Quality control of mass-produced GEM detectors for the CMS GE1/1 muon upgrade

Abbas, M.; Abbrescia, M.; Abdalla, H.; Abdelalim, A.; Abuzeid, S.; Agapitos, A.; Ahmad, A.; Ahmed, A.; Ahmed, W.; Aimè, C.; Aruta, C.; Asghar, I.; Aspell, P.; Avila, C.; Babbar, J.; Ban, Y.; Band, R.; Bansal, S.; Benussi, L.; Beyrouthy, T.; Bhatnagar, V.; Bianco, M.; Bianco, S.; Black, K.; Borgonovi, L.; Bouhali, O.; Braghieri, A.; Braibant, S.; Butalla, S. D.; Calzaferri, S.; Caponero, M.; Carlson, J.; Cassese, F.; Cavallo, N.; Chauhan, S. S.; Colafranceschi, S.; Colaleo, A.; Collins, J.; Garcia, A. C.; Dalchenko, M.; De Iorio, A.; De Lentdecker, G.; Olio, D. D.; De Robertis, G.; Dharmaratna, W.; Dildick, S.; Dorney, B.; Erbacher, R.; Fabozzi, F.; Fallavollita, F.; Ferraro, A.; Fiorina, D.; Fontanesi, E.; Franco, M.; Galloni, C.; Giacomelli, P.; Gigli, S.; Gilmore, J.; Gola, M.; Gruchala, M.; Gutierrez, A.; Hakkarainen, T.; Hauser, J.; Hoepfner, K.; Hohlmann, M.; Hoorani, H.; Huang, T.; Iaydjiev, P.; Irshad, A.; Iorio, A.; Ivone, F.; Jang, W.; Jaramillo, J.; Juodagalvis, A.; Juska, E.; Kailasapathy, B.; Kamon, T.; Kang, Y.; Karchin, P.; Kaur, A.; Kaur, H.; Keller, H.; Kim, H.; Kim, J.; Kim, S.; Ko, B.; Kumar, A.; Kumar, S.; Lacalamita, N.; Lee, J. S. H.; Levin, A.; Li, Q.; Licciulli, F.; Lista, L.; Liyanage, K.; Loddo, F.; Luhach, M.; Maggi, M.; Maghrbi, Y.; Majumdar, N.; Malagalage, K.; Malhotra, S.; Martiradonna, S.; Mclean, C.; Merlin, J.; Misheva, M.; Mocellin, G.; Moureaux, L.; Muhammad, A.; Muhammad, S.; Mukhopadhyay, S.; Naimuddin, M.; Nuzzo, S.; Oliveira, R.; Paolucci, P.; Park, I. C.; Passamonti, L.; Passeggio, G.; Peck, A.; Pellecchia, A.; Perera, N.; Petre, L.; Petrow, H.; Piccolo, D.; Pierluigi, D.; Rahmani, M.; Ramirez, F.; Ranieri, A.; Rashevski, G.; Regnery, B.; Ressegotti, M.; Riccardi, C.; Rodozov, M.; Romano, E.; Roskas, C.; Rossi, B.; Rout, P.; Ruiz, J. D.; Russo, A.; Safonov, A.; Sahota, A. K.; Saltzberg, D.; Saviano, G.; Shah, A.; Sharma, A.; Sharma, R.; Sheokand, T.; Shopova, M.; Simone, F. M.; Singh, J.; Sonnadara, U.; Stamerra, A.; Starling, E.; Stone, B.; Sturdy, J.; Sultanov, G.; Szillasi, Z.; Teague, D.; Teyssier, D.; Tuuva, T.; Tytgat, M.; Vai, I.; Vanegas, N.; Venditti, R.; Verwilligen, P.; Vetens, W.; Virdi, A. K.; Vitulo, P.; Wajid, A.; Wang, D.; Wang, K.; Watson, I. J.; Wickramage, N.; Wickramarathna, D. D. C.; Yang, S.; Yang, U.; Yang, Y.; Yongho, J.; Yoon, I.; You, Z.; Yu, I.; Zaleski, S.

doi:10.1016/j.nima.2022.166716

Quality control of mass-produced GEM detectors for the CMS GE1/1 muon upgrade / Abbas, M., Abbrescia, M., Abdalla, H., Abdelalim, A., Abuzeid, S., Agapitos, A., Ahmad, A., Ahmed, A., Ahmed, W., Aimè, C., Aruta, C., Asghar, I., Aspell, P., Avila, C., Babbar, J., Ban, Y., Band, R., Bansal, S., Benussi, L., Beyrouthy, T., et al.. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - ELETTRONICO. - 1034:(2022). [10.1016/j.nima.2022.166716]