CORRELATION BETWEEN LATCH-UP HYSTERESIS AND WINDOW EFFECTS IN COMMERCIAL CMOS IC'S BY MEANS OF IR MICROSCOPY AND SCANNING LASER MICROSCOPY / Corsi, F., Muschitiello, M., Stucchi, M., Zanoni, E.. - (1989). (4TH INT. CONF. QUALITY IN ELECTRONIC COMPONENTS BORDEAUX APRILE 1989).
CORRELATION BETWEEN LATCH-UP HYSTERESIS AND WINDOW EFFECTS IN COMMERCIAL CMOS IC'S BY MEANS OF IR MICROSCOPY AND SCANNING LASER MICROSCOPY
CORSI, Francesco;
1989
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