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From a sample of about 75000 tau decays identified with the ALEPH detector, K0 production in 1-prong hadronic decays is investigated by tagging the K(L)0 component in a hadronic calorimeter. Results are given for the final states nu(tau)h-K0 and nu(tau)h-pi0K0 where the h- is separated into pi and K contributions by means of the dE/dx measurement in the central detector. The resulting branching ratios are: (B(tau) --> nu(tau)pi-K0) = (0.88 +/- 0.14 +/- 0.09)%, (B(tau) --> nu(tau)K-K0) = (0.29 +/- 0.12 +/- 0.03)%, (Btau --> nu(tau)pi-pi0K0) = (0.33 +/- 0.14 +/- 0.07)% and (B(tau) --> nu(tau)K-pi0K0) = (0.05 +/- 0.05 +/- 0.01)%. The K* decay rate in the K0pi channel agrees with that in the Kpi0 mode: the combined value for the branching ratio is (Btau --> nu(tau)K*-) = (1.45 +/- 0.13 +/- 0.11)%.
K0 production in one-prong τ decays / Buskulic, D.; Casper, D.; de Bonis, I.; Decamp, D.; Ghez, P.; Goy, C.; Lees, J. -P.; Minard, M. -N.; Odier, P.; Pietrzyk, B.; Ariztizabal, F.; Chmeissani, M.; Crespo, J. M.; Efthymiopoulos, I.; Fernandez, E.; Fernandez-Bosman, M.; Gaitan, V.; Garrido, Ll.; Martinez, M.; Mattison, T.; Orteu, S.; Pacheco, A.; Padilla, C.; Pascual, A.; Teubert, F.; Creanza, D.; de Palma, M.; Farilla, A.; Iaselli, G.; Maggi, G.; Marinelli, N.; Natali, S.; Nuzzo, S.; Ranieri, A.; Raso, G.; Romano, F.; Ruggieri, F.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Chai, Y.; Huang, D.; Huang, X.; Lin, J.; Wang, T.; Xie, Y.; Xu, D.; Xu, R.; Zhang, J.; Zhang, L.; Zhao, W.; Blucher, E.; Bonvicini, G.; Boudreau, J.; Comas, P.; Coyle, P.; Drevermann, H.; Forty, R. W.; Ganis, G.; Gay, C.; Girone, M.; Hagelberg, R.; Harvey, J.; Jacobsen, R.; Jost, B.; Knobloch, J.; Lehraus, I.; Maggi, M.; Markou, C.; Mato, P.; Meinhard, H.; Minten, A.; Miquel, R.; Palazzi, P.; Pater, J. 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E.; Levinthal, D.; Antonelli, A.; Bencivenni, G.; Bologna, G.; Bossi, F.; Campana, P.; Capon, G.; Cerutti, F.; Chiarella, V.; Felici, G.; Laurelli, P.; Mannocchi, G.; Murtas, F.; Murtas, G. P.; Pepe-Altarelli, M.; Salomone, S.; Colrain, P.; Have, I. Ten; Knowles, I. G.; Lynch, J. G.; Maitland, W.; Morton, W. T.; Raine, C.; Reeves, P.; Scarr, J. M.; Smith, K.; Smith, M. G.; Thompson, A. S.; Thorn, S.; Turnbull, R. M.; Becker, U.; Braun, O.; Geweniger, C.; Hanke, P.; Hepp, V.; Kluge, E. E.; Putzer, A.; Rensch, B.; Schmidt, M.; Stenzel, H.; Tittel, K.; Wunsch, M.; Beuselinck, R.; Binnie, D. M.; Cameron, W.; Cattaneo, M.; Colling, D. J.; Dornan, P. J.; Hassard, J. F.; Konstantinidis, N.; Moutoussi, A.; Nash, J.; Payne, D. G.; San Martin, G.; Sedgbeer, J. K.; Wright, A. G.; Girtler, P.; Kuhn, D.; Rudolph, G.; Vogl, R.; Bowdery, C. K.; Brodbeck, T. J.; Finch, A. J.; Foster, F.; Hughes, G.; Jackson, D.; Keemer, N. R.; Nuttall, M.; Patel, A.; Sloan, T.; Snow, S. W.; Whelan, E. P.; Galla, A.; Greene, A. M.; Kleinknecht, K.; Raab, J.; Renk, B.; Sander, H. -G.; Schmidt, H.; Walther, S. M.; Wanke, R.; Wolf, B.; Bencheikh, A. M.; Benchouk, C.; Bonissent, A.; Calvet, D.; Carr, J.; Diaconu, C.; Etienne, F.; Nicod, D.; Payre, P.; Roos, L.; Rousseau, D.; Schwemling, P.; Talby, M.; Adlung, S.; Assmann, R.; Bauer, C.; Blum, W.; Brown, D.; Cattaneo, P.; Dehning, B.; Dietl, H.; Dydak, F.; Frank, M.; Halley, A. W.; Jakobs, K.; Kroha, H.; Lauber, J.; Lütjens, G.; Lutz, G.; Männer, W.; Moser, H. -G.; Richter, R.; Schröder, J.; Schwarz, A. S.; Settles, R.; Seywerd, H.; Stierlin, U.; Stiegler, U.; St. Denis, R.; Wolf, G.; Alemany, R.; Boucrot, J.; Callot, O.; Cordier, A.; Davier, M.; Duflot, L.; Grivaz, J. -F.; Heusse, Ph.; Janot, P.; Kim, D. W.; Le Diberder, F.; Lefrançois, J.; Lutz, A. -M.; Musolino, G.; Park, H. -J.; Schune, M. -H.; Veillet, J. -J.; Videau, I.; Abbaneo, D.; Bagliesi, G.; Batignani, G.; Bottigli, U.; Bozzi, C.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Ciocci, M. A.; Ciulli, V.; Dell'Orso, R.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Foà, L.; Forti, F.; Giassi, A.; Giorgi, M. A.; Gregorio, A.; Ligabue, F.; Lusiani, A.; Marrocchesi, P. S.; Martin, E. B.; Messineo, A.; Palla, F.; Rizzo, G.; Sanguinetti, G.; Spagnolo, P.; Steinberger, J.; Tenchini, R.; Tonelli, G.; Triggiani, G.; Valassi, A.; Vannini, C.; Venturi, A.; Verdini, P. G.; Walsh, J.; Betteridge, A. P.; Gao, Y.; Green, M. G.; Johnson, D. L.; March, P. V.; Medcalf, T.; Mir, Ll. M.; Quazi, I. S.; Strong, J. A.; Bertin, V.; Botterill, D. R.; Clifft, R. W.; Edgecock, T. R.; Haywood, S.; Edwards, M.; Norton, P. R.; Thompson, J. C.; Bloch-Devaux, B.; Colas, P.; Duarte, H.; Emery, S.; Kozanecki, W.; Lançon, E.; Lemaire, M. C.; Locci, E.; Marx, B.; Perez, P.; Rander, J.; Renardy, J. -F.; Rosowsky, A.; Roussarie, A.; Schuller, J. -P.; Schwindling, J.; Si Mohand, D.; Vallage, B.; Johnson, R. P.; Litke, A. M.; Taylor, G.; Wear, J.; Beddall, A.; Booth, C. N.; Cartwright, S.; Combley, F.; Dawson, I.; Koksal, A.; Rankin, C.; Thompson, L. F.; Böhler, A.; Brandt, S.; Cowan, G.; Feigl, E.; Grupen, C.; Lutters, G.; Minguet-Rodriguez, J.; Rivera, F.; Saraiva, P.; Schäfer, U.; Smolik, L.; Bosisio, L.; Della Marina, R.; Giannini, G.; Gobbo, B.; Pitis, L.; Ragusa, F.; Bellantoni, L.; Chen, W.; Conway, J. S.; Feng, Z.; Ferguson, D. P. S.; Gao, Y. S.; Grahl, J.; Harton, J. L.; Hayes, O. J.; Hu, H.; Nachtman, J. M.; Pan, Y. B.; Saadi, Y.; Schmitt, M.; Scott, I.; Sharma, V.; Turk, J. D.; Walsh, A. M.; Weber, F. V.; Sau Lan, Wu; Wu, X.; Yamartino, J. M.; Zheng, M.; Zobernig, G.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - STAMPA. - 332:1-2(1994), pp. 219-227. [10.1016/0370-2693(94)90882-6]
K0 production in one-prong τ decays
Buskulic, D.;Casper, D.;de Bonis, I.;Decamp, D.;Ghez, P.;Goy, C.;Lees, J. -P.;Minard, M. -N.;Odier, P.;Pietrzyk, B.;Ariztizabal, F.;Chmeissani, M.;Crespo, J. M.;Efthymiopoulos, I.;Fernandez, E.;Fernandez-Bosman, M.;Gaitan, V.;Garrido, Ll.;Martinez, M.;Mattison, T.;Orteu, S.;Pacheco, A.;Padilla, C.;Pascual, A.;Teubert, F.;Creanza, D.;de Palma, M.;Farilla, A.;Iaselli, G.;Maggi, G.;Marinelli, N.;Natali, S.;Nuzzo, S.;Ranieri, A.;Raso, G.;Romano, F.;Ruggieri, F.;Selvaggi, G.;Silvestris, L.;Tempesta, P.;Zito, G.;Chai, Y.;Huang, D.;Huang, X.;Lin, J.;Wang, T.;Xie, Y.;Xu, D.;Xu, R.;Zhang, J.;Zhang, L.;Zhao, W.;Blucher, E.;Bonvicini, G.;Boudreau, J.;Comas, P.;Coyle, P.;Drevermann, H.;Forty, R. W.;Ganis, G.;Gay, C.;Girone, M.;Hagelberg, R.;Harvey, J.;Jacobsen, R.;Jost, B.;Knobloch, J.;Lehraus, I.;Maggi, M.;Markou, C.;Mato, P.;Meinhard, H.;Minten, A.;Miquel, R.;Palazzi, P.;Pater, J. R.;Perlas, J. A.;Perrodo, P.;Pusztaszeri, J. -F.;Ranjard, F.;Rolandi, L.;Rothberg, J.;Ruan, T.;Saich, M.;Schlatter, D.;Schmelling, M.;Sefkow, F.;Tejessy, W.;Tomalin, I. R.;Veenhof, R.;Wachsmuth, H.;Wasserbaech, S.;Wiedenmann, W.;Wildish, T.;Witzeling, W.;Wotschack, J.;Ajaltouni, Z.;Bardadin-Otwinowska, M.;Barres, A.;Boyer, C.;Falvard, A.;Gay, P.;Guicheney, C.;Henrard, P.;Jousset, J.;Michel, B.;Montret, J. -C.;Pallin, D.;Perret, P.;Podlyski, F.;Proriol, J.;Saadi, F.;Fearnley, T.;Hansen, J. B.;Hansen, J. D.;Hansen, J. R.;Hansen, P. H.;Johnson, S. D.;Møllerud, R.;Nilsson, B. S.;Kyriakis, A.;Simopoulou, E.;Siotis, I.;Vayaki, A.;Zachariadou, K.;Badier, J.;Blondel, A.;Bonneaud, G.;Brient, J. C.;Bourdon, P.;Fouque, G.;Passalacqua, L.;Rougé, A.;Rumpf, M.;Tanaka, R.;Verderi, M.;Videau, H.;Candlin, D. J.;Parsons, M. I.;Veitch, E.;Focardi, E.;Moneta, L.;Parrini, G.;Corden, M.;Delfino, M.;Georgiopoulos, C.;Jaffe, D. E.;Levinthal, D.;Antonelli, A.;Bencivenni, G.;Bologna, G.;Bossi, F.;Campana, P.;Capon, G.;Cerutti, F.;Chiarella, V.;Felici, G.;Laurelli, P.;Mannocchi, G.;Murtas, F.;Murtas, G. P.;Pepe-Altarelli, M.;Salomone, S.;Colrain, P.;Have, I. Ten;Knowles, I. G.;Lynch, J. G.;Maitland, W.;Morton, W. T.;Raine, C.;Reeves, P.;Scarr, J. M.;Smith, K.;Smith, M. G.;Thompson, A. S.;Thorn, S.;Turnbull, R. M.;Becker, U.;Braun, O.;Geweniger, C.;Hanke, P.;Hepp, V.;Kluge, E. E.;Putzer, A.;Rensch, B.;Schmidt, M.;Stenzel, H.;Tittel, K.;Wunsch, M.;Beuselinck, R.;Binnie, D. M.;Cameron, W.;Cattaneo, M.;Colling, D. J.;Dornan, P. J.;Hassard, J. F.;Konstantinidis, N.;Moutoussi, A.;Nash, J.;Payne, D. G.;San Martin, G.;Sedgbeer, J. K.;Wright, A. G.;Girtler, P.;Kuhn, D.;Rudolph, G.;Vogl, R.;Bowdery, C. K.;Brodbeck, T. J.;Finch, A. J.;Foster, F.;Hughes, G.;Jackson, D.;Keemer, N. R.;Nuttall, M.;Patel, A.;Sloan, T.;Snow, S. W.;Whelan, E. P.;Galla, A.;Greene, A. M.;Kleinknecht, K.;Raab, J.;Renk, B.;Sander, H. -G.;Schmidt, H.;Walther, S. M.;Wanke, R.;Wolf, B.;Bencheikh, A. M.;Benchouk, C.;Bonissent, A.;Calvet, D.;Carr, J.;Diaconu, C.;Etienne, F.;Nicod, D.;Payre, P.;Roos, L.;Rousseau, D.;Schwemling, P.;Talby, M.;Adlung, S.;Assmann, R.;Bauer, C.;Blum, W.;Brown, D.;Cattaneo, P.;Dehning, B.;Dietl, H.;Dydak, F.;Frank, M.;Halley, A. W.;Jakobs, K.;Kroha, H.;Lauber, J.;Lütjens, G.;Lutz, G.;Männer, W.;Moser, H. -G.;Richter, R.;Schröder, J.;Schwarz, A. S.;Settles, R.;Seywerd, H.;Stierlin, U.;Stiegler, U.;St. Denis, R.;Wolf, G.;Alemany, R.;Boucrot, J.;Callot, O.;Cordier, A.;Davier, M.;Duflot, L.;Grivaz, J. -F.;Heusse, Ph.;Janot, P.;Kim, D. W.;Le Diberder, F.;Lefrançois, J.;Lutz, A. -M.;Musolino, G.;Park, H. -J.;Schune, M. -H.;Veillet, J. -J.;Videau, I.;Abbaneo, D.;Bagliesi, G.;Batignani, G.;Bottigli, U.;Bozzi, C.;Calderini, G.;Carpinelli, M.;Ciocci, M. A.;Ciulli, V.;Dell'Orso, R.;Ferrante, I.;Fidecaro, F.;Foà, L.;Forti, F.;Giassi, A.;Giorgi, M. A.;Gregorio, A.;Ligabue, F.;Lusiani, A.;Marrocchesi, P. S.;Martin, E. B.;Messineo, A.;Palla, F.;Rizzo, G.;Sanguinetti, G.;Spagnolo, P.;Steinberger, J.;Tenchini, R.;Tonelli, G.;Triggiani, G.;Valassi, A.;Vannini, C.;Venturi, A.;Verdini, P. G.;Walsh, J.;Betteridge, A. P.;Gao, Y.;Green, M. G.;Johnson, D. L.;March, P. V.;Medcalf, T.;Mir, Ll. M.;Quazi, I. S.;Strong, J. A.;Bertin, V.;Botterill, D. R.;Clifft, R. W.;Edgecock, T. R.;Haywood, S.;Edwards, M.;Norton, P. R.;Thompson, J. C.;Bloch-Devaux, B.;Colas, P.;Duarte, H.;Emery, S.;Kozanecki, W.;Lançon, E.;Lemaire, M. C.;Locci, E.;Marx, B.;Perez, P.;Rander, J.;Renardy, J. -F.;Rosowsky, A.;Roussarie, A.;Schuller, J. -P.;Schwindling, J.;Si Mohand, D.;Vallage, B.;Johnson, R. P.;Litke, A. M.;Taylor, G.;Wear, J.;Beddall, A.;Booth, C. N.;Cartwright, S.;Combley, F.;Dawson, I.;Koksal, A.;Rankin, C.;Thompson, L. F.;Böhler, A.;Brandt, S.;Cowan, G.;Feigl, E.;Grupen, C.;Lutters, G.;Minguet-Rodriguez, J.;Rivera, F.;Saraiva, P.;Schäfer, U.;Smolik, L.;Bosisio, L.;Della Marina, R.;Giannini, G.;Gobbo, B.;Pitis, L.;Ragusa, F.;Bellantoni, L.;Chen, W.;Conway, J. S.;Feng, Z.;Ferguson, D. P. S.;Gao, Y. S.;Grahl, J.;Harton, J. L.;Hayes, O. J.;Hu, H.;Nachtman, J. M.;Pan, Y. B.;Saadi, Y.;Schmitt, M.;Scott, I.;Sharma, V.;Turk, J. D.;Walsh, A. M.;Weber, F. V.;Sau Lan Wu;Wu, X.;Yamartino, J. M.;Zheng, M.;Zobernig, G.
1994-01-01
Abstract
From a sample of about 75000 tau decays identified with the ALEPH detector, K0 production in 1-prong hadronic decays is investigated by tagging the K(L)0 component in a hadronic calorimeter. Results are given for the final states nu(tau)h-K0 and nu(tau)h-pi0K0 where the h- is separated into pi and K contributions by means of the dE/dx measurement in the central detector. The resulting branching ratios are: (B(tau) --> nu(tau)pi-K0) = (0.88 +/- 0.14 +/- 0.09)%, (B(tau) --> nu(tau)K-K0) = (0.29 +/- 0.12 +/- 0.03)%, (Btau --> nu(tau)pi-pi0K0) = (0.33 +/- 0.14 +/- 0.07)% and (B(tau) --> nu(tau)K-pi0K0) = (0.05 +/- 0.05 +/- 0.01)%. The K* decay rate in the K0pi channel agrees with that in the Kpi0 mode: the combined value for the branching ratio is (Btau --> nu(tau)K*-) = (1.45 +/- 0.13 +/- 0.11)%.
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.