Layout-Based Defect Analysis and Test of Radiation Hardened Mixed-Signal Circuits / DE VENUTO, D., Corsi, F., Ohletz, M.j.. - (1999). (IEEE European Test Workshop, ETW99 Costance, Germany May 25-28, 1999).
Layout-Based Defect Analysis and Test of Radiation Hardened Mixed-Signal Circuits
DE VENUTO, Daniela;CORSI, Francesco;
1999
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