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POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca
A measurement of the inclusive semileptonic branching ratios of b hadrons produced in Z decay, is presented, using four million hadronic events collected by the ALEPH detector from 1991 to 1995. Electrons and muons are selected opposite to b-tagged hemispheres. Two different methods are explored to distinguish the contributions from direct b --> Xlnu and cascade b --> c --> Xlnu decays to the total lepton yield. One is based on the lepton transverse momentum spectrum, the other makes use of the correlation between the charge of the lepton and charge estimators built from tracks in the opposite hemisphere of the event. The latter method reduces the dependence on the modelling of semileptonic b decays. The results obtained by averaging the two techniques are BR(b --> Xlnu) = 0.1070 +/- 0.0010(stat) +/- 0.0023(syst) +/- 0.0026 (model), BR(b --> c --> Xlnu) = 0.0818 +/- 0.0015(stat) +/- 0.0022(Syst) (+0.0010)(-0.0014) (model).
Inclusive semileptonic branching ratios of b hadrons produced in Z decays / Heister, A.; Schael, S.; Barate, R.; De Bonis, I.; Decamp, D.; Goy, C.; Lees, J. -P.; Merle, E.; Minard, M. -N.; Pietrzyk, B.; Boix, G.; Bravo, S.; Casado, M. P.; Chmeissani, M.; Crespo, J. M.; Fernandez, E.; Fernandez-Bosman, M.; Garrido, Ll.; Graugés, E.; Martinez, M.; Merino, G.; Miquel, R.; Mir, Ll. M.; Pacheco, A.; Ruiz, H.; Colaleo, A.; Creanza, D.; de Palma, M.; Iaselli, G.; Maggi, G.; Maggi, M.; Nuzzo, S.; Ranieri, A.; Raso, G.; Ruggieri, F.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Tricomi, A.; Zito, G.; Huang, X.; Lin, J.; Ouyang, Q.; Wang, T.; Xie, Y.; Xu, R.; Xue, S.; Zhang, J.; Zhang, L.; Zhao, W.; Abbaneo, D.; Azzurri, P.; Buchmüller, O.; Cattaneo, M.; Cerutti, F.; Clerbaux, B.; Drevermann, H.; Forty, R. W.; Frank, M.; Gianotti, F.; Greening, T. C.; Hansen, J. B.; Harvey, J.; Hutchcroft, D. E.; Janot, P.; Jost, B.; Kado, M.; Mato, P.; Moutoussi, A.; Ranjard, F.; Rolandi, L.; Schlatter, D.; Schneider, O.; Sguazzoni, G.; Tejessy, W.; Teubert, F.; Valassi, A.; Videau, I.; Ward, J.; Badaud, F.; Falvard, A.; Gay, P.; Henrard, P.; Jousset, J.; Michel, B.; Monteil, S.; Montret, J. -C.; Pallin, D.; Perret, P.; Hansen, J. D.; Hansen, J. R.; Hansen, P. H.; Nilsson, B. S.; Wäänänen, A.; Kyriakis, A.; Markou, C.; Simopoulou, E.; Vayaki, A.; Zachariadou, K.; Blondel, A.; Bonneaud, G.; Brient, J. -C.; Rougé, A.; Rumpf, M.; Swynghedauw, M.; Verderi, M.; Videau, H.; Ciulli, V.; Focardi, E.; Parrini, G.; Antonelli, A.; Antonelli, M.; Bencivenni, G.; Bologna, G.; Bossi, F.; Campana, P.; Capon, G.; Chiarella, V.; Laurelli, P.; Mannocchi, G.; Murtas, F.; Murtas, G. P.; Passalacqua, L.; Pepe-Altarelli, M.; Spagnolo, P.; Halley, A.; Lynch, J. G.; Negus, P.; O'Shea, V.; Raine, C.; Thompson, A. S.; Wasserbaech, S.; Cavanaugh, R.; Dhamotharan, S.; Geweniger, C.; Hanke, P.; Hansper, G.; Hepp, V.; Kluge, E. E.; Putzer, A.; Sommer, J.; Tittel, K.; Werner, S.; Wunsch, M.; Beuselinck, R.; Binnie, D. M.; Cameron, W.; Dornan, P. J.; Girone, M.; Marinelli, N.; Sedgbeer, J. K.; Thompson, J. C.; Ghete, V. M.; Girtler, P.; Kneringer, E.; Kuhn, D.; Rudolph, G.; Bouhova-Thacker, E.; Bowdery, C. K.; Finch, A. J.; Foster, F.; Hughes, G.; Jones, R. W. L.; Pearson, M. R.; Robertson, N. A.; Jakobs, K.; Kleinknecht, K.; Quast, G.; Renk, B.; Sander, H. -G.; Wachsmuth, H.; Zeitnitz, C.; Bonissent, A.; Carr, J.; Coyle, P.; Leroy, O.; Payre, P.; Rousseau, D.; Talby, M.; Ragusa, F.; David, A.; Dietl, H.; Ganis, G.; Hüttmann, K.; Lütjens, G.; Mannert, C.; Männer, W.; Moser, H. -G.; Settles, R.; Stenzel, H.; Wiedenmann, W.; Wolf, G.; Boucrot, J.; Callot, O.; Davier, M.; Duflot, L.; Grivaz, J. -F.; Heusse, Ph.; Jacholkowska, A.; Lefrançois, J.; Veillet, J. -J.; Yuan, C.; Bagliesi, G.; Boccali, T.; Foà, L.; Giammanco, A.; Giassi, A.; Ligabue, F.; Messineo, A.; Palla, F.; Sanguinetti, G.; Sciabà, A.; Tenchini, R.; Venturi, A.; Verdini, P. G.; Blair, G. A.; Cowan, G.; Green, M. G.; Medcalf, T.; Misiejuk, A.; Strong, J. A.; Teixeira-Dias, P.; von Wimmersperg-Toeller, J. H.; Clifft, R. W.; Edgecock, T. R.; Norton, P. R.; Tomalin, I. R.; Bloch-Devaux, B.; Colas, P.; Emery, S.; Kozanecki, W.; Lançon, E.; Lemaire, M. -C.; Locci, E.; Perez, P.; Rander, J.; Renardy, J. -F.; Roussarie, A.; Schuller, J. -P.; Schwindling, J.; Trabelsi, A.; Vallage, B.; Konstantinidis, N.; Litke, A. M.; Taylor, G.; Booth, C. N.; Cartwright, S.; Combley, F.; Lehto, M.; Thompson, L. F.; Affholderbach, K.; Böhrer, A.; Brandt, S.; Grupen, C.; Ngac, A.; Prange, G.; Sieler, U.; Giannini, G.; Rothberg, J.; Armstrong, S. R.; Berkelman, K.; Cranmer, K.; Ferguson, D. P. S.; Gao, Y.; González, S.; Hayes, O. J.; Hu, H.; Jin, S.; Kile, J.; Mcnamara, P. A.; Nielsen, J.; Pan, Y. B.; von Wimmersperg-Toeller, J. H.; Wiedenmann, W.; Wu, J.; Wu, Sau Lan; Wu, X.; Zobernig, G.; Dissertori, G.. - In: THE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL. C, PARTICLES AND FIELDS. - ISSN 1434-6044. - STAMPA. - 22:4(2002), pp. 613-626. [10.1007/s100520100851]
Inclusive semileptonic branching ratios of b hadrons produced in Z decays
Heister, A.;Schael, S.;Barate, R.;De Bonis, I.;Decamp, D.;Goy, C.;Lees, J. -P.;Merle, E.;Minard, M. -N.;Pietrzyk, B.;Boix, G.;Bravo, S.;Casado, M. P.;Chmeissani, M.;Crespo, J. M.;Fernandez, E.;Fernandez-Bosman, M.;Garrido, Ll.;Graugés, E.;Martinez, M.;Merino, G.;Miquel, R.;Mir, Ll. M.;Pacheco, A.;Ruiz, H.;Colaleo, A.;Creanza, D.;de Palma, M.;Iaselli, G.;Maggi, G.;Maggi, M.;Nuzzo, S.;Ranieri, A.;Raso, G.;Ruggieri, F.;Selvaggi, G.;Silvestris, L.;Tempesta, P.;Tricomi, A.;Zito, G.;Huang, X.;Lin, J.;Ouyang, Q.;Wang, T.;Xie, Y.;Xu, R.;Xue, S.;Zhang, J.;Zhang, L.;Zhao, W.;Abbaneo, D.;Azzurri, P.;Buchmüller, O.;Cattaneo, M.;Cerutti, F.;Clerbaux, B.;Drevermann, H.;Forty, R. W.;Frank, M.;Gianotti, F.;Greening, T. C.;Hansen, J. B.;Harvey, J.;Hutchcroft, D. E.;Janot, P.;Jost, B.;Kado, M.;Mato, P.;Moutoussi, A.;Ranjard, F.;Rolandi, L.;Schlatter, D.;Schneider, O.;Sguazzoni, G.;Tejessy, W.;Teubert, F.;Valassi, A.;Videau, I.;Ward, J.;Badaud, F.;Falvard, A.;Gay, P.;Henrard, P.;Jousset, J.;Michel, B.;Monteil, S.;Montret, J. -C.;Pallin, D.;Perret, P.;Hansen, J. D.;Hansen, J. R.;Hansen, P. H.;Nilsson, B. S.;Wäänänen, A.;Kyriakis, A.;Markou, C.;Simopoulou, E.;Vayaki, A.;Zachariadou, K.;Blondel, A.;Bonneaud, G.;Brient, J. -C.;Rougé, A.;Rumpf, M.;Swynghedauw, M.;Verderi, M.;Videau, H.;Ciulli, V.;Focardi, E.;Parrini, G.;Antonelli, A.;Antonelli, M.;Bencivenni, G.;Bologna, G.;Bossi, F.;Campana, P.;Capon, G.;Chiarella, V.;Laurelli, P.;Mannocchi, G.;Murtas, F.;Murtas, G. P.;Passalacqua, L.;Pepe-Altarelli, M.;Spagnolo, P.;Halley, A.;Lynch, J. G.;Negus, P.;O'Shea, V.;Raine, C.;Thompson, A. S.;Wasserbaech, S.;Cavanaugh, R.;Dhamotharan, S.;Geweniger, C.;Hanke, P.;Hansper, G.;Hepp, V.;Kluge, E. E.;Putzer, A.;Sommer, J.;Tittel, K.;Werner, S.;Wunsch, M.;Beuselinck, R.;Binnie, D. M.;Cameron, W.;Dornan, P. J.;Girone, M.;Marinelli, N.;Sedgbeer, J. K.;Thompson, J. C.;Ghete, V. M.;Girtler, P.;Kneringer, E.;Kuhn, D.;Rudolph, G.;Bouhova-Thacker, E.;Bowdery, C. K.;Finch, A. J.;Foster, F.;Hughes, G.;Jones, R. W. L.;Pearson, M. R.;Robertson, N. A.;Jakobs, K.;Kleinknecht, K.;Quast, G.;Renk, B.;Sander, H. -G.;Wachsmuth, H.;Zeitnitz, C.;Bonissent, A.;Carr, J.;Coyle, P.;Leroy, O.;Payre, P.;Rousseau, D.;Talby, M.;Ragusa, F.;David, A.;Dietl, H.;Ganis, G.;Hüttmann, K.;Lütjens, G.;Mannert, C.;Männer, W.;Moser, H. -G.;Settles, R.;Stenzel, H.;Wiedenmann, W.;Wolf, G.;Boucrot, J.;Callot, O.;Davier, M.;Duflot, L.;Grivaz, J. -F.;Heusse, Ph.;Jacholkowska, A.;Lefrançois, J.;Veillet, J. -J.;Yuan, C.;Bagliesi, G.;Boccali, T.;Foà, L.;Giammanco, A.;Giassi, A.;Ligabue, F.;Messineo, A.;Palla, F.;Sanguinetti, G.;Sciabà, A.;Tenchini, R.;Venturi, A.;Verdini, P. G.;Blair, G. A.;Cowan, G.;Green, M. G.;Medcalf, T.;Misiejuk, A.;Strong, J. A.;Teixeira-Dias, P.;von Wimmersperg-Toeller, J. H.;Clifft, R. W.;Edgecock, T. R.;Norton, P. R.;Tomalin, I. R.;Bloch-Devaux, B.;Colas, P.;Emery, S.;Kozanecki, W.;Lançon, E.;Lemaire, M. -C.;Locci, E.;Perez, P.;Rander, J.;Renardy, J. -F.;Roussarie, A.;Schuller, J. -P.;Schwindling, J.;Trabelsi, A.;Vallage, B.;Konstantinidis, N.;Litke, A. M.;Taylor, G.;Booth, C. N.;Cartwright, S.;Combley, F.;Lehto, M.;Thompson, L. F.;Affholderbach, K.;Böhrer, A.;Brandt, S.;Grupen, C.;Ngac, A.;Prange, G.;Sieler, U.;Giannini, G.;Rothberg, J.;Armstrong, S. R.;Berkelman, K.;Cranmer, K.;Ferguson, D. P. S.;Gao, Y.;González, S.;Hayes, O. J.;Hu, H.;Jin, S.;Kile, J.;McNamara, P. A.;Nielsen, J.;Pan, Y. B.;von Wimmersperg-Toeller, J. H.;Wiedenmann, W.;Wu, J.;Wu, Sau Lan;Wu, X.;Zobernig, G.;Dissertori, G.
2002-01-01
Abstract
A measurement of the inclusive semileptonic branching ratios of b hadrons produced in Z decay, is presented, using four million hadronic events collected by the ALEPH detector from 1991 to 1995. Electrons and muons are selected opposite to b-tagged hemispheres. Two different methods are explored to distinguish the contributions from direct b --> Xlnu and cascade b --> c --> Xlnu decays to the total lepton yield. One is based on the lepton transverse momentum spectrum, the other makes use of the correlation between the charge of the lepton and charge estimators built from tracks in the opposite hemisphere of the event. The latter method reduces the dependence on the modelling of semileptonic b decays. The results obtained by averaging the two techniques are BR(b --> Xlnu) = 0.1070 +/- 0.0010(stat) +/- 0.0023(syst) +/- 0.0026 (model), BR(b --> c --> Xlnu) = 0.0818 +/- 0.0015(stat) +/- 0.0022(Syst) (+0.0010)(-0.0014) (model).
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
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