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POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca
More extensive and precise results are reported on the parameters of Z decay. On the basis of 20 000 Z decays collected with the ALEPH detector at LEP we find Mz=91.182±0.026 (exp.) ±0.030 (beam) GeV, Γz=2.541±0.056 GeV and σhad0=41.4±0.8 nb. The partial widths for the hadronic and leptonic channels are Γhad=1804±44 MeV, Γe+e−=82.1±3.4 MeV, Γμ+μ−=87.9±6.0 MeV and Γτ+τ−=86.1±5.6 MeV, in good agreement with the standard model. On the basis of the average leptonic width Γℓ+ℓ−=83.9±2.2 MeV, the effective weak mixing angle is found to be sin2θw(Mz)=0.231±0.008. Usin g the partial widths calculated in the standard model, the number of light neutrino families is Nν=3.01±0.15 (exp.)±0.05 (theor.).
A precise determination of the number of families with light neutrinos and of the Z boson partial widths / Decamp, D.; Deschizeaux, B.; Lees, J. -P.; Minard, M. -N.; Crespo, J. M.; Delfino, M.; Fernandez, E.; Martinez, M.; Miquel, R.; Mir, Ll. M.; Orteu, S.; Pacheco, A.; Perlas, J. A.; Tubau, E.; Catanesi, M. G.; de Palma, M.; Farilla, A.; Iaselli, G.; Maggi, G.; Natali, S.; Nuzzo, S.; Ranieri, A.; Raso, G.; Romano, F.; Ruggieri, F.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Hu, H.; Huang, D.; Lin, J.; Ruan, T.; Wang, T.; Wu, W.; Xie, Y.; Xu, D.; Xu, R.; Zhang, J.; Zhao, W.; Albrecht, H.; Atwood, W. B.; Bird, F.; Blucher, E.; Burnett, T. H.; Charity, T.; Drevermann, H.; Garrido, Ll.; Grab, C.; Hagelberg, R.; Haywood, S.; Jost, B.; Kasemann, M.; Kellner, G.; Knobloch, J.; Lacourt, A.; Lehraus, I.; Lohse, T.; Lüke, D.; Marchioro, A.; Mato, P.; May, J.; Minten, A.; Miotto, A.; Palazzi, P.; Pepe-Altarelli, M.; Ranjard, F.; Roth, A.; Rothberg, J.; Rotscheidt, H.; von Rüden, W.; St. Denis, R.; Schlatter, D.; Takashima, M.; Talby, M.; Taureg, H.; Tejessy, W.; Wachsmuth, H.; Wheeler, S.; Wiedenmann, W.; Witzeling, W.; Wotschack, J.; Ajaltouni, Z.; Bardadin-Otwinowska, M.; Falvard, A.; Gay, P.; Henrard, P.; Jousset, J.; Michel, B.; Montret, J. -C.; Pallin, D.; Perret, P.; Proriol, J.; Prujhière, F.; Hansen, J. D.; Hansen, J. R.; Hansen, P. H.; Møllerud, R.; Petersen, G.; Simopoulou, E.; Vayaki, A.; Badier, J.; Blondel, A.; Bonneaud, G.; Bourotte, J.; Braems, F.; Brient, J. C.; Ciocci, M. A.; Fouque, G.; Guirlet, R.; Rougé, A.; Rumpf, M.; Tanaka, R.; Videau, H.; Videau, I.; Candlin, D. J.; Conti, A.; Parrini, G.; Corden, M.; Georgiopoulos, C.; Goldman, J. H.; Ikeda, M.; Lannutti, J.; Levinthal, D.; Mermikides, M.; Sawyer, L.; Stimpfl, G.; Antonelli, A.; Baldini, R.; Bencivenni, G.; Bologna, G.; Bossi, F.; Campana, P.; Capon, G.; Chiarella, V.; de Ninno, G.; D'Ettorre-Piazzoli, B.; Felici, G.; Laurelli, P.; Mannocchi, G.; Murtas, F.; Murtas, G. P.; Nicoletti, G.; Picchi, P.; Zografou, P.; Altoon, B.; Boyle, O.; Halley, A. W.; Ten Have, I.; Hearns, J. L.; Hughes, I. S.; Lynch, J. G.; Morton, W. T.; Raine, C.; Scarr, J. M.; Smith, K.; Thompson, A. S.; Brandl, B.; Braun, O.; Geiges, R.; Geweniger, C.; Hanke, P.; Hepp, V.; Kluge, E. E.; Maumary, Y.; Panter, M.; Putzer, A.; Rensch, B.; Stahl, A.; Tittel, K.; Wunsch, M.; Belk, A. T.; Beuselinck, R.; Binnie, D. M.; Cameron, W.; Cattaneo, M.; Dornan, P. J.; Dugeay, S.; Forty, R. W.; Greene, A. M.; Hassard, J. F.; Patton, S. J.; Sedgbeer, J. K.; Taylor, G.; Tomalin, I. R.; Wright, A. G.; Girtler, P.; Kuhn, D.; Rudolph, G.; Bowdery, C. K.; Brodbeck, T. J.; Finch, A. J.; Foster, F.; Hughes, G.; Keemer, N. R.; Nuttall, M.; Rowlingson, B. S.; Sloan, T.; Snow, W.; Barczewski, T.; Bauerdick, L. A. T.; Kleinknecht, K.; Renk, B.; Roehn, S.; Sander, H. -G.; Schmelling, M.; Steeg, F.; Albanese, J. -P.; Aubert, J. -J.; Benchouk, C.; Bonissent, A.; Courvoisier, D.; Etienne, F.; Matsinos, E.; Papalexiou, S.; Payre, P.; Pietrzyk, B.; Qian, Z.; Blum, W.; Cattaneo, P.; Cowan, G.; Dehning, B.; Dietl, H.; Fernandez-Bosman, M.; Hauff, D.; Jahn, A.; Lange, E.; Lütjens, G.; Lutz, G.; Männer, W.; Moser, H. -G.; Pan, Y.; Richter, R.; Schwarz, A. S.; Settles, R.; Stiegler, U.; Stierlin, U.; Thomas, J.; Waltermann, G.; Bertin, V.; de Bouard, G.; Boucrot, J.; Callot, O.; Chen, X.; Cordier, A.; Davier, M.; Ganis, G.; Grivaz, J. -F.; Heusse, Ph.; Janot, P.; Journé, V.; Kim, D. W.; Lefrançois, J.; Lutz, A. -M.; Veillet, J. -J.; Zomer, F.; Amendolia, S. R.; Bagliesi, G.; Batignani, G.; Bosisio, L.; Bottigli, U.; Bradaschia, C.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Foà, L.; Focardi, E.; Forti, F.; Giassi, A.; Giorgi, M. A.; Ligabue, F.; Lusiani, A.; Mannelli, E. B.; Marrocchesi, P. S.; Messineo, A.; Palla, F.; Sanguinetti, G.; Scapellato, S.; Steinberger, J.; Tenchini, R.; Tonelli, G.; Triggiani, G.; Carter, J. M.; Green, M. G.; March, P. V.; Medcalf, T.; Saich, M. R.; Strong, J. A.; Thomas, R. M.; Wildish, T.; Botterill, D. R.; Clifft, R. W.; Edgecock, T. R.; Edwards, M.; Fisher, S. M.; Harvey, J.; Jones, T. J.; Norton, P. R.; Salmon, D. P.; Thompson, J. C.; Aubourg, E.; Bloch-Devaux, B.; Colas, P.; Klopfenstein, C.; Lançon, E.; Locci, E.; Loucatos, S.; Mirabito, L.; Monnier, E.; Perez, P.; Perrier, F.; Rander, J.; Renardy, J. -F.; Roussanrie, A.; Schuller, J. -P.; Ashman, J. G.; Booth, C. N.; Combley, F.; Dinnsdale, M.; Martin, J.; Parker, D.; Thompson, L. F.; Brandt, S.; Burkhardt, H.; Grupen, C.; Meinhard, H.; Neugebauer, E.; Schäfer, U.; Seywerd, H.; Gobbo, B.; Liello, F.; Millotti, E.; Ragusa, F.; Rolandi, L.; Bellantoni, L.; Boudreau, J. F.; Cinabro, D.; Conway, J. S.; Cowen, D. F.; Feng, Z.; Harton, J. L.; Hilgart, J.; Jared, R. C.; Johnson, R. P.; Leclaire, B. W.; Pan, Y. B.; Parker, T.; Pater, J. R.; Saadi, Y.; Sharma, V.; Wear, J. A.; Weber, F. V.; Wu, Sau Lan; Xue, S. T.; Zobernig, G.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - STAMPA. - 235:3-4(1990), pp. 399-411. [10.1016/0370-2693(90)91984-J]
A precise determination of the number of families with light neutrinos and of the Z boson partial widths
Decamp, D.;Deschizeaux, B.;Lees, J. -P.;Minard, M. -N.;Crespo, J. M.;Delfino, M.;Fernandez, E.;Martinez, M.;Miquel, R.;Mir, Ll. M.;Orteu, S.;Pacheco, A.;Perlas, J. A.;Tubau, E.;Catanesi, M. G.;de Palma, M.;Farilla, A.;Iaselli, G.;Maggi, G.;Natali, S.;Nuzzo, S.;Ranieri, A.;Raso, G.;Romano, F.;Ruggieri, F.;Selvaggi, G.;Silvestris, L.;Tempesta, P.;Zito, G.;Hu, H.;Huang, D.;Lin, J.;Ruan, T.;Wang, T.;Wu, W.;Xie, Y.;Xu, D.;Xu, R.;Zhang, J.;Zhao, W.;Albrecht, H.;Atwood, W. B.;Bird, F.;Blucher, E.;Burnett, T. H.;Charity, T.;Drevermann, H.;Garrido, Ll.;Grab, C.;Hagelberg, R.;Haywood, S.;Jost, B.;Kasemann, M.;Kellner, G.;Knobloch, J.;Lacourt, A.;Lehraus, I.;Lohse, T.;Lüke, D.;Marchioro, A.;Mato, P.;May, J.;Minten, A.;Miotto, A.;Palazzi, P.;Pepe-Altarelli, M.;Ranjard, F.;Roth, A.;Rothberg, J.;Rotscheidt, H.;von Rüden, W.;St. Denis, R.;Schlatter, D.;Takashima, M.;Talby, M.;Taureg, H.;Tejessy, W.;Wachsmuth, H.;Wheeler, S.;Wiedenmann, W.;Witzeling, W.;Wotschack, J.;Ajaltouni, Z.;Bardadin-Otwinowska, M.;Falvard, A.;Gay, P.;Henrard, P.;Jousset, J.;Michel, B.;Montret, J. -C.;Pallin, D.;Perret, P.;Proriol, J.;Prujhière, F.;Hansen, J. D.;Hansen, J. R.;Hansen, P. H.;Møllerud, R.;Petersen, G.;Simopoulou, E.;Vayaki, A.;Badier, J.;Blondel, A.;Bonneaud, G.;Bourotte, J.;Braems, F.;Brient, J. C.;Ciocci, M. A.;Fouque, G.;Guirlet, R.;Rougé, A.;Rumpf, M.;Tanaka, R.;Videau, H.;Videau, I.;Candlin, D. J.;Conti, A.;Parrini, G.;Corden, M.;Georgiopoulos, C.;Goldman, J. H.;Ikeda, M.;Lannutti, J.;Levinthal, D.;Mermikides, M.;Sawyer, L.;Stimpfl, G.;Antonelli, A.;Baldini, R.;Bencivenni, G.;Bologna, G.;Bossi, F.;Campana, P.;Capon, G.;Chiarella, V.;de Ninno, G.;D'Ettorre-Piazzoli, B.;Felici, G.;Laurelli, P.;Mannocchi, G.;Murtas, F.;Murtas, G. P.;Nicoletti, G.;Picchi, P.;Zografou, P.;Altoon, B.;Boyle, O.;Halley, A. W.;Ten Have, I.;Hearns, J. L.;Hughes, I. S.;Lynch, J. G.;Morton, W. T.;Raine, C.;Scarr, J. M.;Smith, K.;Thompson, A. S.;Brandl, B.;Braun, O.;Geiges, R.;Geweniger, C.;Hanke, P.;Hepp, V.;Kluge, E. E.;Maumary, Y.;Panter, M.;Putzer, A.;Rensch, B.;Stahl, A.;Tittel, K.;Wunsch, M.;Belk, A. T.;Beuselinck, R.;Binnie, D. M.;Cameron, W.;Cattaneo, M.;Dornan, P. J.;Dugeay, S.;Forty, R. W.;Greene, A. M.;Hassard, J. F.;Patton, S. J.;Sedgbeer, J. K.;Taylor, G.;Tomalin, I. R.;Wright, A. G.;Girtler, P.;Kuhn, D.;Rudolph, G.;Bowdery, C. K.;Brodbeck, T. J.;Finch, A. J.;Foster, F.;Hughes, G.;Keemer, N. R.;Nuttall, M.;Rowlingson, B. S.;Sloan, T.;Snow, W.;Barczewski, T.;Bauerdick, L. A. T.;Kleinknecht, K.;Renk, B.;Roehn, S.;Sander, H. -G.;Schmelling, M.;Steeg, F.;Albanese, J. -P.;Aubert, J. -J.;Benchouk, C.;Bonissent, A.;Courvoisier, D.;Etienne, F.;Matsinos, E.;Papalexiou, S.;Payre, P.;Pietrzyk, B.;Qian, Z.;Blum, W.;Cattaneo, P.;Cowan, G.;Dehning, B.;Dietl, H.;Fernandez-Bosman, M.;Hauff, D.;Jahn, A.;Lange, E.;Lütjens, G.;Lutz, G.;Männer, W.;Moser, H. -G.;Pan, Y.;Richter, R.;Schwarz, A. S.;Settles, R.;Stiegler, U.;Stierlin, U.;Thomas, J.;Waltermann, G.;Bertin, V.;de Bouard, G.;Boucrot, J.;Callot, O.;Chen, X.;Cordier, A.;Davier, M.;Ganis, G.;Grivaz, J. -F.;Heusse, Ph.;Janot, P.;Journé, V.;Kim, D. W.;Lefrançois, J.;Lutz, A. -M.;Veillet, J. -J.;Zomer, F.;Amendolia, S. R.;Bagliesi, G.;Batignani, G.;Bosisio, L.;Bottigli, U.;Bradaschia, C.;Ferrante, I.;Fidecaro, F.;Foà, L.;Focardi, E.;Forti, F.;Giassi, A.;Giorgi, M. A.;Ligabue, F.;Lusiani, A.;Mannelli, E. B.;Marrocchesi, P. S.;Messineo, A.;Palla, F.;Sanguinetti, G.;Scapellato, S.;Steinberger, J.;Tenchini, R.;Tonelli, G.;Triggiani, G.;Carter, J. M.;Green, M. G.;March, P. V.;Medcalf, T.;Saich, M. R.;Strong, J. A.;Thomas, R. M.;Wildish, T.;Botterill, D. R.;Clifft, R. W.;Edgecock, T. R.;Edwards, M.;Fisher, S. M.;Harvey, J.;Jones, T. J.;Norton, P. R.;Salmon, D. P.;Thompson, J. C.;Aubourg, E.;Bloch-Devaux, B.;Colas, P.;Klopfenstein, C.;Lançon, E.;Locci, E.;Loucatos, S.;Mirabito, L.;Monnier, E.;Perez, P.;Perrier, F.;Rander, J.;Renardy, J. -F.;Roussanrie, A.;Schuller, J. -P.;Ashman, J. G.;Booth, C. N.;Combley, F.;Dinnsdale, M.;Martin, J.;Parker, D.;Thompson, L. F.;Brandt, S.;Burkhardt, H.;Grupen, C.;Meinhard, H.;Neugebauer, E.;Schäfer, U.;Seywerd, H.;Gobbo, B.;Liello, F.;Millotti, E.;Ragusa, F.;Rolandi, L.;Bellantoni, L.;Boudreau, J. F.;Cinabro, D.;Conway, J. S.;Cowen, D. F.;Feng, Z.;Harton, J. L.;Hilgart, J.;Jared, R. C.;Johnson, R. P.;Leclaire, B. W.;Pan, Y. B.;Parker, T.;Pater, J. R.;Saadi, Y.;Sharma, V.;Wear, J. A.;Weber, F. V.;Wu, Sau Lan;Xue, S. T.;Zobernig, G.
1990-01-01
Abstract
More extensive and precise results are reported on the parameters of Z decay. On the basis of 20 000 Z decays collected with the ALEPH detector at LEP we find Mz=91.182±0.026 (exp.) ±0.030 (beam) GeV, Γz=2.541±0.056 GeV and σhad0=41.4±0.8 nb. The partial widths for the hadronic and leptonic channels are Γhad=1804±44 MeV, Γe+e−=82.1±3.4 MeV, Γμ+μ−=87.9±6.0 MeV and Γτ+τ−=86.1±5.6 MeV, in good agreement with the standard model. On the basis of the average leptonic width Γℓ+ℓ−=83.9±2.2 MeV, the effective weak mixing angle is found to be sin2θw(Mz)=0.231±0.008. Usin g the partial widths calculated in the standard model, the number of light neutrino families is Nν=3.01±0.15 (exp.)±0.05 (theor.).
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.