New imaging algorithm for material damage localisation based on impedance measurements under noise influence / de Castro, Bruno Albuquerque; Baptista, Fabricio Guimarães; Ciampa, Francesco. - In: MEASUREMENT. - ISSN 0263-2241. - 163:(2020). [10.1016/j.measurement.2020.107953]
New imaging algorithm for material damage localisation based on impedance measurements under noise influence
Ciampa, Francesco
2020-01-01
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