POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca

Detector control system for the GE1/1 slice test

Abbas, M.;Abbrescia, M.;Abdalla, H.;Abu Zeid, S.;Agapitos, A.;Ahmad, A.;Ahmed, A.;Ahmed, A.;Ahmed, W.;Amarjeet, S.;Asghar, I.;Aspell, P.;Avila, C.;Babbar, J.;Ban, Y.;Band, R.;Bansal, S.;Benussi, L.;Bhatnagar, V.;Bianco, M.;Bianco, S.;Black, K.;Borgonovi, L.;Bouhali, O.;Braghieri, A.;Braibant, S.;Butalla, S.;Calzaferri, S.;Caponero, M.;Cassese, F.;Cavallo, N.;Chauhan, S.;Colafranceschi, S.;Colaleo, A.;Conde Garcia, A.;Dalchenko, M.;de Iorio, A.;de Lentdecker, G.;Dell Olio, D.;de Robertis, G.;Dharmaratna, W.;Dildick, S.;Dorney, B.;Erbacher, R.;Fabozzi, F.;Fallavollita, F.;Fiorina, D.;Fontanesi, E.;Franco, M.;Galloni, C.;Giacomelli, P.;Gilmore, J.;Gola, M.;Gruchala, M.;Gutierrez, A.;Hadjiiska, R.;Hakkarainen, T.;Hauser, J.;Hoepfner, K.;Hohlmann, M.;Hoorani, H.;Huang, T.;Iaydjiev, P.;Irshad, A.;Iorio, A.;Jaramillo, J.;Jeong, D.;Jha, V.;Juodagalvis, A.;Juska, E.;Kamon, T.;Karchin, P.;Kaur, A.;Kaur, H.;Keller, H.;Kim, H.;Kim, J.;Kumar, A.;Kumar, S.;Kumawat, H.;Lacalamita, N.;Lee, J.;Levin, A.;Li, Q.;Licciulli, F.;Lista, L.;Loddo, F.;Lohan, M.;Luhach, M.;Maggi, M.;Majumdar, N.;Malagalage, K.;Malhorta, S.;Martiradonna, S.;McColl, N.;McLean, C.;Merlin, J.;Mishra, D.;Mocellin, G.;Moureaux, L.;Muhammad, A.;Muhammad, S.;Mukhopadhyay, S.;Murtaza, S.;Naimuddin, M.;Netrakanti, P.;Nuzzo, S.;Oliveira, R.;Pant, L.;Paolucci, P.;Park, I.;Passamonti, L.;Passeggio, G.;Peck, A.;Petre, L.;Petrow, H.;Piccolo, D.;Pierluigi, D.;Raffone, G.;Rahmani, M.;Ramirez, F.;Ranieri, A.;Rashevski, G.;Ressegotti, M.;Riccardi, C.;Rodozov, M.;Roskas, C.;Rossi, B.;Rout, P.;Ruiz, J. D.;Russo, A.;Safonov, A.;Saltzberg, D.;Saviano, G.;Shah, A.;Sharma, A.;Sharma, R.;Shopova, M.;Simone, F.;Singh, J.;Soldani, E.;Sonnadara, U.;Starling, E.;Stone, B.;Sturdy, J.;Sultanov, G.;Szillasi, Z.;Teague, D.;Teyssier, D.;Tuuva, T.;Tytgat, M.;Vai, I.;Vanegas, N.;Venditti, R.;Verwilligen, P.;Vetens, W.;Virdi, A.;Vitulo, P.;Wajid, A.;Wang, D.;Wang, K.;Wickramage, N.;Yang, Y.;Yang, U.;Yongho, J.;Yoon, I.;You, Z.;Yu, I.;Zaleski, S.

2020