;Kostin A.;Kowalik K.;Kubo H.;Kudenko Y.;Kukita N.;Kuribayashi S.;Kurjata R.;Kutter T.;Kuze M.;Labarga L.;Lagoda J.;Lamoureux M.;Laveder M.;Lawe M.;Licciardi M.;Lindner T.;Litchfield R. P.;Liu S. L.;Li X.;Longhin A.;Ludovici L.;Lu X.;Lux T.;MacHado L. N.;Magaletti L.;Mahn K.;Malek M.;Manly S.;Maret L.;Marino A. D.;Marti-Magro L.;Martin J. F.;Maruyama T.;Matsubara T.;Matsushita K.;Matveev V.;Mavrokoridis K.;Mazzucato E.;McCarthy M.;McCauley N.;McFarland K. S.;McGrew C.;Mefodiev A.;Metelko C.;Mezzetto M.;Minamino A.;Mineev O.;Mine S.;Miura M.;Molina Bueno L.;Moriyama S.;Morrison J.;Mueller T. A.;Munteanu L.;Murphy S.;Nagai Y.;Nakadaira T.;Nakahata M.;Nakajima Y.;Nakamura A.;Nakamura K. G.;Nakamura K.;Nakayama S.;Nakaya T.;Nakayoshi K.;Nantais C.;Ngoc T. V.;Niewczas K.;Nishikawa K.;Nishimura Y.;Nonnenmacher T. S.;Nova F.;Novella P.;Nowak J.;Nugent J. C.;O'Keeffe H. M.;O'Sullivan L.;Odagawa T.;Okumura K.;Okusawa T.;Oser S. M.;Owen R. A.;Oyama Y.;Palladino V.;Palomino J. L.;Paolone V.;Parker W. C.;Pasternak J.;Paudyal P.;Pavin M.;Payne D.;Penn G. C.;Pickering L.;Pidcott C.;Pintaudi G.;Pinzon Guerra E. S.;Pistillo C.;Popov B.;Porwit K.;Posiadala-Zezula M.;Pritchard A.;Quilain B.;Radermacher T.;Radicioni E.;Radics B.;Ratoff P. N.;Reinherz-Aronis E.;Riccio C.;Rondio E.;Roth S.;Rubbia A.;Ruggeri A. C.;Ruggles C. A.;Rychter A.;Sakashita K.;Sanchez F.;Schloesser C. M.;Scholberg K.;Schwehr J.;Scott M.;Seiya Y.;Sekiguchi T.;Sekiya H.;Sgalaberna D.;Shah R.;Shaikhiev A.;Shaker F.;Shaykina A.;Shiozawa M.;Shorrock W.;Shvartsman A.;Smirnov A.;Smy M.;Sobczyk J. T.;Sobel H.;Soler F. J. P.;Sonoda Y.;Steinmann J.;Suvorov S.;Suzuki A.;Suzuki S. Y.;Suzuki Y.;Sztuc A. A.;Tada M.;Tajima M.;Takeda A.;Takeuchi Y.;Tanaka H. K.;Tanaka H. A.;Tanaka S.;Thompson L. F.;Toki W.;Touramanis C.;Towstego T.;Tsui K. M.;Tsukamoto T.;Tzanov M.;Uchida Y.;Uno W.;Vagins M.;Valder S.;Vallari Z.;Vargas D.;Vasseur G.;Vilela C.;Vinning W. G. S.;Vladisavljevic T.;Volkov V. V.;Wachala T.;Walker J.;Walsh J. G.;Wang Y.;Wark D.;Wascko M. O.;Weber A.;Wendell R.;Wilking M. J.;Wilkinson C.;Wilson J. R.;Wilson R. J.;Wood K.;Wret C.;Yamada Y.;Yamamoto K.;Yanagisawa C.;Yang G.;Yano T.;Yasutome K.;Yen S.;Yershov N.;Yokoyama M.;Yoshida T.;Yu M.;Zalewska A.;Zalipska J.;Zaremba K.;Zarnecki G.;Ziembicki M.;Zimmerman E. D.;Zito M.;Zsoldos S.;Zykova A.
2020-01-01
Abstract
Electron antineutrino appearance is measured by the T2K experiment in an accelerator-produced antineutrino beam, using additional neutrino beam operation to constrain parameters of the Pontecorvo-Maki-Nakagawa-Sakata (PMNS) mixing matrix. T2K observes 15 candidate electron antineutrino events with a background expectation of 9.3 events. Including information from the kinematic distribution of observed events, the hypothesis of no electron antineutrino appearance is disfavored with a significance of 2.40σ and no discrepancy between data and PMNS predictions is found. A complementary analysis that introduces an additional free parameter which allows non-PMNS values of electron neutrino and antineutrino appearance also finds no discrepancy between data and PMNS predictions.
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