Layout-Based Defect Analysis of Closed Geometry NMOS Transistor Designs / DE VENUTO, Daniela; Corsi, Francesco; Ohletz, Mj. - (1999). (Intervento presentato al convegno 5th IEEE International Mixed-Signal testing Workshop tenutosi a Whistler, British Columbia (Canada) nel June 15-18, 1999).
Layout-Based Defect Analysis of Closed Geometry NMOS Transistor Designs
DE VENUTO, Daniela;CORSI, Francesco;
1999-01-01
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