Attenzione: i dati modificati non sono ancora stati salvati. Per confermare inserimenti o cancellazioni di voci è necessario confermare con il tasto SALVA/INSERISCI in fondo alla pagina
POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca
The Super-Kamiokande and T2K Collaborations present a joint measurement of neutrino oscillation parameters from their atmospheric and beam neutrino data. It uses a common interaction model for events overlapping in neutrino energy and correlated detector systematic uncertainties between the two datasets, which are found to be compatible. Using 3244.4 days of atmospheric data and a beam exposure of 19.7 (16.3) × 10^20 protons on target in (anti)neutrino mode, the analysis finds a 1.9σ exclusion of CP conservation (defined as J_CP = 0) and a 1.2σ exclusion of the inverted mass ordering.
First Joint Oscillation Analysis of Super-Kamiokande Atmospheric and T2K Accelerator Neutrino Data / Abe, K.; Abe, S.; Bronner, C.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Hosokawa, K.; Ieki, K.; Ikeda, M.; Kameda, J.; Kanemura, Y.; Kaneshima, R.; Kashiwagi, Y.; Kataoka, Y.; Miki, S.; Mine, S.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakahata, M.; Nakano, Y.; Nakayama, S.; Noguchi, Y.; Sato, K.; Sekiya, H.; Shiba, H.; Shimizu, K.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Suzuki, Y.; Takeda, A.; Takemoto, Y.; Tanaka, H.; Yano, T.; Han, S.; Kajita, T.; Okumura, K.; Tashiro, T.; Tomiya, T.; Wang, X.; Yoshida, S.; Fernandez, P.; Labarga, L.; Ospina, N.; Zaldivar, B.; Pointon, B. W.; Kearns, E.; Mirabito, J.; Raaf, J. L.; Wan, L.; Wester, T.; Bian, J.; Griskevich, N. J.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Yankelevich, A.; Hill, J.; Jang, M. C.; Lee, S. H.; Moon, D. H.; Park, R. G.; Bodur, B.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Beauchêne, A.; Drapier, O.; Giampaolo, A.; Mueller, Th. A.; Santos, A. D.; Paganini, P.; Quilain, B.; Rogly, R.; Nakamura, T.; Jang, J. S.; Machado, L. N.; Learned, J. G.; Choi, K.; Iovine, N.; Cao, S.; Anthony, L. H. V.; Martin, D.; Prouse, N. W.; Scott, M.; Uchida, Y.; Berardi, V.; Calabria, N. F.; Catanesi, M. G.; Radicioni, E.; Langella, A.; De Rosa, G.; Collazuol, G.; Feltre, M.; Iacob, F.; Mattiazzi, M.; Ludovici, L.; Gonin, M.; Périssé, L.; Pronost, G.; Fujisawa, C.; Horiuchi, S.; Kobayashi, M.; Liu, Y. M.; Maekawa, Y.; Nishimura, Y.; Okazaki, R.; Akutsu, R.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Kobayashi, T.; Jakkapu, M.; Matsubara, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Portocarrero Yrey, A.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Bhuiyan, N.; Burton, G. T.; Di Lodovico, F.; Gao, J.; Goldsack, A.; Katori, T.; Migenda, J.; Ramsden, R. M.; Xie, Z.; Zsoldos, S.; Suzuki, A. T.; Takagi, Y.; Takeuchi, Y.; Zhong, H.; Feng, J.; Feng, L.; Hu, J. R.; Hu, Z.; Kawaue, M.; Kikawa, T.; Mori, M.; Nakaya, T.; Wendell, R. A.; Yasutome, K.; Jenkins, S. J.; Mccauley, N.; Mehta, P.; Tarrant, A.; Wilking, M. J.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Menjo, H.; Ninomiya, K.; Yoshioka, Y.; Lagoda, J.; Mandal, M.; Mijakowski, P.; Prabhu, Y. S.; Zalipska, J.; Jia, M.; Jiang, J.; Shi, W.; Yanagisawa, C.; Harada, M.; Hino, Y.; Ishino, H.; Koshio, Y.; Nakanishi, F.; Sakai, S.; Tada, T.; Tano, T.; Ishizuka, T.; Barr, G.; Barrow, D.; Cook, L.; Samani, S.; Wark, D.; Holin, A.; Nova, F.; Jung, S.; Yang, B. S.; Yang, J. Y.; Yoo, J.; Fannon, J. E. P.; Kneale, L.; Malek, M.; Mcelwee, J. M.; Thiesse, M. D.; Thompson, L. F.; Wilson, S. T.; Okazawa, H.; Lakshmi, S. M.; Kim, S. B.; Kwon, E.; Seo, J. W.; Yu, I.; Ichikawa, A. K.; Nakamura, K. D.; Tairafune, S.; Nishijima, K.; Eguchi, A.; Nakagiri, K.; Nakajima, Y.; Shima, S.; Taniuchi, N.; Watanabe, E.; Yokoyama, M.; de Perio, P.; Fujita, S.; Jesús-Valls, C.; Martens, K.; Tsui, K. M.; Vagins, M. R.; Xia, J.; Izumiyama, S.; Kuze, M.; Matsumoto, R.; Terada, K.; Asaka, R.; Ishitsuka, M.; Ito, H.; Ommura, Y.; Shigeta, N.; Shinoki, M.; Yamauchi, K.; Yoshida, T.; Gaur, R.; Gousy-Leblanc, V.; Hartz, M.; Konaka, A.; Li, X.; Chen, S.; Xu, B. D.; Wu, Y.; Zhang, A. Q.; Zhang, B.; Posiadala-Zezula, M.; Boyd, S. B.; Edwards, R.; Hadley, D.; Nicholson, M.; O'Flaherty, M.; Richards, B.; Ali, A.; Jamieson, B.; Amanai, S.; Marti, Ll.; Minamino, A.; Shibayama, R.; Shimamura, R.; Suzuki, S.; Abe, K.; Abe, S.; Akhlaq, N.; Akutsu, R.; Alarakia-Charles, H.; Ali, A.; Alj Hakim, Y. I.; Alonso Monsalve, S.; Andreopoulos, C.; Anthony, L.; Antonova, M.; Aoki, S.; Apte, K. A.; Arai, T.; Arihara, T.; Arimoto, S.; Asada, Y.; Ashida, Y.; Atkin, E. T.; Babu, N.; Barbi, M.; Barker, G. J.; Barr, G.; Barrow, D.; Bates, P.; Batkiewicz-Kwasniak, M.; Berardi, V.; Berns, L.; Bhadra, S.; Blanchet, A.; Blondel, A.; Bolognesi, S.; Bordoni, S.; Boyd, S. B.; Bravar, A.; Bronner, C.; Bubak, A.; Buizza Avanzini, M.; Caballero, J. A.; Calabria, N. F.; Cao, S.; Carabadjac, D.; Carter, A. J.; Cartwright, S. L.; Casado, M. P.; Catanesi, M. G.; Cervera, A.; Chakrani, J.; Chalumeau, A.; Cherdack, D.; Chong, P. S.; Chvirova, A.; Cicerchia, M.; Coleman, J.; Collazuol, G.; Cook, L.; Cormier, F.; Cudd, A.; D'Ago, D.; Dalmazzone, C.; Daret, T.; Dasgupta, P.; Davis, C.; Davydov, Yu. I.; De Roeck, A.; De Rosa, G.; Dealtry, T.; Delogu, C. C.; Densham, C.; Dergacheva, A.; Dharmapal, R.; Di Lodovico, F.; Diaz Lopez, G.; Dolan, S.; Douqa, D.; Doyle, T. A.; Drapier, O.; Duffy, K. E.; Dumarchez, J.; Dunne, P.; Dygnarowicz, K.; Eguchi, A.; Elias, J.; Emery-Schrenk, S.; Erofeev, G.; Ershova, A.; Eurin, G.; Fedorova, D.; Fedotov, S.; Feltre, M.; Feng, L.; Ferlewicz, D.; Finch, A. J.; Fiorentini Aguirre, G. A.; Fiorillo, G.; Fitton, M. D.; Franco Patiño, J. M.; Friend, M.; Fujii, Y.; Fukuda, Y.; Furui, Y.; Giannessi, L.; Giganti, C.; Glagolev, V.; Gonin, M.; González Rosa, J.; Goodman, E. A. G.; Gorin, A.; Gorshanov, K.; Grassi, M.; Guigue, M.; Hadley, D. R.; Haigh, J. T.; Han, S.; Harris, D. A.; Hartz, M.; Hasegawa, T.; Hassani, S.; Hastings, N. C.; Hayato, Y.; Heitkamp, I.; Henaff, D.; Hino, Y.; Hogan, M.; Holeczek, J.; Holin, A.; Holvey, T.; Hong Van, N. T.; Honjo, T.; Hosokawa, K.; Hu, J.; Ichikawa, A. K.; Ieki, K.; Ikeda, M.; Ishida, T.; Ishitsuka, M.; Izmaylov, A.; Jakkapu, M.; Jamieson, B.; Jenkins, S. J.; Jesús-Valls, C.; Jia, M.; Jiang, J. J.; Ji, J. Y.; Jonsson, P.; Joshi, S.; Jung, C. K.; Kabirnezhad, M.; Kaboth, A. C.; Kajita, T.; Kakuno, H.; Kameda, J.; Karpova, S.; Kasetti, S. P.; Kasturi, V. S.; Kataoka, Y.; Katori, T.; Kawamura, Y.; Kawaue, M.; Kearns, E.; Khabibullin, M.; Khotjantsev, A.; Kikawa, T.; King, S.; Kiseeva, V.; Kisiel, J.; Kneale, L.; Kobayashi, H.; Kobayashi, T.; Koch, L.; Kodama, S.; Kolupanova, M.; Konaka, A.; Kormos, L. L.; Koshio, Y.; Koto, T.; Kowalik, K.; Kudenko, Y.; Kudo, Y.; Kuribayashi, S.; Kurjata, R.; Kurochka, V.; Kutter, T.; Kuze, M.; La Commara, M.; Labarga, L.; Lachat, M.; Lachner, K.; Lagoda, J.; Lakshmi, S. M.; Lamers James, M.; Langella, A.; Laporte, J. -F.; Last, D.; Latham, N.; Laveder, M.; Lavitola, L.; Lawe, M.; Lee, Y.; Leon Silverio, D.; Levorato, S.; Lewis, S.; Lin, C.; Litchfield, R. P.; Liu, S. L.; Li, W.; Longhin, A.; Long, K. R.; Lopez Moreno, A.; Ludovici, L.; Lu, X.; Lux, T.; Machado, L. N.; Magaletti, L.; Mahn, K.; Mahtani, K. K.; Malek, M.; Mandal, M.; Manly, S.; Marino, A. D.; Marti-Magro, L.; Martin, D. G. R.; Martini, M.; Martin, J. F.; Maruyama, T.; Matsubara, T.; Matsumoto, R.; Matveev, V.; Mauger, C.; Mavrokoridis, K.; Mazzucato, E.; Mccauley, N.; Mcfarland, K. S.; Mcgrew, C.; Mckean, J.; Mefodiev, A.; Megias, G. D.; Mehta, P.; Mellet, L.; Metelko, C.; Mezzetto, M.; Miki, S.; Miller, E.; Minamino, A.; Mineev, O.; Mine, S.; Mirabito, J.; Miura, M.; Molina Bueno, L.; Moriyama, S.; Moriyama, S.; Morrison, P.; Mueller, Th. A.; Munford, D.; Muñoz, A.; Munteanu, L.; Nagai, K.; Nagai, Y.; Nakadaira, T.; Nakagiri, K.; Nakahata, M.; Nakajima, Y.; Nakamura, A.; Nakamura, K.; Nakamura, K. D.; Nakano, Y.; Nakayama, S.; Nakaya, T.; Nakayoshi, K.; Naseby, C. E. R.; Ngoc, T. V.; Nguyen, D. T.; Nguyen, V. Q.; Niewczas, K.; Nishimori, S.; Nishimura, Y.; Noguchi, Y.; Nosek, T.; Nova, F.; Novella, P.; Nugent, J. C.; O'Keeffe, H. M.; O'Sullivan, L.; Odagawa, T.; Okazaki, R.; Okinaga, W.; Okumura, K.; Okusawa, T.; Onda, N.; Ospina, N.; Osu, L.; Oyama, Y.; Palladino, V.; Paolone, V.; Pari, M.; Parlone, J.; Pasternak, J.; Payne, D.; Penn, G. C.; Pershey, D.; Pfaff, M.; Pickering, L.; Pintaudi, G.; Pistillo, C.; Popov, B.; Portocarrero Yrey, A. J.; Porwit, K.; Posiadala-Zezula, M.; Prabhu, Y. S.; Prasad, H.; Pupilli, F.; Quilain, B.; Quyen, P. T.; Radermacher, T.; Radicioni, E.; Radics, B.; Ramirez, M. A.; Ratoff, P. N.; Reh, M.; Riccio, C.; Rondio, E.; Roth, S.; Roy, N.; Rubbia, A.; Russo, L.; Rychter, A.; Saenz, W.; Sakashita, K.; Sánchez, F.; Sato, Y.; Schefke, T.; Schloesser, C. M.; Scholberg, K.; Scott, M.; Seiya, Y.; Sekiguchi, T.; Sekiya, H.; Sgalaberna, D.; Shaikhiev, A.; Shiozawa, M.; Shiraishi, Y.; Shvartsman, A.; Skrobova, N.; Skwarczynski, K.; Smyczek, D.; Smy, M.; Sobczyk, J. T.; Sobel, H.; Soler, F. J. P.; Speers, A. J.; Spina, R.; Stroke, Y.; Suslov, I. A.; Suvorov, S.; Suzuki, A.; Suzuki, S. Y.; Suzuki, Y.; Tada, M.; Tairafune, S.; Takeda, A.; Takeuchi, Y.; Takifuji, K.; Tanaka, H. K.; Tanigawa, H.; Teklu, A.; Tereshchenko, V. V.; Thamm, N.; Thompson, L. F.; Toki, W.; Touramanis, C.; Tsukamoto, T.; Tzanov, M.; Uchida, Y.; Vagins, M.; Vargas, D.; Varghese, M.; Vasseur, G.; Villa, E.; Vinning, W. G. S.; Virginet, U.; Vladisavljevic, T.; Wachala, T.; Wakabayashi, D.; Wallace, H. T.; Walsh, J. G.; Wang, Y.; Wan, L.; Wark, D.; Wascko, M. O.; Weber, A.; Wendell, R.; Wilking, M. J.; Wilkinson, C.; Wilson, J. R.; Wood, K.; Wret, C.; Xia, J.; Xu, Y. -h.; Yamamoto, K.; Yamamoto, T.; Yanagisawa, C.; Yang, G.; Yano, T.; Yasutome, K.; Yershov, N.; Yevarouskaya, U.; Yokoyama, M.; Yoshimoto, Y.; Yoshimura, N.; Yu, M.; Zaki, R.; Zalewska, A.; Zalipska, J.; Zaremba, K.; Zarnecki, G.; Zhang, J.; Zhao, X. Y.; Zhong, H.; Zhu, T.; Ziembicki, M.; Zimmerman, E. D.; Zito, M.; Zsoldos, S.; Null, Null; Null, Null. - In: PHYSICAL REVIEW LETTERS. - ISSN 0031-9007. - ELETTRONICO. - 134:1(2025). [10.1103/physrevlett.134.011801]
First Joint Oscillation Analysis of Super-Kamiokande Atmospheric and T2K Accelerator Neutrino Data
Abe, K.;Abe, S.;Bronner, C.;Hayato, Y.;Hiraide, K.;Hosokawa, K.;Ieki, K.;Ikeda, M.;Kameda, J.;Kanemura, Y.;Kaneshima, R.;Kashiwagi, Y.;Kataoka, Y.;Miki, S.;Mine, S.;Miura, M.;Moriyama, S.;Nakahata, M.;Nakano, Y.;Nakayama, S.;Noguchi, Y.;Sato, K.;Sekiya, H.;Shiba, H.;Shimizu, K.;Shiozawa, M.;Sonoda, Y.;Suzuki, Y.;Takeda, A.;Takemoto, Y.;Tanaka, H.;Yano, T.;Han, S.;Kajita, T.;Okumura, K.;Tashiro, T.;Tomiya, T.;Wang, X.;Yoshida, S.;Fernandez, P.;Labarga, L.;Ospina, N.;Zaldivar, B.;Pointon, B. W.;Kearns, E.;Mirabito, J.;Raaf, J. L.;Wan, L.;Wester, T.;Bian, J.;Griskevich, N. J.;Smy, M. B.;Sobel, H. W.;Takhistov, V.;Yankelevich, A.;Hill, J.;Jang, M. C.;Lee, S. H.;Moon, D. H.;Park, R. G.;Bodur, B.;Scholberg, K.;Walter, C. W.;Beauchêne, A.;Drapier, O.;Giampaolo, A.;Mueller, Th. A.;Santos, A. D.;Paganini, P.;Quilain, B.;Rogly, R.;Nakamura, T.;Jang, J. S.;Machado, L. N.;Learned, J. G.;Choi, K.;Iovine, N.;Cao, S.;Anthony, L. H. V.;Martin, D.;Prouse, N. W.;Scott, M.;Uchida, Y.;Berardi, V.;Calabria, N. F.;Catanesi, M. G.;Radicioni, E.;Langella, A.;De Rosa, G.;Collazuol, G.;Feltre, M.;Iacob, F.;Mattiazzi, M.;Ludovici, L.;Gonin, M.;Périssé, L.;Pronost, G.;Fujisawa, C.;Horiuchi, S.;Kobayashi, M.;Liu, Y. M.;Maekawa, Y.;Nishimura, Y.;Okazaki, R.;Akutsu, R.;Friend, M.;Hasegawa, T.;Ishida, T.;Kobayashi, T.;Jakkapu, M.;Matsubara, T.;Nakadaira, T.;Nakamura, K.;Oyama, Y.;Portocarrero Yrey, A.;Sakashita, K.;Sekiguchi, T.;Tsukamoto, T.;Bhuiyan, N.;Burton, G. T.;Di Lodovico, F.;Gao, J.;Goldsack, A.;Katori, T.;Migenda, J.;Ramsden, R. M.;Xie, Z.;Zsoldos, S.;Suzuki, A. T.;Takagi, Y.;Takeuchi, Y.;Zhong, H.;Feng, J.;Feng, L.;Hu, J. R.;Hu, Z.;Kawaue, M.;Kikawa, T.;Mori, M.;Nakaya, T.;Wendell, R. A.;Yasutome, K.;Jenkins, S. J.;McCauley, N.;Mehta, P.;Tarrant, A.;Wilking, M. J.;Fukuda, Y.;Itow, Y.;Menjo, H.;Ninomiya, K.;Yoshioka, Y.;Lagoda, J.;Mandal, M.;Mijakowski, P.;Prabhu, Y. S.;Zalipska, J.;Jia, M.;Jiang, J.;Shi, W.;Yanagisawa, C.;Harada, M.;Hino, Y.;Ishino, H.;Koshio, Y.;Nakanishi, F.;Sakai, S.;Tada, T.;Tano, T.;Ishizuka, T.;Barr, G.;Barrow, D.;Cook, L.;Samani, S.;Wark, D.;Holin, A.;Nova, F.;Jung, S.;Yang, B. S.;Yang, J. Y.;Yoo, J.;Fannon, J. E. P.;Kneale, L.;Malek, M.;McElwee, J. M.;Thiesse, M. D.;Thompson, L. F.;Wilson, S. T.;Okazawa, H.;Lakshmi, S. M.;Kim, S. B.;Kwon, E.;Seo, J. W.;Yu, I.;Ichikawa, A. K.;Nakamura, K. D.;Tairafune, S.;Nishijima, K.;Eguchi, A.;Nakagiri, K.;Nakajima, Y.;Shima, S.;Taniuchi, N.;Watanabe, E.;Yokoyama, M.;de Perio, P.;Fujita, S.;Jesús-Valls, C.;Martens, K.;Tsui, K. M.;Vagins, M. R.;Xia, J.;Izumiyama, S.;Kuze, M.;Matsumoto, R.;Terada, K.;Asaka, R.;Ishitsuka, M.;Ito, H.;Ommura, Y.;Shigeta, N.;Shinoki, M.;Yamauchi, K.;Yoshida, T.;Gaur, R.;Gousy-Leblanc, V.;Hartz, M.;Konaka, A.;Li, X.;Chen, S.;Xu, B. D.;Wu, Y.;Zhang, A. Q.;Zhang, B.;Posiadala-Zezula, M.;Boyd, S. B.;Edwards, R.;Hadley, D.;Nicholson, M.;O'Flaherty, M.;Richards, B.;Ali, A.;Jamieson, B.;Amanai, S.;Marti, Ll.;Minamino, A.;Shibayama, R.;Shimamura, R.;Suzuki, S.;Abe, K.;Abe, S.;Akhlaq, N.;Akutsu, R.;Alarakia-Charles, H.;Ali, A.;Alj Hakim, Y. I.;Alonso Monsalve, S.;Andreopoulos, C.;Anthony, L.;Antonova, M.;Aoki, S.;Apte, K. A.;Arai, T.;Arihara, T.;Arimoto, S.;Asada, Y.;Ashida, Y.;Atkin, E. T.;Babu, N.;Barbi, M.;Barker, G. J.;Barr, G.;Barrow, D.;Bates, P.;Batkiewicz-Kwasniak, M.;Berardi, V.;Berns, L.;Bhadra, S.;Blanchet, A.;Blondel, A.;Bolognesi, S.;Bordoni, S.;Boyd, S. B.;Bravar, A.;Bronner, C.;Bubak, A.;Buizza Avanzini, M.;Caballero, J. A.;Calabria, N. F.;Cao, S.;Carabadjac, D.;Carter, A. J.;Cartwright, S. L.;Casado, M. P.;Catanesi, M. G.;Cervera, A.;Chakrani, J.;Chalumeau, A.;Cherdack, D.;Chong, P. S.;Chvirova, A.;Cicerchia, M.;Coleman, J.;Collazuol, G.;Cook, L.;Cormier, F.;Cudd, A.;D'ago, D.;Dalmazzone, C.;Daret, T.;Dasgupta, P.;Davis, C.;Davydov, Yu. I.;De Roeck, A.;De Rosa, G.;Dealtry, T.;Delogu, C. C.;Densham, C.;Dergacheva, A.;Dharmapal, R.;Di Lodovico, F.;Diaz Lopez, G.;Dolan, S.;Douqa, D.;Doyle, T. A.;Drapier, O.;Duffy, K. E.;Dumarchez, J.;Dunne, P.;Dygnarowicz, K.;Eguchi, A.;Elias, J.;Emery-Schrenk, S.;Erofeev, G.;Ershova, A.;Eurin, G.;Fedorova, D.;Fedotov, S.;Feltre, M.;Feng, L.;Ferlewicz, D.;Finch, A. J.;Fiorentini Aguirre, G. A.;Fiorillo, G.;Fitton, M. D.;Franco Patiño, J. M.;Friend, M.;Fujii, Y.;Fukuda, Y.;Furui, Y.;Giannessi, L.;Giganti, C.;Glagolev, V.;Gonin, M.;González Rosa, J.;Goodman, E. A. G.;Gorin, A.;Gorshanov, K.;Grassi, M.;Guigue, M.;Hadley, D. R.;Haigh, J. T.;Han, S.;Harris, D. A.;Hartz, M.;Hasegawa, T.;Hassani, S.;Hastings, N. C.;Hayato, Y.;Heitkamp, I.;Henaff, D.;Hino, Y.;Hogan, M.;Holeczek, J.;Holin, A.;Holvey, T.;Hong Van, N. T.;Honjo, T.;Hosokawa, K.;Hu, J.;Ichikawa, A. K.;Ieki, K.;Ikeda, M.;Ishida, T.;Ishitsuka, M.;Izmaylov, A.;Jakkapu, M.;Jamieson, B.;Jenkins, S. J.;Jesús-Valls, C.;Jia, M.;Jiang, J. J.;Ji, J. Y.;Jonsson, P.;Joshi, S.;Jung, C. K.;Kabirnezhad, M.;Kaboth, A. C.;Kajita, T.;Kakuno, H.;Kameda, J.;Karpova, S.;Kasetti, S. P.;Kasturi, V. S.;Kataoka, Y.;Katori, T.;Kawamura, Y.;Kawaue, M.;Kearns, E.;Khabibullin, M.;Khotjantsev, A.;Kikawa, T.;King, S.;Kiseeva, V.;Kisiel, J.;Kneale, L.;Kobayashi, H.;Kobayashi, T.;Koch, L.;Kodama, S.;Kolupanova, M.;Konaka, A.;Kormos, L. L.;Koshio, Y.;Koto, T.;Kowalik, K.;Kudenko, Y.;Kudo, Y.;Kuribayashi, S.;Kurjata, R.;Kurochka, V.;Kutter, T.;Kuze, M.;La Commara, M.;Labarga, L.;Lachat, M.;Lachner, K.;Lagoda, J.;Lakshmi, S. M.;Lamers James, M.;Langella, A.;Laporte, J. -F.;Last, D.;Latham, N.;Laveder, M.;Lavitola, L.;Lawe, M.;Lee, Y.;Leon Silverio, D.;Levorato, S.;Lewis, S.;Lin, C.;Litchfield, R. P.;Liu, S. L.;Li, W.;Longhin, A.;Long, K. R.;Lopez Moreno, A.;Ludovici, L.;Lu, X.;Lux, T.;Machado, L. N.;Magaletti, L.;Mahn, K.;Mahtani, K. K.;Malek, M.;Mandal, M.;Manly, S.;Marino, A. D.;Marti-Magro, L.;Martin, D. G. R.;Martini, M.;Martin, J. F.;Maruyama, T.;Matsubara, T.;Matsumoto, R.;Matveev, V.;Mauger, C.;Mavrokoridis, K.;Mazzucato, E.;McCauley, N.;McFarland, K. S.;McGrew, C.;McKean, J.;Mefodiev, A.;Megias, G. D.;Mehta, P.;Mellet, L.;Metelko, C.;Mezzetto, M.;Miki, S.;Miller, E.;Minamino, A.;Mineev, O.;Mine, S.;Mirabito, J.;Miura, M.;Molina Bueno, L.;Moriyama, S.;Moriyama, S.;Morrison, P.;Mueller, Th. A.;Munford, D.;Muñoz, A.;Munteanu, L.;Nagai, K.;Nagai, Y.;Nakadaira, T.;Nakagiri, K.;Nakahata, M.;Nakajima, Y.;Nakamura, A.;Nakamura, K.;Nakamura, K. D.;Nakano, Y.;Nakayama, S.;Nakaya, T.;Nakayoshi, K.;Naseby, C. E. R.;Ngoc, T. V.;Nguyen, D. T.;Nguyen, V. Q.;Niewczas, K.;Nishimori, S.;Nishimura, Y.;Noguchi, Y.;Nosek, T.;Nova, F.;Novella, P.;Nugent, J. C.;O'Keeffe, H. M.;O'Sullivan, L.;Odagawa, T.;Okazaki, R.;Okinaga, W.;Okumura, K.;Okusawa, T.;Onda, N.;Ospina, N.;Osu, L.;Oyama, Y.;Palladino, V.;Paolone, V.;Pari, M.;Parlone, J.;Pasternak, J.;Payne, D.;Penn, G. C.;Pershey, D.;Pfaff, M.;Pickering, L.;Pintaudi, G.;Pistillo, C.;Popov, B.;Portocarrero Yrey, A. J.;Porwit, K.;Posiadala-Zezula, M.;Prabhu, Y. S.;Prasad, H.;Pupilli, F.;Quilain, B.;Quyen, P. T.;Radermacher, T.;Radicioni, E.;Radics, B.;Ramirez, M. A.;Ratoff, P. N.;Reh, M.;Riccio, C.;Rondio, E.;Roth, S.;Roy, N.;Rubbia, A.;Russo, L.;Rychter, A.;Saenz, W.;Sakashita, K.;Sánchez, F.;Sato, Y.;Schefke, T.;Schloesser, C. M.;Scholberg, K.;Scott, M.;Seiya, Y.;Sekiguchi, T.;Sekiya, H.;Sgalaberna, D.;Shaikhiev, A.;Shiozawa, M.;Shiraishi, Y.;Shvartsman, A.;Skrobova, N.;Skwarczynski, K.;Smyczek, D.;Smy, M.;Sobczyk, J. T.;Sobel, H.;Soler, F. J. P.;Speers, A. J.;Spina, R.;Stroke, Y.;Suslov, I. A.;Suvorov, S.;Suzuki, A.;Suzuki, S. Y.;Suzuki, Y.;Tada, M.;Tairafune, S.;Takeda, A.;Takeuchi, Y.;Takifuji, K.;Tanaka, H. K.;Tanigawa, H.;Teklu, A.;Tereshchenko, V. V.;Thamm, N.;Thompson, L. F.;Toki, W.;Touramanis, C.;Tsukamoto, T.;Tzanov, M.;Uchida, Y.;Vagins, M.;Vargas, D.;Varghese, M.;Vasseur, G.;Villa, E.;Vinning, W. G. S.;Virginet, U.;Vladisavljevic, T.;Wachala, T.;Wakabayashi, D.;Wallace, H. T.;Walsh, J. G.;Wang, Y.;Wan, L.;Wark, D.;Wascko, M. O.;Weber, A.;Wendell, R.;Wilking, M. J.;Wilkinson, C.;Wilson, J. R.;Wood, K.;Wret, C.;Xia, J.;Xu, Y. -h.;Yamamoto, K.;Yamamoto, T.;Yanagisawa, C.;Yang, G.;Yano, T.;Yasutome, K.;Yershov, N.;Yevarouskaya, U.;Yokoyama, M.;Yoshimoto, Y.;Yoshimura, N.;Yu, M.;Zaki, R.;Zalewska, A.;Zalipska, J.;Zaremba, K.;Zarnecki, G.;Zhang, J.;Zhao, X. Y.;Zhong, H.;Zhu, T.;Ziembicki, M.;Zimmerman, E. D.;Zito, M.;Zsoldos, S.;null, null;null, null
2025
Abstract
The Super-Kamiokande and T2K Collaborations present a joint measurement of neutrino oscillation parameters from their atmospheric and beam neutrino data. It uses a common interaction model for events overlapping in neutrino energy and correlated detector systematic uncertainties between the two datasets, which are found to be compatible. Using 3244.4 days of atmospheric data and a beam exposure of 19.7 (16.3) × 10^20 protons on target in (anti)neutrino mode, the analysis finds a 1.9σ exclusion of CP conservation (defined as J_CP = 0) and a 1.2σ exclusion of the inverted mass ordering.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11589/286886
Citazioni
4
3
social impact
Conferma cancellazione
Sei sicuro che questo prodotto debba essere cancellato?
simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.