Layout-Based Defect Analysis and Test of Radiation Hardened Mixed-Signal Circuits / De Venuto D; Corsi F; Ohletz MJ. - (1999). ((Intervento presentato al convegno IEEE European Test Workshop, ETW99 tenutosi a Costance, Germany nel May 25-28, 1999.
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Autori: | |
Titolo: | Layout-Based Defect Analysis and Test of Radiation Hardened Mixed-Signal Circuits |
Data di pubblicazione: | 1999 |
Nome del convegno: | IEEE European Test Workshop, ETW99 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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