POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca
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EnglishUse of a laser beam probe for the non-invasive measurement of signals in silicon ICs / De Venuto D; Corsi F. - 2(1996), pp. 1050-1055. ((Intervento presentato al convegno IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC’96 tenutosi a Brussels, Belgium nel June 1996.
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http://hdl.handle.net/11589/18101| Autori interni: | DE VENUTO, Daniela CORSI, Francesco |
| Titolo: | Use of a laser beam probe for the non-invasive measurement of signals in silicon ICs |
| Data di pubblicazione: | 1996 |
| Nome del convegno: | IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC’96 |
| ISBN: | 0-7803-3312-8 |
| Digital Object Identifier (DOI): | 10.1109/IMTC.1996.507325 |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11589/18101 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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