Attenzione: i dati modificati non sono ancora stati salvati. Per confermare inserimenti o cancellazioni di voci è necessario confermare con il tasto SALVA/INSERISCI in fondo alla pagina
POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca
In a sample of 1.5 million hadronic decays of the Z collected by the ALEPH detector, a search is carried out for the decays (B) over bar --> D-1(0)(2420)l(-)<(nu)over bar>X and (B) over bar --> D-2(*0)(2460)l(-)<(nu)over bar>X. The product branching ratio for D-1(0) production is measured to be Br(b --> (B) over bar) x Br((B) over bar --> D(1)(0)l(-)<(nu)over bar>X) x Br(D-1(0) --> D-*+<pi(-)) = (2.04 +/- 0.58(stat)+/- 0.34(syst) x 10 (-3), and a 95% confidence level limit of Br(b --> (B) over bar) x Br((B) over bar --> D(2)(*0)l(-)<(nu)over bar>X) x Br(D-2(*0) --> D(*+)pi(-)) less than or equal to less than or equal to 0.81 X 10(-3) is obtained for D-2(*0) production. A topological search sensitive to the processes above, but also to wide resonances that decay to D(*+)pi(-) and to non-resonant D(*+)pi(-) production is also carried out, yielding Br(b--> (B) over bar B) xBr((B) over bar -->D(*+)pi(-) l(-)<(nu)over bar>X>)= (3.7 +/- 1.0(stat) +/- 0.7(syst)) x 10(-3). Direct evidence of D(*)pi production inconsistent with D-1(0) and D-2(*0) in semileptonic B decay is presented.
A study of production in semileptonic B decay / Buskulic, D., Casper, D., de Bonis, I., Decamp, D., Ghez, P., Goy, C., Lees, J.-P., Minard, M.-N., Odier, P., Pietrzyk, B., Ariztizabal, F., Chmeissani, M., Crespo, J.M., Efthymiopoulos, I., Fernandez, E., Fernandez-Bosman, M., Gaitan, V., Garrido, L.l., Martinez, M., Orteu, S., et al.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - STAMPA. - 345:1(1995), pp. 103-114. [10.1016/0370-2693(94)01585-Z]
A study of production in semileptonic B decay
Buskulic, D.;Casper, D.;de Bonis, I.;Decamp, D.;Ghez, P.;Goy, C.;Lees, J. -P.;Minard, M. -N.;Odier, P.;Pietrzyk, B.;Ariztizabal, F.;Chmeissani, M.;Crespo, J. M.;Efthymiopoulos, I.;Fernandez, E.;Fernandez-Bosman, M.;Gaitan, V.;Garrido, Ll;Martinez, M.;Orteu, S.;Pacheco, A.;Padilla, C.;Palla, F.;Pascual, A.;Perlas, J. A.;Sanchez, F.;Teubert, F.;Creanza, D.;de Palma, M.;Farilla, A.;Iaselli, G.;Maggi, G.;Marinelli, N.;Natali, S.;Nuzzo, S.;Ranieri, A.;Raso, G.;Romano, F.;Ruggieri, F.;Selvaggi, G.;Silvestris, L.;Tempesta, P.;Zito, G.;Huang, X.;Lin, J.;Ouyang, Q.;Wang, T.;Xie, Y.;Xu, R.;Xue, S.;Zhang, J.;Zhang, L.;Zhao, W.;Bonvicini, G.;Cattaneo, M.;Comas, P.;Coyle, P.;Drevermann, H.;Engelhardt, A.;Forty, R. W.;Frank, M.;Ganis, G.;Girone, M.;Hagelberg, R.;Harvey, J.;Jacobsen, R.;Jost, B.;Knobloch, J.;Lehraus, I.;Maggi, M.;Markou, C.;Martin, E. B.;Mato, P.;Meinhard, H.;Minten, A.;Miquel, R.;Palazzi, P.;Pater, J. R.;Perrodo, P.;Pusztaszeri, J. -F.;Ranjard, F.;Rolandi, L.;Schlatter, D.;Schmelling, M.;Tejessy, W.;Tomalin, I. R.;Veenhof, R.;Venturi, A.;Wachsmuth, H.;Wiedenmann, W.;Wildish, T.;Witzeling, W.;Wotschack, J.;Ajaltouni, Z.;Bardadin-Otwinowska, M.;Barres, A.;Boyer, C.;Falvard, A.;Gay, P.;Guicheney, C.;Henrard, P.;Jousset, J.;Michel, B.;Monteil, S.;Montret, J. -C.;Pallin, D.;Perret, P.;Podlyski, F.;Proriol, J.;Rossignol, J. -M.;Saadi, F.;Fearnley, T.;Hansen, J. B.;Hansen, J. D.;Hansen, J. R.;Hansen, P. H.;Johnson, S. D.;Nilsson, B. S.;Kyriakis, A.;Simopoulou, E.;Siotis, I.;Vayaki, A.;Zachariadou, K.;Blondel, A.;Bonneaud, G.;Brient, J. C.;Bourdon, P.;Passalacqua, L.;Rougé, A.;Rumpf, M.;Tanaka, R.;Valassi, A.;Verderi, M.;Videau, H.;Candlin, D. J.;Parsons, M. I.;Veitch, E.;Focardi, E.;Parrini, G.;Corden, M.;Delfino, M.;Georgiopoulos, C.;Jaffe, D. E.;Antonelli, A.;Bencivenni, G.;Bologna, G.;Bossi, F.;Campana, P.;Capon, G.;Cerutti, F.;Chiarella, V.;Felici, G.;Laurelli, P.;Mannocchi, G.;Murtas, F.;Murtas, G. P.;Pepe-Altarelli, M.;Salomone, S.;Colrain, P.;Ten Have, I.;Knowles, I. G.;Lynch, J. G.;Maitland, W.;Morton, W. T.;Raine, C.;Reeves, P.;Scarr, J. M.;Smith, K.;Smith, M. G.;Thompson, A. S.;Thorn, S.;Turnbull, R. M.;Becker, U.;Braun, O.;Geweniger, C.;Graefe, G.;Hanke, P.;Hepp, V.;Kluge, E. E.;Putzer, A.;Rensch, B.;Schmidt, M.;Sommer, J.;Stenzel, H.;Tittel, K.;Wunsch, M.;Beuselinck, R.;Binnie, D. M.;Cameron, W.;Colling, D. J.;Dorman, P. J.;Konstantinidis, N.;Moneta, L.;Moutoussi, A.;Nash, J.;San Martin, G.;Sedgbeer, J. K.;Stacey, A. M.;Dissertori, G.;Girtler, P.;Kneringer, E.;Kuhn, D.;Rudolph, G.;Bowdery, C. K.;Brodbeck, T. J.;Finch, A. J.;Foster, F.;Hughes, G.;Jackson, D.;Keemer, N. R.;Nuttall, M.;Patel, A.;Sloan, T.;Snow, S. W.;Whelan, E. P.;Galla, A.;Greene, A. M.;Kleinknecht, K.;Raab, J.;Renk, B.;Sander, H. -G.;Schmidt, H.;Walther, S. M.;Wanke, R.;Wolf, B.;Aubert, J. J.;Bencheikh, A. M.;Benchouk, C.;Bonissent, A.;Bujosa, G.;Calvet, D.;Carr, J.;Diaconu, C.;Etienne, F.;Thulasidas, M.;Nicod, D.;Payre, P.;Rousseau, D.;Talby, M.;Abt, I.;Assmann, R.;Bauer, C.;Blum, W.;Brown, D.;Dietl, H.;Dydak, F.;Gotzhein, C.;Halley, A. W.;Jakobs, K.;Kroha, H.;Lütjens, G.;Lutz, G.;Männer, W.;Moser, H. -G.;Richter, R.;Rosado-Schlosser, A.;Schwarz, A. S.;Settles, R.;Seywerd, H.;Stierlin, U.;Denis, R. St;Wolf, G.;Alemany, R.;Boucrot, J.;Callot, O.;Cordier, A.;Courault, F.;Davier, M.;Duflot, L.;Grivaz, J. -F.;Heusse, Ph;Jacquet, M.;Janot, P.;Kim, D. W.;Le Diberder, F.;Lefrançois, J.;Lutz, A. -M.;Musolino, G.;Nikolic, I.;Park, H. J.;Park, I. C.;Schune, M. -H.;Simion, S.;Veillet, J. -J.;Videau, I.;Abbaneo, D.;Bagliesi, G.;Batignani, G.;Bettarini, S.;Bottigli, U.;Bozzi, C.;Calderini, G.;Carpinelli, M.;Ciocci, M. A.;Ciulli, V.;Dell'Orso, R.;Ferrante, I.;Fidecaro, F.;Foà, L.;Forti, F.;Giassi, A.;Giorgi, M. A.;Gregorio, A.;Ligabue, F.;Lusiani, A.;Marrocchesi, P. S.;Messineo, A.;Rizzo, G.;Sanguinetti, G.;Sciabà, A.;Spagnolo, P.;Steinberger, J.;Tenchini, R.;Tonelli, G.;Triggiani, G.;Vannini, C.;Verdini, P. G.;Walsh, J.;Betteridge, A. P.;Blair, G. A.;Bryant, L. M.;Gao, Y.;Green, M. G.;Johnson, D. L.;Medcalf, T.;Mir, Ll. M.;Strong, J. A.;Bertin, V.;Botterill, D. R.;Clifft, R. W.;Edgecock, T. R.;Haywood, S.;Edwards, M.;Maley, P.;Norton, P. R.;Thompson, J. C.;Bloch-Devaux, B.;Colas, P.;Duarte, H.;Emery, S.;Kozanecki, W.;Lançon, E.;Lemaire, M. C.;Locci, E.;Marx, B.;Perez, P.;Rander, J.;Renardy, J. -F.;Rosowsky, A.;Roussarie, A.;Schuller, J. -P.;Schwindling, J.;Si Mohand, D.;Trabelsi, A.;Vallage, B.;Johnson, R. P.;Litke, A. M.;Taylor, G.;Wear, J.;Beddall, A.;Booth, C. N.;Boswell, R.;Cartwright, S.;Combley, F.;Dawson, I.;Koksal, A.;Letho, M.;Newton, W. M.;Rankin, C.;Thompson, L. F.;Böhrer, A.;Brandt, S.;Cowan, G.;Feigl, E.;Grupen, C.;Lutters, G.;Minguet-Rodriguez, J.;Rivera, F.;Saraiva, P.;Schäfer, U.;Smolik, L.;Bosisio, L.;Della Marina, R.;Giannini, G.;Gobbo, B.;Pitis, L.;Ragusa, F.;Kim, H.;Rothberg, J.;Wasserbaech, S.;Armstrong, S. R.;Bellantoni, L.;Elmer, P.;Feng, Z.;Ferguson, D. P. S.;Gao, Y. S.;González, S.;Grahl, J.;Harton, J. L.;Hayes, O. J.;Hu, H.;McNamara, P. A.;Nachtman, J. M.;Orejudos, W.;Pan, Y. B.;Saadi, Y.;Schmitt, M.;Scott, I. J.;Sharma, V.;Turk, J. D.;Walsh, A. M.;Weber, F. V.;Wu, Sau Lan;Wu, X.;Yamartino, J. M.;Zheng, M.;Zobernig, G.
1995
Abstract
In a sample of 1.5 million hadronic decays of the Z collected by the ALEPH detector, a search is carried out for the decays (B) over bar --> D-1(0)(2420)l(-)<(nu)over bar>X and (B) over bar --> D-2(*0)(2460)l(-)<(nu)over bar>X. The product branching ratio for D-1(0) production is measured to be Br(b --> (B) over bar) x Br((B) over bar --> D(1)(0)l(-)<(nu)over bar>X) x Br(D-1(0) --> D-*+ (B) over bar) x Br((B) over bar --> D(2)(*0)l(-)<(nu)over bar>X) x Br(D-2(*0) --> D(*+)pi(-)) less than or equal to less than or equal to 0.81 X 10(-3) is obtained for D-2(*0) production. A topological search sensitive to the processes above, but also to wide resonances that decay to D(*+)pi(-) and to non-resonant D(*+)pi(-) production is also carried out, yielding Br(b--> (B) over bar B) xBr((B) over bar -->D(*+)pi(-) l(-)<(nu)over bar>X>)= (3.7 +/- 1.0(stat) +/- 0.7(syst)) x 10(-3). Direct evidence of D(*)pi production inconsistent with D-1(0) and D-2(*0) in semileptonic B decay is presented.
A study of production in semileptonic B decay / Buskulic, D., Casper, D., de Bonis, I., Decamp, D., Ghez, P., Goy, C., Lees, J.-P., Minard, M.-N., Odier, P., Pietrzyk, B., Ariztizabal, F., Chmeissani, M., Crespo, J.M., Efthymiopoulos, I., Fernandez, E., Fernandez-Bosman, M., Gaitan, V., Garrido, L.l., Martinez, M., Orteu, S., et al.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - STAMPA. - 345:1(1995), pp. 103-114. [10.1016/0370-2693(94)01585-Z]
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11589/3481
Citazioni
35
21
social impact
Conferma cancellazione
Sei sicuro che questo prodotto debba essere cancellato?
simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
