Di Nisio, Attilio

Di Nisio, Attilio  

Dipartimento di Ingegneria Elettrica e dell'Informazione  

Settore ING-INF/07 - Misure Elettriche e Elettroniche  

Ricercatori a tempo determinato  

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Titolo Data di pubblicazione Autori File
Misura di distorsione della base dei tempi asincrona rispetto al trigger 1-gen-2006 DI NISIO, AttilioATTIVISSIMO, FilippoGIAQUINTO, NicolaSAVINO, Mario
Measuring Time Base Distortion in Analog-Memory Sampling Digitizers 1-gen-2006 ATTIVISSIMO, FilippoDI NISIO, AttilioGIAQUINTO, NicolaSAVINO, Mario
Improved static testing of A/D converters for DC measurements 1-gen-2007 DI NISIO, AttilioCAVONE, GiuseppeGIAQUINTO, NicolaFabbiano LSAVINO, Mario
Statistical properties of an ML estimator for static ADC testing 1-gen-2007 DI NISIO, AttilioFabbiano LGIAQUINTO, NicolaSAVINO, Mario
Development of a system for soil microclimatic analysis 1-gen-2007 FABBIANO, LAURADI NISIO, AttilioADAMO, FrancescoCAVONE, Giuseppe
Measuring Dynamic Nonlinearity in High-speed Digital Scopes 1-gen-2007 DI NISIO, AttilioATTIVISSIMO, FilippoGIAQUINTO, Nicola
Test statico di convertitori A/D per misure DC 1-gen-2007 DI NISIO, AttilioGIAQUINTO, NicolaFABBIANO, LAURACAVONE, GiuseppeSAVINO, Mario
Misura di Non Linearità Dinamica di Oscilloscopi Digitali ad Alta Velocità 1-gen-2007 DI NISIO, AttilioATTIVISSIMO, FilippoGIAQUINTO, Nicola
Test di linearità simultaneo di convertitori A/D e D/A mediante stima di massima verosimiglianza 1-gen-2008 CAVONE, GiuseppeDI NISIO, AttilioGIAQUINTO, Nicola +
Sistema di Ispezione Automatico per Vetro Satinato 1-gen-2008 ADAMO, FrancescoATTIVISSIMO, FilippoDI NISIO, AttilioLANZOLLA, Anna Maria LuciaSAVINO, Mario
Sistema di ispezione automatico per vetro satinato 1-gen-2008 ADAMO, FrancescoATTIVISSIMO, FilippoDI NISIO, AttilioLANZOLLA, Anna Maria LuciaSAVINO, Mario
A Maximum Likelihood Estimator for ADC and DAC Linearity Testing 1-gen-2008 CAVONE, GiuseppeDI NISIO, AttilioGIAQUINTO, NicolaSAVINO, Mario
An automated visual inspection system for the glass industry 1-gen-2008 ADAMO, FrancescoATTIVISSIMO, FilippoDI NISIO, AttilioSAVINO, Mario
Measuring Time Base Distortion in Analog-Memory Sampling Digitizers 1-gen-2008 ATTIVISSIMO, FilippoDI NISIO, AttilioGIAQUINTO, NicolaSAVINO, Mario
Sistema di visione artificiale per l’ispezione in linea di vetro satinato 1-gen-2009 ADAMO, FrancescoATTIVISSIMO, FilippoDI NISIO, Attilio
Un algoritmo per la rilevazione di difetti su vetro satinato 1-gen-2009 ADAMO, FrancescoATTIVISSIMO, FilippoDI NISIO, AttilioSAVINO, Mario
Implementazione di un test di linearità simultaneo per ADC e DAC mediante stima di massima verosimiglianza 1-gen-2009 DI NISIO, AttilioGIAQUINTO, Nicola +
Stima dei parametri di un modello circuitale per pannelli fotovoltaici 1-gen-2009 ADAMO, FrancescoATTIVISSIMO, FilippoDI NISIO, AttilioLANZOLLA, Anna Maria LuciaSPADAVECCHIA, MAURIZIO
Loop-back linearity test of ADCs and DACs: Measuring simultaneously ADC and DAC nonlinearities by means of dithering and maximum likelihood estimation 1-gen-2009 DI NISIO, AttilioGIAQUINTO, NicolaSAVINO, Mario
A Low-cost Inspection System For Online Defects Assessment In Satin Glass 1-gen-2009 ADAMO, FrancescoATTIVISSIMO, FilippoDI NISIO, AttilioSAVINO, Mario