POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca
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EnglishLayout-Based Defect Analysis of Closed Geometry NMOS Transistor Designs / De Venuto D; Corsi F; Ohletz MJ. - (1999). ((Intervento presentato al convegno 5th IEEE International Mixed-Signal testing Workshop tenutosi a Whistler, British Columbia (Canada) nel June 15-18, 1999.
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http://hdl.handle.net/11589/16680| Autori interni: | DE VENUTO, Daniela CORSI, Francesco |
| Titolo: | Layout-Based Defect Analysis of Closed Geometry NMOS Transistor Designs |
| Data di pubblicazione: | 1999 |
| Nome del convegno: | 5th IEEE International Mixed-Signal testing Workshop |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11589/16680 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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