"Test-Beam Analysis of the Effect of Highly Ionising Particles on the Silicon Strip Tracker" / W., Adam; W., Beaumont; V., Zhukov; D., Contardo; N., Lumb; L., Mirabito; S., Peries; B., Trocme; F., Drouhin; L., Gross; D., Vintache; B., Wittmer; J., Olzen; M., Fahrer; DE FILIPPIS, Nicola; D., Giordano; S., My; L., Silvestris; V., Ciulli; S., Paoletti; C., Zucchetti; L., Servoli; J., Bernardini; T., Boccali; M., Dalfonso; R., Dellorso; S., Dutta; A., Giassi; S., Gennai; A., Kyriakis; F., Palla; F., Rinaldi; A., Rizzi; P. G., Verdini; P., Bartalilni; R., Chierici; P., Siegrist; A., Tsirou; R., Bainbridge; N., Marinelli; I., Tomalin. - CMS NOTE 2003/025:(2003).

"Test-Beam Analysis of the Effect of Highly Ionising Particles on the Silicon Strip Tracker"

DE FILIPPIS, Nicola;
2003-01-01

2003
"Test-Beam Analysis of the Effect of Highly Ionising Particles on the Silicon Strip Tracker" / W., Adam; W., Beaumont; V., Zhukov; D., Contardo; N., Lumb; L., Mirabito; S., Peries; B., Trocme; F., Drouhin; L., Gross; D., Vintache; B., Wittmer; J., Olzen; M., Fahrer; DE FILIPPIS, Nicola; D., Giordano; S., My; L., Silvestris; V., Ciulli; S., Paoletti; C., Zucchetti; L., Servoli; J., Bernardini; T., Boccali; M., Dalfonso; R., Dellorso; S., Dutta; A., Giassi; S., Gennai; A., Kyriakis; F., Palla; F., Rinaldi; A., Rizzi; P. G., Verdini; P., Bartalilni; R., Chierici; P., Siegrist; A., Tsirou; R., Bainbridge; N., Marinelli; I., Tomalin. - CMS NOTE 2003/025:(2003).
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11589/25626
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