Interstrip capacitances of the readout board used in large triple-GEM detectors for the CMS Muon Upgrade

Abbas, M.; Abbrescia, M.; Abdalla, H.; Abdelalim, A.; Abuzeid, S.; Agapitos, A.; Ahmad, A.; Ahmed, A.; Ahmed, W.; Aimè, C.; Aruta, C.; Asghar, I.; Aspell, P.; Avila, C.; Babbar, J.; Ban, Y.; Band, R.; Bansal, S.; Benussi, L.; Bhatnagar, V.; Bianco, M.; Bianco, S.; Black, K.; Borgonovi, L.; Bouhali, O.; Braghieri, A.; Braibant, S.; Butalla, S.; Calzaferri, S.; Caponero, M.; Cassese, F.; Cavallo, N.; Chauhan, S.; Colaleo, A.; Collins, J.; Garcia, A. C.; Dalchenko, M.; Iorio, A. D.; Lentdecker, G. D.; Olio, D. D.; Robertis, G. D.; Dharmaratna, W.; Dildick, S.; Dorney, B.; Erbacher, R.; Fabozzi, F.; Fallavollita, F.; Ferraro, A.; Fiorina, D.; Fontanesi, E.; Franco, M.; Galloni, C.; Giacomelli, P.; Gigli, S.; Gilmore, J.; Gola, M.; Gruchala, M.; Gutierrez, A.; Hadjiiska, R.; Hakkarainen, T.; Hauser, J.; Hoepfner, K.; Hohlmann, M.; Hoorani, H.; Huang, T.; Iaydjiev, P.; Irshad, A.; Iorio, A.; Ivone, F.; Jaramillo, J.; Jeong, D.; Jha, V.; Juodagalvis, A.; Juska, E.; Kailasapathy, B.; Kamon, T.; Karchin, P.; Kaur, A.; Kaur, H.; Keller, H.; Kim, H.; Kim, J.; Kumar, A.; Kumar, S.; Kumawat, H.; Lacalamita, N.; Lee, J. S. H.; Levin, A.; Li, Q.; Licciulli, F.; Lista, L.; Liyanage, K.; Loddo, F.; Lohan, M.; Luhach, M.; Maggi, M.; Maghrbi, Y.; Majumdar, N.; Malagalage, K.; Malhotra, S.; Martiradonna, S.; Mccoll, N.; Mclean, C.; Merlin, J.; Misheva, M.; Mishra, D.; Mocellin, G.; Moureaux, L.; Muhammad, A.; Muhammad, S.; Mukhopadhyay, S.; Naimuddin, M.; Netrakanti, P.; Nuzzo, S.; Oliveira, R.; Pant, L.; Paolucci, P.; Park, I. C.; Passamonti, L.; Passeggio, G.; Peck, A.; Perera, N.; Petre, L.; Petrow, H.; Piccolo, D.; Pierluigi, D.; Raffone, G.; Rahmani, M.; Ramirez, F.; Ranieri, A.; Rashevski, G.; Ressegotti, M.; Riccardi, C.; Rodozov, M.; Romano, E.; Roskas, C.; Rossi, B.; Rout, P.; Roy, D.; Ruiz, J. D.; Russo, A.; Safonov, A.; Saltzberg, D.; Saviano, G.; Shah, A.; Sharma, A.; Sharma, R.; Shopova, M.; Simone, F.; Singh, J.; Soldani, E.; Sonnadara, U.; Starling, E.; Stone, B.; Sturdy, J.; Sultanov, G.; Szillasi, Z.; Teague, D.; Teyssier, D.; Tuuva, T.; Tytgat, M.; Vai, I.; Vanegas, N.; Venditti, R.; Verwilligen, P.; Vetens, W.; Virdi, A.; Vitulo, P.; Wajid, A.; Wang, D.; Wang, K.; Watson, I. J.; Weatherwax, J.; Wickramage, N.; Wickramarathna, D. D. C.; Yang, Y.; Yang, U.; Yongho, J.; Yoon, I.; You, Z.; Yu, I.; Zaleski, S.

doi:10.1088/1748-0221/15/12/P12019

Interstrip capacitances of the readout board used in large triple-GEM detectors for the CMS Muon Upgrade / Abbas, M.; Abbrescia, M.; Abdalla, H.; Abdelalim, A.; Abuzeid, S.; Agapitos, A.; Ahmad, A.; Ahmed, A.; Ahmed, W.; Aimè, C.; Aruta, C.; Asghar, I.; Aspell, P.; Avila, C.; Babbar, J.; Ban, Y.; Band, R.; Bansal, S.; Benussi, L.; Bhatnagar, V.; Bianco, M.; Bianco, S.; Black, K.; Borgonovi, L.; Bouhali, O.; Braghieri, A.; Braibant, S.; Butalla, S.; Calzaferri, S.; Caponero, M.; Cassese, F.; Cavallo, N.; Chauhan, S.; Colaleo, A.; Collins, J.; Garcia, A. C.; Dalchenko, M.; Iorio, A. D.; Lentdecker, G. D.; Olio, D. D.; Robertis, G. D.; Dharmaratna, W.; Dildick, S.; Dorney, B.; Erbacher, R.; Fabozzi, F.; Fallavollita, F.; Ferraro, A.; Fiorina, D.; Fontanesi, E.; Franco, M.; Galloni, C.; Giacomelli, P.; Gigli, S.; Gilmore, J.; Gola, M.; Gruchala, M.; Gutierrez, A.; Hadjiiska, R.; Hakkarainen, T.; Hauser, J.; Hoepfner, K.; Hohlmann, M.; Hoorani, H.; Huang, T.; Iaydjiev, P.; Irshad, A.; Iorio, A.; Ivone, F.; Jaramillo, J.; Jeong, D.; Jha, V.; Juodagalvis, A.; Juska, E.; Kailasapathy, B.; Kamon, T.; Karchin, P.; Kaur, A.; Kaur, H.; Keller, H.; Kim, H.; Kim, J.; Kumar, A.; Kumar, S.; Kumawat, H.; Lacalamita, N.; Lee, J. S. H.; Levin, A.; Li, Q.; Licciulli, F.; Lista, L.; Liyanage, K.; Loddo, F.; Lohan, M.; Luhach, M.; Maggi, M.; Maghrbi, Y.; Majumdar, N.; Malagalage, K.; Malhotra, S.; Martiradonna, S.; Mccoll, N.; Mclean, C.; Merlin, J.; Misheva, M.; Mishra, D.; Mocellin, G.; Moureaux, L.; Muhammad, A.; Muhammad, S.; Mukhopadhyay, S.; Naimuddin, M.; Netrakanti, P.; Nuzzo, S.; Oliveira, R.; Pant, L.; Paolucci, P.; Park, I. C.; Passamonti, L.; Passeggio, G.; Peck, A.; Perera, N.; Petre, L.; Petrow, H.; Piccolo, D.; Pierluigi, D.; Raffone, G.; Rahmani, M.; Ramirez, F.; Ranieri, A.; Rashevski, G.; Ressegotti, M.; Riccardi, C.; Rodozov, M.; Romano, E.; Roskas, C.; Rossi, B.; Rout, P.; Roy, D.; Ruiz, J. D.; Russo, A.; Safonov, A.; Saltzberg, D.; Saviano, G.; Shah, A.; Sharma, A.; Sharma, R.; Shopova, M.; Simone, F.; Singh, J.; Soldani, E.; Sonnadara, U.; Starling, E.; Stone, B.; Sturdy, J.; Sultanov, G.; Szillasi, Z.; Teague, D.; Teyssier, D.; Tuuva, T.; Tytgat, M.; Vai, I.; Vanegas, N.; Venditti, R.; Verwilligen, P.; Vetens, W.; Virdi, A.; Vitulo, P.; Wajid, A.; Wang, D.; Wang, K.; Watson, I. J.; Weatherwax, J.; Wickramage, N.; Wickramarathna, D. D. C.; Yang, Y.; Yang, U.; Yongho, J.; Yoon, I.; You, Z.; Yu, I.; Zaleski, S.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 15:12(2020). [10.1088/1748-0221/15/12/P12019]