POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca

Production and validation of industrially produced large-sized GEM foils for the Phase-2 upgrade of the CMS muon spectrometer

Abbas M.;Abbrescia M.;Abdalla H.;Abdelalim A.;AbuZeid S.;Aebi D.;Agapitos A.;Ahmad A.;Ahmed A.;Ahmed W.;Aime C.;Akhter T.;Alsufyani B.;Aruta C.;Asghar I.;Aspell P.;Avila C.;Babbar J.;Ban Y.;Band R.;Bansal S.;Benussi L.;Bhatnagar V.;Bianco M.;Bianco S.;Black K.;Borgonovi L.;Bouhali O.;Braghieri A.;Braibant S.;Butalla S.;Cagnotta A.;Calzaferri S.;Campagnola R.;Caponero M.;Carlson J.;Cassese F.;Cavallo N.;Chauhan S. S.;Choudhary B.;Colafranceschi S.;Colaleo A.;Garcia A. C.;Datta A.;De Iorio A.;De Lentdecker G.;Olio D. D.;De Robertis G.;Dharmaratna W.;Elkafrawy T.;Erbacher R.;Everaerts P.;Fabozzi F.;Fallavollita F.;Fiorina D.;Franco M.;Galloni C.;Giacomelli P.;Gigli S.;Gilmore J.;Gola M.;Gutierrez A.;Hadjiiska R.;Hoepfner K.;Hohlmann M.;Hong Y.;Hoorani H.;Huang T.;Iaydjiev P.;Irshad A.;Iorio A.;Ivone F.;Jang W.;Jaramillo J.;Jeong Y.;Jeng Y.;Juska E.;Kailasapathy B.;Kamon T.;Kang Y.;Karchin P.;Kaur A.;Kaur H.;Keller H.;Kim H.;Kim J.;Kim M.;Kim S.;Ko B.;Kumar A.;Kumar S.;Lacalamita N.;Lee J. S. H.;Levin A.;Li Q.;Licciulli F.;Lista L.;Liyanage K.;Loddo F.;Luhach M.;Maggi M.;Maghrbi Y.;Majumdar N.;Malagalage K.;Martiradonna S.;McLean C.;Merlin J.;Misheva M.;Mocellin G.;Moureaux L.;Muhammad A.;Muhammad S.;Mukhopadhyay S.;Naimuddin M.;Nuzzo S.;Oliveira R.;Paolucci P.;Park I. C.;Passamonti L.;Passeggio G.;Peck A.;Pellecchia A.;Perera N.;Petre L.;Piccolo D.;Pierluigi D.;Raffone G.;Ramirez F.;Ranieri A.;Rashevski G.;Rathjens D.;Regnery B.;Rendon C.;Riccardi C.;Rossi B.;Rout P.;Ruiz J. D.;Russo A.;Safonov A.;Sahota A. K.;Saltzberg D.;Saviano G.;Shah A.;Sharma A.;Sharma R.;Sheokand T.;Shopova M.;Simone F.;Singh J.;Sonnadara U.;Sturdy J.;Sultanov G.;Szillasi Z.;Teague D.;Teyssier D.;Tytgat M.;Vai I.;Vanegas N.;Venditti R.;Verwilligen P.;Vetens W.;Virdi A. K.;Vitulo P.;Wajid A.;Wang D.;Wang K.;Watson I. J.;Wickramage N.;Wickramarathna D. D. C.;Yanes E.;Yang S.;Yang U.;Yang Y.;Yoon I.;You Z.;Yu I.;Zaleski S.

2023-01-01