Un nuovo modello empirico per la caratterizzazione DC di MESFET in GaAs / Castagnolo, B.; Giorgio, Agostino; Perri, Anna Gina. - (1995). (Intervento presentato al convegno 96.ma Riunione Annuale A.E.I. tenutosi a Roma nel 24-27 settembre 1995).
Un nuovo modello empirico per la caratterizzazione DC di MESFET in GaAs
GIORGIO, Agostino;PERRI, Anna Gina
1995-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.