POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca
Archivio istituzionale dei prodotti della ricerca destinato a raccogliere, rendere visibile e conservarela produzione scientifica del Politecnico di Bari.
EnglishA Statistical Approach to the Parametric Fault Testing of Analogue Circuits / Cantatore E; Corsi F; De Venuto D; Di Ciano M; Gramegna G; Marzocca C. - (1996), pp. 378-383. ((Intervento presentato al convegno XI Conference on Design of Integrated Circuits and Systems tenutosi a Barcelona, Spain nel Nov. 20-22, 1996.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11589/15624| Autori interni: | DE VENUTO, Daniela MARZOCCA, Cristoforo CORSI, Francesco |
| Titolo: | A Statistical Approach to the Parametric Fault Testing of Analogue Circuits |
| Data di pubblicazione: | 1996 |
| Nome del convegno: | XI Conference on Design of Integrated Circuits and Systems |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11589/15624 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Copyright © 2017