POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca
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EnglishFault Diagnosis in VLSI IC's by Simultaneous use of Scanning Electron and Tunneling Microscopy / Bonati B; Corsi F; De Venuto D; Selci S. - (1992). ((Intervento presentato al convegno Electron Microscopy, EUREM 92, Granada, Espana tenutosi a GRANADA nel SETTEMBRE 1992.
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| Autori: | |
| Titolo: | Fault Diagnosis in VLSI IC's by Simultaneous use of Scanning Electron and Tunneling Microscopy |
| Data di pubblicazione: | 1992 |
| Nome del convegno: | Electron Microscopy, EUREM 92, Granada, Espana |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11589/18099 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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