Fault Diagnosis in VLSI IC's by Simultaneous use of Scanning Electron and Tunneling Microscopy / Bonati, B., Corsi, F., DE VENUTO, D., Selci, S.. - (1992). (Electron Microscopy, EUREM 92, Granada, Espana GRANADA SETTEMBRE 1992).
Fault Diagnosis in VLSI IC's by Simultaneous use of Scanning Electron and Tunneling Microscopy
CORSI, Francesco;DE VENUTO, Daniela;
1992
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