POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca
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EnglishLayout-Based Defect Analysis and Test of Radiation Hardened Mixed-Signal Circuits / De Venuto D; Corsi F; Ohletz MJ. - (1999). ((Intervento presentato al convegno IEEE European Test Workshop, ETW99 tenutosi a Costance, Germany nel May 25-28, 1999.
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http://hdl.handle.net/11589/15852| Autori interni: | CORSI, Francesco DE VENUTO, Daniela |
| Titolo: | Layout-Based Defect Analysis and Test of Radiation Hardened Mixed-Signal Circuits |
| Data di pubblicazione: | 1999 |
| Nome del convegno: | IEEE European Test Workshop, ETW99 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11589/15852 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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