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POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca
Using 18.8 pb-1 of data collected in 1990 and 1991, ALEPH has measured the tau polarisation in the decay modes tau-->enunuBAR, tau-->mununuBAR, tau-->rhonu tau-->a1nu, using both the individual tau decay kinematics and the event acollinearity. The measurement of the tau polarisation as a function of the production polar angle yields the two parameters A(tau) and A(e), where A(l) = 2g(V)l g(A)l/[(g(V)l)2 + (g(A)l)2]. The results A(tau) = 0.143 +/- 0.023 and A(e) = 0. 120 +/- 0.026 are consistent with the hypothesis of electron-tau universality. Assuming universality yields a measurement of the effective weak mixing angle sin 2theta(W)eff = 0.2332 +/- 0.0022.
Measurement of the tau polarisation at the Z resonance / Buskulic, D.; Decamp, D.; Goy, C.; Lees, J. -P.; Minard, M. -N.; Mours, B.; Pietrzyk, B.; Alemany, R.; Ariztizabal, F.; Comas, P.; Crespo, J. M.; Delfino, M.; Fenandez, E.; Fernandez-Bosman, M.; Gaitan, V.; Garrido, Ll.; Mattison, T.; Pacheco, A.; Padilla, C.; Pascual, A.; Creanza, D.; de Palma, M.; Farilla, A.; Iaselli, G.; Maggi, G.; Maggi, M.; Natali, S.; Nuzzo, S.; Quattromini, M.; Ranieri, A.; Raso, G.; Romano, F.; Ruggieri, F.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Chai, Y.; Hu, H.; Huang, D.; Huang, X.; Lin, J.; Wang, T.; Xie, Y.; Xu, D.; Xu, R.; Zhang, J.; Zhao, W.; Bauerdick, L. A. T.; Blucher, E.; Bonvicini, G.; Boudreau, J.; Casper, D.; Drevermann, H.; Forty, R. W.; Ganis, G.; Gay, C.; Hagelberg, R.; Harvey, J.; Haywood, S.; Hilgart, J.; Jacobsen, R.; Jost, B.; Knobloch, J.; Lehraus, I.; Lohse, T.; Lusiani, A.; Martinez, M.; Mato, P.; Meinhard, H.; Minten, A.; Miotto, A.; Miquel, R.; Moser, H. -G.; Palazzi, P.; Perlas, J. A.; Pusztaszeri, J. -F.; Ranjard, F.; Redlinger, G.; Rolandi, L.; Rothberg, J.; Ruan, T.; Saich, M.; Schlatter, D.; Schmelling, M.; Sefkow, F.; Tejessy, W.; Wachsmuth, H.; Wiedenmann, W.; Wildish, T.; Witzeling, W.; Wotschack, J.; Ajaltouni, Z.; Badaud, F.; Bardadin-Otwinowska, M.; El Fellous, R.; Falvard, A.; Gay, P.; Guicheney, C.; Henrard, P.; Jousset, J.; Michel, B.; Montret, J. -C.; Pallin, D.; Perret, P.; Podlyski, F.; Proriol, J.; Prulhière, F.; Saadi, F.; Fearnley, T.; Hansen, J. D.; Hansen, J. R.; Hansen, P. H.; Møllerud, R.; Nilsson, B. S.; Candlin, D. J.; Parsons, M. I.; Veitch, E.; Moneta, L.; Parrini, G.; Corden, M.; Georgiopoulos, C.; Ikeda, M.; Lannutti, J.; Levinthal, D.; Mermikides, M.; Sawyer, L.; Wasserbaech, S.; Antonelli, A.; Baldini, R.; Bencivenni, G.; Bologna, G.; Bossi, F.; Campana, P.; Capon, G.; Cerutti, F.; Chiarella, V.; D'Ettorre-Piazzoli, B.; Felici, G.; Laurelli, P.; Mannocchi, G.; Murtas, F.; Murtas, G. P.; Passalacqua, L.; Pepe-Altarelli, M.; Picchi, P.; Colrain, P.; Ten Have, I.; Lynch, J. G.; Maitland, W.; Morton, W. T.; Raine, C.; Reeves, P.; Scarr, J. M.; Smith, K.; Smith, M. G.; Thompson, A. S.; Turnbull, R. M.; Brandl, B.; Braun, O.; Geweniger, C.; Hanke, P.; Hepp, V.; Kluge, E. E.; Maumary, Y.; Putzer, A.; Rensch, B.; Stahl, A.; Tittel, K.; Wunsch, M.; Belk, A. T.; Beuselinck, R.; Binnie, D. M.; Cameron, W.; Cattaneo, M.; Colling, D. J.; Dornan, P. J.; Dugeay, S.; Greene, A. M.; Hassaed, J. F.; Lieske, N. M.; Nash, J.; Payne, D. G.; Phillips, M. J.; Sedgbeer, J. K.; Tomalin, I. R.; Wright, A. G.; Girtler, P.; Kneringer, E.; Kuhn, D.; Rudolph, G.; Bowdery, C. K.; Brodbeck, T. J.; Finch, A. J.; Foster, F.; Hughes, G.; Jackson, D.; Keemer, N. R.; Nuttall, M.; Patel, A.; Sloan, T.; Snow, S. W.; Whelan, E. P.; Efthymiopoulos, I.; Kyriakis, A.; Simopoulou, E.; Vayaki, A.; Zachariadou, K.; Badier, J.; Blondel, A.; Bonneaud, G.; Brient, J. C.; Fouque, G.; Orteu, S.; Rougé, A.; Rumpf, M.; Tanaka, R.; Verderi, M.; Videau, H.; Adlung, S.; Assmann, R.; Bauer, C.; Blum, W.; Brown, D.; Cattaneo, P.; Dehning, B.; Dietl, H.; Dydak, F.; Frank, M.; Halley, A. W.; Lauber, J.; Lütjens, G.; Lutz, G.; Männer, W.; Richter, R.; Rotscheidt, H.; Schröder, J.; Schwarz, A. S.; Settles, R.; Seywerd, H.; Stierlin, U.; Stiegler, U.; Denis, R. St.; Wolf, G.; Boucrot, J.; Callot, O.; Cordier, A.; Davier, M.; Duflot, L.; Grivaz, J. -F.; Heusse, Ph.; Jaffe, D. E.; Janot, P.; Kim, D. W.; Le Diberder, F.; Lefrançois, J.; Lutz, A. -M.; Schune, M. -H.; Veillet, J. -J.; Videau, I.; Zhang, Z.; Abbaneo, D.; Bagliesi, G.; Batignani, G.; Bosisio, L.; Bottigli, U.; Bozzi, C.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Ciocci, M. A.; Dell'Orso, R.; Ferrante, I.; Fidecaro, F.; Foa, L.; Focardi, E.; Forti, F.; Giassi, A.; Giorgi, M. A.; Gregorio, A.; Ligabue, F.; Mannelli, E. B.; Marrocchesi, P. S.; Messineo, A.; Palla, F.; Rizzo, G.; Sanguinetti, G.; Spagnolo, P.; Steinberger, J.; Tenchini, R.; Tonelli, G.; Triggiani, G.; Vannini, C.; Venturi, A.; Verdini, P. G.; Walsh, J.; Betteridge, A. P.; Carter, J. M.; Green, M. G.; March, P. V.; Mir, Ll. M.; Medcalf, T.; Quazi, I. S.; Strong, J. A.; West, L. R.; Botterill, D. R.; Clifft, R. W.; Edgecock, T. R.; Edwards, M.; Fisher, S. M.; Jones, T. J.; Norton, P. R.; Salmon, D. P.; Thompson, J. C.; Kleinknecht, K.; Raab, J.; Renk, B.; Sander, H. -G.; Schmidt, H.; Steeg, F.; Walther, S. M.; Wanke, R.; Wolf, B.; Aubert, J. -J.; Bencheikh, A. M.; Benchouk, C.; Bonissent, A.; Carr, J.; Coyle, P.; Drinkard, J.; Etienne, F.; Nicod, D.; Papalexiou, S.; Payre, P.; Roos, L.; Rousseau, D.; Schwemling, P.; Talby, M.; Bloch-Devaux, B.; Colas, P.; Duarte, H.; Kozanecki, W.; Lançon, E.; Lemaire, M. C.; Locci, E.; Perez, P.; Perrier, F.; Rander, J.; Renardy, J. -F.; Rosowsky, A.; Roussarie, A.; Schuller, J. -P.; Schwindling, J.; Si Mohand, D.; Vallage, B.; Johnson, R. P.; Litke, A. M.; Taylor, G.; Wear, J.; Ashman, J. G.; Babbage, W.; Booth, C. N.; Buttar, C.; Carney, R. E.; Cartwright, S.; Combley, F.; Hatfield, F.; Thompson, L. F.; Barberio, E.; Böhrer, A.; Brandt, S.; Cowan, G.; Grupen, C.; Lutters, G.; Rivera, F.; Schäfer, U.; Della Marina, R.; Giannini, G.; Gobbo, B.; Ragusa, F.; Bellantoni, L.; Chen, W.; Cinabro, D.; Conway, J. S.; Cowen, D. F.; Feng, Z.; Ferguson, D. P. S.; Gao, Y. S.; Grahl, J.; Harton, J. L.; Jared, R. C.; Leclaire, B. W.; Lishka, C.; Pan, Y. B.; Pater, J. R.; Saadi, Y.; Schmitt, M.; Sharma, V.; Shi, Z. H.; Walsh, A. M.; Weber, F. V.; Wu, Sau Lan; Wu, X.; Zheng, M.; Zobernig, G.. - In: ZEITSCHRIFT FÜR PHYSIK. C, PARTICLES AND FIELDS. - ISSN 0170-9739. - STAMPA. - 59:3(1993), pp. 369-386. [10.1007/BF01498618]
Measurement of the tau polarisation at the Z resonance
Buskulic, D.;Decamp, D.;Goy, C.;Lees, J. -P.;Minard, M. -N.;Mours, B.;Pietrzyk, B.;Alemany, R.;Ariztizabal, F.;Comas, P.;Crespo, J. M.;Delfino, M.;Fenandez, E.;Fernandez-Bosman, M.;Gaitan, V.;Garrido, Ll.;Mattison, T.;Pacheco, A.;Padilla, C.;Pascual, A.;Creanza, D.;de Palma, M.;Farilla, A.;Iaselli, G.;Maggi, G.;Maggi, M.;Natali, S.;Nuzzo, S.;Quattromini, M.;Ranieri, A.;Raso, G.;Romano, F.;Ruggieri, F.;Selvaggi, G.;Silvestris, L.;Tempesta, P.;Zito, G.;Chai, Y.;Hu, H.;Huang, D.;Huang, X.;Lin, J.;Wang, T.;Xie, Y.;Xu, D.;Xu, R.;Zhang, J.;Zhao, W.;Bauerdick, L. A. T.;Blucher, E.;Bonvicini, G.;Boudreau, J.;Casper, D.;Drevermann, H.;Forty, R. W.;Ganis, G.;Gay, C.;Hagelberg, R.;Harvey, J.;Haywood, S.;Hilgart, J.;Jacobsen, R.;Jost, B.;Knobloch, J.;Lehraus, I.;Lohse, T.;Lusiani, A.;Martinez, M.;Mato, P.;Meinhard, H.;Minten, A.;Miotto, A.;Miquel, R.;Moser, H. -G.;Palazzi, P.;Perlas, J. A.;Pusztaszeri, J. -F.;Ranjard, F.;Redlinger, G.;Rolandi, L.;Rothberg, J.;Ruan, T.;Saich, M.;Schlatter, D.;Schmelling, M.;Sefkow, F.;Tejessy, W.;Wachsmuth, H.;Wiedenmann, W.;Wildish, T.;Witzeling, W.;Wotschack, J.;Ajaltouni, Z.;Badaud, F.;Bardadin-Otwinowska, M.;El Fellous, R.;Falvard, A.;Gay, P.;Guicheney, C.;Henrard, P.;Jousset, J.;Michel, B.;Montret, J. -C.;Pallin, D.;Perret, P.;Podlyski, F.;Proriol, J.;Prulhière, F.;Saadi, F.;Fearnley, T.;Hansen, J. D.;Hansen, J. R.;Hansen, P. H.;Møllerud, R.;Nilsson, B. S.;Candlin, D. J.;Parsons, M. I.;Veitch, E.;Moneta, L.;Parrini, G.;Corden, M.;Georgiopoulos, C.;Ikeda, M.;Lannutti, J.;Levinthal, D.;Mermikides, M.;Sawyer, L.;Wasserbaech, S.;Antonelli, A.;Baldini, R.;Bencivenni, G.;Bologna, G.;Bossi, F.;Campana, P.;Capon, G.;Cerutti, F.;Chiarella, V.;D'Ettorre-Piazzoli, B.;Felici, G.;Laurelli, P.;Mannocchi, G.;Murtas, F.;Murtas, G. P.;Passalacqua, L.;Pepe-Altarelli, M.;Picchi, P.;Colrain, P.;Ten Have, I.;Lynch, J. G.;Maitland, W.;Morton, W. T.;Raine, C.;Reeves, P.;Scarr, J. M.;Smith, K.;Smith, M. G.;Thompson, A. S.;Turnbull, R. M.;Brandl, B.;Braun, O.;Geweniger, C.;Hanke, P.;Hepp, V.;Kluge, E. E.;Maumary, Y.;Putzer, A.;Rensch, B.;Stahl, A.;Tittel, K.;Wunsch, M.;Belk, A. T.;Beuselinck, R.;Binnie, D. M.;Cameron, W.;Cattaneo, M.;Colling, D. J.;Dornan, P. J.;Dugeay, S.;Greene, A. M.;Hassaed, J. F.;Lieske, N. M.;Nash, J.;Payne, D. G.;Phillips, M. J.;Sedgbeer, J. K.;Tomalin, I. R.;Wright, A. G.;Girtler, P.;Kneringer, E.;Kuhn, D.;Rudolph, G.;Bowdery, C. K.;Brodbeck, T. J.;Finch, A. J.;Foster, F.;Hughes, G.;Jackson, D.;Keemer, N. R.;Nuttall, M.;Patel, A.;Sloan, T.;Snow, S. W.;Whelan, E. P.;Efthymiopoulos, I.;Kyriakis, A.;Simopoulou, E.;Vayaki, A.;Zachariadou, K.;Badier, J.;Blondel, A.;Bonneaud, G.;Brient, J. C.;Fouque, G.;Orteu, S.;Rougé, A.;Rumpf, M.;Tanaka, R.;Verderi, M.;Videau, H.;Adlung, S.;Assmann, R.;Bauer, C.;Blum, W.;Brown, D.;Cattaneo, P.;Dehning, B.;Dietl, H.;Dydak, F.;Frank, M.;Halley, A. W.;Lauber, J.;Lütjens, G.;Lutz, G.;Männer, W.;Richter, R.;Rotscheidt, H.;Schröder, J.;Schwarz, A. S.;Settles, R.;Seywerd, H.;Stierlin, U.;Stiegler, U.;Denis, R. St.;Wolf, G.;Boucrot, J.;Callot, O.;Cordier, A.;Davier, M.;Duflot, L.;Grivaz, J. -F.;Heusse, Ph.;Jaffe, D. E.;Janot, P.;Kim, D. W.;Le Diberder, F.;Lefrançois, J.;Lutz, A. -M.;Schune, M. -H.;Veillet, J. -J.;Videau, I.;Zhang, Z.;Abbaneo, D.;Bagliesi, G.;Batignani, G.;Bosisio, L.;Bottigli, U.;Bozzi, C.;Calderini, G.;Carpinelli, M.;Ciocci, M. A.;Dell'Orso, R.;Ferrante, I.;Fidecaro, F.;Foa, L.;Focardi, E.;Forti, F.;Giassi, A.;Giorgi, M. A.;Gregorio, A.;Ligabue, F.;Mannelli, E. B.;Marrocchesi, P. S.;Messineo, A.;Palla, F.;Rizzo, G.;Sanguinetti, G.;Spagnolo, P.;Steinberger, J.;Tenchini, R.;Tonelli, G.;Triggiani, G.;Vannini, C.;Venturi, A.;Verdini, P. G.;Walsh, J.;Betteridge, A. P.;Carter, J. M.;Green, M. G.;March, P. V.;Mir, Ll. M.;Medcalf, T.;Quazi, I. S.;Strong, J. A.;West, L. R.;Botterill, D. R.;Clifft, R. W.;Edgecock, T. R.;Edwards, M.;Fisher, S. M.;Jones, T. J.;Norton, P. R.;Salmon, D. P.;Thompson, J. C.;Kleinknecht, K.;Raab, J.;Renk, B.;Sander, H. -G.;Schmidt, H.;Steeg, F.;Walther, S. M.;Wanke, R.;Wolf, B.;Aubert, J. -J.;Bencheikh, A. M.;Benchouk, C.;Bonissent, A.;Carr, J.;Coyle, P.;Drinkard, J.;Etienne, F.;Nicod, D.;Papalexiou, S.;Payre, P.;Roos, L.;Rousseau, D.;Schwemling, P.;Talby, M.;Bloch-Devaux, B.;Colas, P.;Duarte, H.;Kozanecki, W.;Lançon, E.;Lemaire, M. C.;Locci, E.;Perez, P.;Perrier, F.;Rander, J.;Renardy, J. -F.;Rosowsky, A.;Roussarie, A.;Schuller, J. -P.;Schwindling, J.;Si Mohand, D.;Vallage, B.;Johnson, R. P.;Litke, A. M.;Taylor, G.;Wear, J.;Ashman, J. G.;Babbage, W.;Booth, C. N.;Buttar, C.;Carney, R. E.;Cartwright, S.;Combley, F.;Hatfield, F.;Thompson, L. F.;Barberio, E.;Böhrer, A.;Brandt, S.;Cowan, G.;Grupen, C.;Lutters, G.;Rivera, F.;Schäfer, U.;Della Marina, R.;Giannini, G.;Gobbo, B.;Ragusa, F.;Bellantoni, L.;Chen, W.;Cinabro, D.;Conway, J. S.;Cowen, D. F.;Feng, Z.;Ferguson, D. P. S.;Gao, Y. S.;Grahl, J.;Harton, J. L.;Jared, R. C.;Leclaire, B. W.;Lishka, C.;Pan, Y. B.;Pater, J. R.;Saadi, Y.;Schmitt, M.;Sharma, V.;Shi, Z. H.;Walsh, A. M.;Weber, F. V.;Wu, Sau Lan;Wu, X.;Zheng, M.;Zobernig, G.
1993-01-01
Abstract
Using 18.8 pb-1 of data collected in 1990 and 1991, ALEPH has measured the tau polarisation in the decay modes tau-->enunuBAR, tau-->mununuBAR, tau-->rhonu tau-->a1nu, using both the individual tau decay kinematics and the event acollinearity. The measurement of the tau polarisation as a function of the production polar angle yields the two parameters A(tau) and A(e), where A(l) = 2g(V)l g(A)l/[(g(V)l)2 + (g(A)l)2]. The results A(tau) = 0.143 +/- 0.023 and A(e) = 0. 120 +/- 0.026 are consistent with the hypothesis of electron-tau universality. Assuming universality yields a measurement of the effective weak mixing angle sin 2theta(W)eff = 0.2332 +/- 0.0022.
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.