During summer 2006 a fraction of the CMS silicon strip tracker was operated in a comprehensive slice test called the Magnet Test and Cosmic Challenge (MTCC). At the MTCC, cosmic rays detected in the muon chambers were used to trigger the readout of all CMS subdetectors in the general data acquisition system and in the presence of the 4 T magnetic field produced by the CMS superconducting solenoid. This document describes the operation of the Tracker hardware and software prior, during and after data taking. The performance of the detector as resulting from the MTCC data analysis is also presented.

The CMS tracker operation and performance at the Magnet Test and Cosmic Challenge / Adam, W.; Bergauer, T.; Dragicevic, M.; Friedl, M.; Frühwirth, R.; Hänsel, S.; Hrubec, J.; Krammer, M.; Pernicka, M.; Waltenberger, W.; Widl, E.; Van Mechelen, P.; Cardaci, M.; Beaumont, W.; de Langhe, E.; de Wolf, E. A.; Delmeire, E.; Bouhali, O.; Charaf, O.; Clerbaux, B.; Dewulf, J. -P.; Elgammal, S.; Hammad, G.; de Lentdecker, G.; Marage, P.; Vander Velde, C.; Vanlaer, P.; Wickens, J.; Devroede, O.; Deweirdt, S.; D'Hondt, J.; Goorens, R.; Heyninck, J.; Maes, J.; Tavernier, S.; Van Lancker, L.; Van Mulders, P.; Villella, I.; Assouak, S.; Bonnet, J. -L.; Bruno, G.; Decallatay, B.; Devisscher, S.; Favart, D.; Florins, B.; Forton, E.; Giammanco, A.; Gregoire, G.; Kalinin, S.; Kcira, D.; Keutgen, Th; Lemaitre, V.; Michotte, D.; Militaru, O.; Ovyn, S.; Piotrzkowski, K.; Rouby, X.; Teyssier, D.; Van der Aa, O.; Daubie, E.; Anttila, E.; Czellar, S.; Härkönen, J.; Karimäki, V.; Lampén, T.; Lindén, T.; Luukka, P. -R.; Mäenpää, T.; Tuominen, E.; Tuominiemi, J.; Boudoul, G.; Chabanat, E.; Chabert, E.; Chierici, R.; Contardo, D.; Estre, N.; Haroutunian, R.; Lumb, N.; Perries, S.; Trocme, B.; Agram, J. -L.; Blaes, R.; Drouhin, F.; Fontaine, J. -C.; Berst, J. -D.; Brom, J. -M.; Goerlach, U.; Graehling, P.; Gross, L.; Hosselet, J.; Juillot, P.; Maazouzi, C.; Ollivetto, C.; Van Hove, P.; Anagnostou, G.; Brauer, R.; Esser, H.; Feld, L.; Karpinski, W.; Klein, K.; Kukulies, C.; Olzem, J.; Ostapchuk, A.; Pandoulas, D.; Pierschel, G.; Raupach, F.; Schael, S.; Schwering, G.; Thomas, M.; Weber, M.; Wittmer, B.; Wlochal, M.; Beissel, F.; Bock, E.; Flugge, G.; Hermanns, T.; Heydhausen, D.; Jahn, D.; Kaussen, G.; Linn, A.; Perchalla, L.; Poettgens, M.; Pooth, O.; Stahl, A.; Zoeller, M. H.; Butz, E.; Fricke, S.; Flucke, G.; Klanner, R.; Pein, U.; Schleper, P.; Steinbr ck, G.; Blüm, P.; Deboer, W.; Dierlamm, A.; Dirkes, G.; Fahrer, M.; Frey, M.; Furgeri, A.; Hartmann, F.; Heier, S.; Hoffmann, K. -H.; Ledermann, B.; Liamsuwan, T.; Müller, S.; Müller, T.; Scheurer, A. U.; Schilling, F. -P.; Simonis, H. -J.; Zhukov, V.; Derobertis, G.; Fiore, L.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Creanza, D.; De Filippis, N.; Depalma, M.; Giordano, D.; Maggi, G.; Manna, N.; My, S.; Radicci, V.; Selvaggi, G.; Albergo, S.; Chiorboli, M.; Costa, S.; Galanti, M.; Noto, F.; Potenza, R.; Saizu, M. A.; Sutera, C.; Tricomi, A.; Tuvé, C.; Civinini, C.; Manolescu, F.; Meschini, M.; Paoletti, S.; Sguazzoni, G.; Broccolo, B.; Ciulli, V.; D'Alessandro, R.; Focardi, E.; Frosali, S.; Genta, C.; Landi, G.; Lenzi, P.; Macchiolo, A.; Magini, N.; Mersi, S.; Parrini, G.; Azzi, P.; Bacchetta, N.; Candelori, A.; Dorigo, T.; Kaminsky, A.; Bisello, D.; Demattia, M.; Giubilato, P.; Khomenkov, V.; Loreti, M.; Mattiazzo, S.; Nigro, M.; Paccagnella, A.; Tosi, M.; Bilei, G. M.; Checcucci, B.; Fanò, L.; Servoli, L.; Ambroglini, F.; Babucci, E.; Benedetti, D.; Biasini, M.; Caponeri, B.; Covarelli, R.; Giorgi, M.; Lariccia, P.; Mantovani, G.; Marcantonini, M.; Postolache, V.; Santocchia, A.; Spiga, D.; Bagliesi, G.; Boccali, T.; Bosi, F.; Castaldi, R.; Cerri, C.; Dell'Orso, R.; Dobur, D.; Dutta, S.; Giassi, A.; Kraan, A. C.; Lomtadze, T.; Magazzu, G.; Martinelli, G.; Moggi, A.; Palla, F.; Palmonari, F.; Raffaelli, F.; Sanguinetti, G.; Sarkar, S.; Serban, A. T.; Spagnolo, P.; Tenchini, R.; Venturi, A.; Verdini, P. G.; Vos, M.; Basti, A.; Benucci, L.; Bernardini, J.; Borrello, L.; Fiori, F.; Linari, S.; Massa, M.; Messineo, A.; Segneri, G.; Tonelli, G.; Azzurri, P.; Bocci, A.; Foa, L.; Gennai, S.; Ligabue, F.; Mangano, B.; Petrucciani, G.; Rizzi, A.; Demaria, N.; Borgia, M. A.; Castello, R.; Costa, M.; Migliore, E.; Romero, A.; Abbaneo, D.; Ahmed, I.; Bloch, C.; Breuker, H.; Buchmuller, O.; Cattai, A.; Delaere, C.; Edera, L. M.; Eppard, M.; Gill, K.; Giolo-Nicollerat, A. -S.; Grabit, R.; Honma, A.; Huhtinen, M.; Kloukinas, K.; Ljuslin, C.; Mannelli, M.; Masetti, L.; Marchioro, A.; Michal, S.; Mirabito, L.; Onnela, A.; Paillard, C.; Pal, I.; Petagna, P.; Pioppi, M.; Postema, H.; Ranieri, R.; Ricci, D.; Rolandi, G.; Ronga, F.; Siegrist, P.; Tropea, P.; Troska, J.; Tsirou, A.; Vander Donckt, M.; Vasey, F.; Church, I.; Cole, J.; Coughlan, J.; Gay, A.; Taghavi, S.; Tomalin, I.; Bainbridge, R.; Cripps, N.; Fulcher, J.; Hall, G.; Noy, M.; Pesaresi, M.; Radicci, V.; Raymond, D. M.; Rose, A.; Sharp, P.; Stoye, M.; Wingham, M.; Zorba, O.; Goitom, I.; Hobson, P. R.; Reid, I.; Teodorescu, L.; Bose, M.; Hanson, G.; Jeng, G. -Y.; Liu, H.; Pasztor, G.; Satpathy, A.; Stringer, R.; Campagnari, C.; D'Alfonso, M.; Garberson, J.; Incandela, J.; Kalavase, P.; Kovalskyi, D.; Kyre, S.; Lamb, J.; Lowette, S.; Rebassoo, F.; Ribnik, J.; Richman, J.; Rossin, R.; Stuart, D.; Swain, S.; Vlimant, J. -R.; White, D.; Wagner, S. R.; Bagby, L.; Bhat, P.; Burkett, K.; Gutsche, O.; Jensen, H.; Johnson, M.; Mason, D.; Miao, T.; Noeding, C.; Skup, E.; Spalding, W.; Spiegel, L.; Tkaczyk, S.; Yumiceva, F.; Anghel, I.; Bazterra, V. E.; Gerber, C. E.; Khalatian, S.; Shabalina, E.; Baringer, P.; Bean, A.; Chen, J.; Moulik, T.; Bolton, T.; Onoprienko, D.; Wan, Z.; Gritsan, A.; Lae, C. K.; Tran, N.; Everaerts, P.; Hahn, K. A.; Harris, P.; Nahn, S.; Rudolph, M.; Roland, C.; Sung, K.; Betchart, B.; Demina, R.; Gotra, Y.; Korjenevski, S.; Miner, D.; Orbaker, D.; Christofek, L.; Hooper, R.; Landsberg, G.; Nguyen, D.; Narain, M.; Speer, T.; Tsang, K. V.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 3:7(2008). [10.1088/1748-0221/3/07/P07006]

The CMS tracker operation and performance at the Magnet Test and Cosmic Challenge

Bruno, G.;Creanza, D.;De Filippis, N.;Maggi, G.;
2008-01-01

Abstract

During summer 2006 a fraction of the CMS silicon strip tracker was operated in a comprehensive slice test called the Magnet Test and Cosmic Challenge (MTCC). At the MTCC, cosmic rays detected in the muon chambers were used to trigger the readout of all CMS subdetectors in the general data acquisition system and in the presence of the 4 T magnetic field produced by the CMS superconducting solenoid. This document describes the operation of the Tracker hardware and software prior, during and after data taking. The performance of the detector as resulting from the MTCC data analysis is also presented.
2008
The CMS tracker operation and performance at the Magnet Test and Cosmic Challenge / Adam, W.; Bergauer, T.; Dragicevic, M.; Friedl, M.; Frühwirth, R.; Hänsel, S.; Hrubec, J.; Krammer, M.; Pernicka, M.; Waltenberger, W.; Widl, E.; Van Mechelen, P.; Cardaci, M.; Beaumont, W.; de Langhe, E.; de Wolf, E. A.; Delmeire, E.; Bouhali, O.; Charaf, O.; Clerbaux, B.; Dewulf, J. -P.; Elgammal, S.; Hammad, G.; de Lentdecker, G.; Marage, P.; Vander Velde, C.; Vanlaer, P.; Wickens, J.; Devroede, O.; Deweirdt, S.; D'Hondt, J.; Goorens, R.; Heyninck, J.; Maes, J.; Tavernier, S.; Van Lancker, L.; Van Mulders, P.; Villella, I.; Assouak, S.; Bonnet, J. -L.; Bruno, G.; Decallatay, B.; Devisscher, S.; Favart, D.; Florins, B.; Forton, E.; Giammanco, A.; Gregoire, G.; Kalinin, S.; Kcira, D.; Keutgen, Th; Lemaitre, V.; Michotte, D.; Militaru, O.; Ovyn, S.; Piotrzkowski, K.; Rouby, X.; Teyssier, D.; Van der Aa, O.; Daubie, E.; Anttila, E.; Czellar, S.; Härkönen, J.; Karimäki, V.; Lampén, T.; Lindén, T.; Luukka, P. -R.; Mäenpää, T.; Tuominen, E.; Tuominiemi, J.; Boudoul, G.; Chabanat, E.; Chabert, E.; Chierici, R.; Contardo, D.; Estre, N.; Haroutunian, R.; Lumb, N.; Perries, S.; Trocme, B.; Agram, J. -L.; Blaes, R.; Drouhin, F.; Fontaine, J. -C.; Berst, J. -D.; Brom, J. -M.; Goerlach, U.; Graehling, P.; Gross, L.; Hosselet, J.; Juillot, P.; Maazouzi, C.; Ollivetto, C.; Van Hove, P.; Anagnostou, G.; Brauer, R.; Esser, H.; Feld, L.; Karpinski, W.; Klein, K.; Kukulies, C.; Olzem, J.; Ostapchuk, A.; Pandoulas, D.; Pierschel, G.; Raupach, F.; Schael, S.; Schwering, G.; Thomas, M.; Weber, M.; Wittmer, B.; Wlochal, M.; Beissel, F.; Bock, E.; Flugge, G.; Hermanns, T.; Heydhausen, D.; Jahn, D.; Kaussen, G.; Linn, A.; Perchalla, L.; Poettgens, M.; Pooth, O.; Stahl, A.; Zoeller, M. H.; Butz, E.; Fricke, S.; Flucke, G.; Klanner, R.; Pein, U.; Schleper, P.; Steinbr ck, G.; Blüm, P.; Deboer, W.; Dierlamm, A.; Dirkes, G.; Fahrer, M.; Frey, M.; Furgeri, A.; Hartmann, F.; Heier, S.; Hoffmann, K. -H.; Ledermann, B.; Liamsuwan, T.; Müller, S.; Müller, T.; Scheurer, A. U.; Schilling, F. -P.; Simonis, H. -J.; Zhukov, V.; Derobertis, G.; Fiore, L.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Creanza, D.; De Filippis, N.; Depalma, M.; Giordano, D.; Maggi, G.; Manna, N.; My, S.; Radicci, V.; Selvaggi, G.; Albergo, S.; Chiorboli, M.; Costa, S.; Galanti, M.; Noto, F.; Potenza, R.; Saizu, M. A.; Sutera, C.; Tricomi, A.; Tuvé, C.; Civinini, C.; Manolescu, F.; Meschini, M.; Paoletti, S.; Sguazzoni, G.; Broccolo, B.; Ciulli, V.; D'Alessandro, R.; Focardi, E.; Frosali, S.; Genta, C.; Landi, G.; Lenzi, P.; Macchiolo, A.; Magini, N.; Mersi, S.; Parrini, G.; Azzi, P.; Bacchetta, N.; Candelori, A.; Dorigo, T.; Kaminsky, A.; Bisello, D.; Demattia, M.; Giubilato, P.; Khomenkov, V.; Loreti, M.; Mattiazzo, S.; Nigro, M.; Paccagnella, A.; Tosi, M.; Bilei, G. M.; Checcucci, B.; Fanò, L.; Servoli, L.; Ambroglini, F.; Babucci, E.; Benedetti, D.; Biasini, M.; Caponeri, B.; Covarelli, R.; Giorgi, M.; Lariccia, P.; Mantovani, G.; Marcantonini, M.; Postolache, V.; Santocchia, A.; Spiga, D.; Bagliesi, G.; Boccali, T.; Bosi, F.; Castaldi, R.; Cerri, C.; Dell'Orso, R.; Dobur, D.; Dutta, S.; Giassi, A.; Kraan, A. C.; Lomtadze, T.; Magazzu, G.; Martinelli, G.; Moggi, A.; Palla, F.; Palmonari, F.; Raffaelli, F.; Sanguinetti, G.; Sarkar, S.; Serban, A. T.; Spagnolo, P.; Tenchini, R.; Venturi, A.; Verdini, P. G.; Vos, M.; Basti, A.; Benucci, L.; Bernardini, J.; Borrello, L.; Fiori, F.; Linari, S.; Massa, M.; Messineo, A.; Segneri, G.; Tonelli, G.; Azzurri, P.; Bocci, A.; Foa, L.; Gennai, S.; Ligabue, F.; Mangano, B.; Petrucciani, G.; Rizzi, A.; Demaria, N.; Borgia, M. A.; Castello, R.; Costa, M.; Migliore, E.; Romero, A.; Abbaneo, D.; Ahmed, I.; Bloch, C.; Breuker, H.; Buchmuller, O.; Cattai, A.; Delaere, C.; Edera, L. M.; Eppard, M.; Gill, K.; Giolo-Nicollerat, A. -S.; Grabit, R.; Honma, A.; Huhtinen, M.; Kloukinas, K.; Ljuslin, C.; Mannelli, M.; Masetti, L.; Marchioro, A.; Michal, S.; Mirabito, L.; Onnela, A.; Paillard, C.; Pal, I.; Petagna, P.; Pioppi, M.; Postema, H.; Ranieri, R.; Ricci, D.; Rolandi, G.; Ronga, F.; Siegrist, P.; Tropea, P.; Troska, J.; Tsirou, A.; Vander Donckt, M.; Vasey, F.; Church, I.; Cole, J.; Coughlan, J.; Gay, A.; Taghavi, S.; Tomalin, I.; Bainbridge, R.; Cripps, N.; Fulcher, J.; Hall, G.; Noy, M.; Pesaresi, M.; Radicci, V.; Raymond, D. M.; Rose, A.; Sharp, P.; Stoye, M.; Wingham, M.; Zorba, O.; Goitom, I.; Hobson, P. R.; Reid, I.; Teodorescu, L.; Bose, M.; Hanson, G.; Jeng, G. -Y.; Liu, H.; Pasztor, G.; Satpathy, A.; Stringer, R.; Campagnari, C.; D'Alfonso, M.; Garberson, J.; Incandela, J.; Kalavase, P.; Kovalskyi, D.; Kyre, S.; Lamb, J.; Lowette, S.; Rebassoo, F.; Ribnik, J.; Richman, J.; Rossin, R.; Stuart, D.; Swain, S.; Vlimant, J. -R.; White, D.; Wagner, S. R.; Bagby, L.; Bhat, P.; Burkett, K.; Gutsche, O.; Jensen, H.; Johnson, M.; Mason, D.; Miao, T.; Noeding, C.; Skup, E.; Spalding, W.; Spiegel, L.; Tkaczyk, S.; Yumiceva, F.; Anghel, I.; Bazterra, V. E.; Gerber, C. E.; Khalatian, S.; Shabalina, E.; Baringer, P.; Bean, A.; Chen, J.; Moulik, T.; Bolton, T.; Onoprienko, D.; Wan, Z.; Gritsan, A.; Lae, C. K.; Tran, N.; Everaerts, P.; Hahn, K. A.; Harris, P.; Nahn, S.; Rudolph, M.; Roland, C.; Sung, K.; Betchart, B.; Demina, R.; Gotra, Y.; Korjenevski, S.; Miner, D.; Orbaker, D.; Christofek, L.; Hooper, R.; Landsberg, G.; Nguyen, D.; Narain, M.; Speer, T.; Tsang, K. V.. - In: JOURNAL OF INSTRUMENTATION. - ISSN 1748-0221. - ELETTRONICO. - 3:7(2008). [10.1088/1748-0221/3/07/P07006]
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11589/3646
Citazioni
  • Scopus 4
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 1
social impact