Layout-Based Defect Analysis and Test of Radiation Hardened Mixed-Signal Circuits / DE VENUTO, Daniela; Corsi, Francesco; Ohletz, Mj. - (1999). ( IEEE European Test Workshop, ETW99 Costance, Germany May 25-28, 1999).
Layout-Based Defect Analysis and Test of Radiation Hardened Mixed-Signal Circuits
DE VENUTO, Daniela;CORSI, Francesco;
1999
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
