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POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca
For the construction of the silicon microstrip detectors for the Tracker of the CMS experiment, two different substrate choices were investigated. A high-resistivity (6 k Omega cm) substrate with (111) crystal orientation and a low-resistivity (2 k Omega cm) one with (100) crystal orientation. The interstrip and backplane capacitances mere measured before and after the exposure to radiation in a range of strip pitches from 60 mu m to 240 mu m and for values of the width-over-pitch ratio between 0.1 and 0.5.
Comparative study of < 111 > and < 100 > crystals and capacitance measurements on Si strip detectors in CMS / Albergo, S.; Angarano, M.; Azzi, P.; Bacchetta, E.; Babucci, N.; Bader, A.; Bagliesi, G.; Basti, A.; Bilei, U.; Biggeri, G. M.; Bisello, D.; Boemi, D.; Bosi, F.; Bozzi, L.; Borrello, C.; Braibant, S.; Breuker, H.; Bruzzi, M.; Busoni, A.; Buffini, S.; Candelori, A.; Caner, A.; Castaldi, R.; Catacchini, A.; Castro, E.; Checcucci, B.; Ciampolini, P.; Creanza, C.; Civinini, D.; D'Alessandro, R.; da Rold, M.; de Palma, N.; Demaria, M.; Dell'Orso, R.; della Marina, R.; Eklund, S.; Dutta, C.; Elliott-Peisert, A.; Feld, L.; Fiore, L.; French, E.; Focardi, M.; Freudenreich, K.; Fürtjes, A.; Giorgi, A.; Giassi, M.; Giraldo, A.; Glessing, B.; Gu, W. H.; Hammerstrom, G.; Hall, R.; Hebbeker, T.; Hrubec, J.; Kaminsky, M.; Huhtinen, A.; Karimaki, V.; Koenig, St.; Lariccia, M.; Krammer, P.; Lenzi, M.; Loreti, M.; Lustermann, K.; Luebelsmeyer, W.; Mättig, P.; Maggi, G.; Mantovani, M.; Mannelli, G.; Marchioro, A.; Mariotti, C.; Mcevoy, G.; Martignon, B.; Meschini, M.; Messineo, A.; Migliore, E.; Paccagnella, S.; My, A.; Palla, F.; Pandoulas, D.; Papi, A.; Passeri, G.; Parrini, D.; Pieri, M.; Piperov, S.; Potenza, R.; Raffaelli, V.; Radicci, F.; Raymond, M.; Santocchia, A.; Selvaggi, B.; Schmitt, G.; Servoli, L.; Sguazzoni, G.; Silvestris, R.; Siedling, L.; Skog, K.; Starodumov, A.; Stefanini, I.; Stavitski, G.; Tempesta, P.; Tonelli, G.; Tuuva, A.; Tricomi, T.; Vannini, C.; Verdini, P. G.; Viertel, G.; Yahong, Z.; Xie, Li; Watts, S.; Wittmer, B.. - In: IL NUOVO CIMENTO DELLA SOCIETÀ ITALIANA DI FISICA. B. - ISSN 1826-9877. - STAMPA. - 112:11(1999), pp. 1261-1269.
Comparative study of < 111 > and < 100 > crystals and capacitance measurements on Si strip detectors in CMS
For the construction of the silicon microstrip detectors for the Tracker of the CMS experiment, two different substrate choices were investigated. A high-resistivity (6 k Omega cm) substrate with (111) crystal orientation and a low-resistivity (2 k Omega cm) one with (100) crystal orientation. The interstrip and backplane capacitances mere measured before and after the exposure to radiation in a range of strip pitches from 60 mu m to 240 mu m and for values of the width-over-pitch ratio between 0.1 and 0.5.
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11589/4381
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.