POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca
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EnglishCORRELATION BETWEEN LATCH-UP HYSTERESIS AND WINDOW EFFECTS IN COMMERCIAL CMOS IC'S BY MEANS OF IR MICROSCOPY AND SCANNING LASER MICROSCOPY / CORSI F; MUSCHITIELLO M; STUCCHI M; ZANONI E. - (1989). ((Intervento presentato al convegno 4TH INT. CONF. QUALITY IN ELECTRONIC COMPONENTS tenutosi a BORDEAUX nel APRILE 1989.
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http://hdl.handle.net/11589/18649| Autori: | |
| Titolo: | CORRELATION BETWEEN LATCH-UP HYSTERESIS AND WINDOW EFFECTS IN COMMERCIAL CMOS IC'S BY MEANS OF IR MICROSCOPY AND SCANNING LASER MICROSCOPY |
| Data di pubblicazione: | 1989 |
| Nome del convegno: | 4TH INT. CONF. QUALITY IN ELECTRONIC COMPONENTS |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11589/18649 |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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