POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca

Rilevamento di Xylella fastidiosa mediante APR e analisi multispettrale / Attivissimo, F.; Adamo, F.; Di Nisio, A.; Ragolia, M.. - STAMPA. - 1:(2020), pp. 81-82. (Intervento presentato al convegno IV FORUM NAZIONALE DELLE MISURE nel 10-12 Settembre).

Rilevamento di Xylella fastidiosa mediante APR e analisi multispettrale

F. Attivissimo;F. Adamo;A. Di Nisio;M. Ragolia
2020-01-01
2020
IV FORUM NAZIONALE DELLE MISURE
Rilevamento di Xylella fastidiosa mediante APR e analisi multispettrale / Attivissimo, F.; Adamo, F.; Di Nisio, A.; Ragolia, M.. - STAMPA. - 1:(2020), pp. 81-82. (Intervento presentato al convegno IV FORUM NAZIONALE DELLE MISURE nel 10-12 Settembre).
4.1 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11589/205833
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