POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca

Use of a laser beam probe for the non-invasive measurement of signals in silicon ICs / DE VENUTO, Daniela; Corsi, Francesco. - 2:(1996), pp. 1050-1055. (Intervento presentato al convegno IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC’96 tenutosi a Brussels, Belgium nel June 1996) [10.1109/IMTC.1996.507325].

Use of a laser beam probe for the non-invasive measurement of signals in silicon ICs

DE VENUTO, Daniela;CORSI, Francesco
1996
1996
IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC’96
0-7803-3312-8
Use of a laser beam probe for the non-invasive measurement of signals in silicon ICs / DE VENUTO, Daniela; Corsi, Francesco. - 2:(1996), pp. 1050-1055. (Intervento presentato al convegno IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC’96 tenutosi a Brussels, Belgium nel June 1996) [10.1109/IMTC.1996.507325].
4.1 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11589/18101
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