Layout-Based Defect Analysis of Closed Geometry NMOS Transistor Designs / DE VENUTO, D., Corsi, F., Ohletz, M.j.. - (1999). (5th IEEE International Mixed-Signal testing Workshop Whistler, British Columbia (Canada) June 15-18, 1999).
Layout-Based Defect Analysis of Closed Geometry NMOS Transistor Designs
DE VENUTO, Daniela;CORSI, Francesco;
1999
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