POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca

Analysis of the substrate noise effects for DC-DC converter integration in a 0.13μm RF CMOS technology / Vinella, R. M.; Antonicelli, R; Rizzi, Maria; Castagnolo, B.. - (2006), pp. 351-355. (Intervento presentato al convegno WSEAS Int. Conf .on Instrumentation, Measurement, Circuits and Systems (IMCAS’06) tenutosi a Hangzhou (China) nel 16-18 October 2006).

Analysis of the substrate noise effects for DC-DC converter integration in a 0.13μm RF CMOS technology

RIZZI, Maria;
2006-01-01
2006
WSEAS Int. Conf .on Instrumentation, Measurement, Circuits and Systems (IMCAS’06)
960-8457-43-2
Analysis of the substrate noise effects for DC-DC converter integration in a 0.13μm RF CMOS technology / Vinella, R. M.; Antonicelli, R; Rizzi, Maria; Castagnolo, B.. - (2006), pp. 351-355. (Intervento presentato al convegno WSEAS Int. Conf .on Instrumentation, Measurement, Circuits and Systems (IMCAS’06) tenutosi a Hangzhou (China) nel 16-18 October 2006).
4.1 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11589/23188
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