Elia, Domenico
 Distribuzione geografica
Continente #
AS - Asia 18
NA - Nord America 10
EU - Europa 4
Totale 32
Nazione #
IN - India 9
US - Stati Uniti d'America 9
SG - Singapore 5
CN - Cina 2
IT - Italia 2
CA - Canada 1
HK - Hong Kong 1
NL - Olanda 1
UA - Ucraina 1
UZ - Uzbekistan 1
Totale 32
Città #
Council Bluffs 5
San Jose 4
Singapore 3
Beijing 1
Bécancour 1
Hong Kong 1
Qingdao 1
Simferopol 1
Tashkent 1
Totale 18
Nome #
Time performance of Analog Pixel Test Structures with in-chip operational amplifier implemented in 65 nm CMOS imaging process 20
Characterisation of the first wafer-scale prototype for the ALICE ITS3 upgrade: The monolithic stitched sensor (MOSS) 13
Influence of radiation and AC coupling on time performance of analog pixels test structures in 65 nm CMOS technology 2
Totale 35
Categoria #
all - tutte 240
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 240


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2025/202635 0 0 0 0 0 0 0 0 15 11 9 0
Totale 35