"Test-Beam Analysis of the Effect of Highly Ionising Particles on the Silicon Strip Tracker" / W., A., W., B., V., Z., D., C., N., L., L., M., S., P., B., T., F., D., L., G., D., V., B., W., J., O., M., F., DE FILIPPIS, N., D., G., S., M.y., L., S., V., C., S., P., et al.. - CMS NOTE 2003/025:(2003).

"Test-Beam Analysis of the Effect of Highly Ionising Particles on the Silicon Strip Tracker"

DE FILIPPIS, Nicola;
2003

2003
"Test-Beam Analysis of the Effect of Highly Ionising Particles on the Silicon Strip Tracker" / W., A., W., B., V., Z., D., C., N., L., L., M., S., P., B., T., F., D., L., G., D., V., B., W., J., O., M., F., DE FILIPPIS, N., D., G., S., M.y., L., S., V., C., S., P., et al.. - CMS NOTE 2003/025:(2003).
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