Elia, Domenico
 Distribuzione geografica
Continente #
AS - Asia 20
NA - Nord America 18
EU - Europa 7
Continente sconosciuto - Info sul continente non disponibili 3
Totale 48
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 17
IN - India 9
SG - Singapore 5
IT - Italia 4
BD - Bangladesh 2
CN - Cina 2
CA - Canada 1
HK - Hong Kong 1
NL - Olanda 1
RU - Federazione Russa 1
UA - Ucraina 1
UZ - Uzbekistan 1
Totale 45
Città #
Council Bluffs 8
San Jose 4
Singapore 3
Beijing 1
Buffalo 1
Bécancour 1
Hong Kong 1
Marano di Napoli 1
Marion 1
Miami 1
Milan 1
Norfolk 1
Qingdao 1
Saratov 1
Simferopol 1
Tashkent 1
Totale 28
Nome #
Time performance of Analog Pixel Test Structures with in-chip operational amplifier implemented in 65 nm CMOS imaging process 24
Characterisation of the first wafer-scale prototype for the ALICE ITS3 upgrade: The monolithic stitched sensor (MOSS) 18
Influence of radiation and AC coupling on time performance of analog pixels test structures in 65 nm CMOS technology 6
Totale 48
Categoria #
all - tutte 436
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 436


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2025/202635 0 0 0 0 0 0 0 0 15 11 9 0
2026/202713 8 5 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
Totale 48