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The observation of the recent electron neutrino appearance in a muon neutrino beam and the high-precision measurement of the mixing angle θ13 have led to a re-evaluation of the physics potential of the T2K long-baseline neutrino oscillation experiment. Sensitivities are explored for CP violation in neutrinos, non-maximal sin22θ23, the octant of θ23, and the mass hierarchy, in addition to the measurements of δCP, sin2θ23, and Δm232, for various combinations of ν-mode and ν¯-mode data-taking.
With an exposure of 7.8×1021 protons-on-target, T2K can achieve 1σ resolution of 0.050 (0.054) on sin2θ23 and 0.040 (0.045)×10−3eV2 on Δm232 for 100% (50%) neutrino beam mode running assuming sin2θ23=0.5 and Δm232=2.4×10−3eV2. T2K will have sensitivity to the CP-violating phase δCP at 90% C.L. or better over a significant range. For example, if sin22θ23 is maximal (i.e. θ23=45∘) the range is −115∘<δCP<−60∘ for normal hierarchy and +50∘<δCP<+130∘ for inverted hierarchy. When T2K data is combined with data from the NOνA experiment, the region of oscillation parameter space where there is sensitivity to observe a non-zero δCP is substantially increased compared to if each experiment is analyzed alone.
Neutrino oscillation physics potential of the T2K experiment / Abe, K., Adam, J., Aihara, H., Akiri, T., Andreopoulos, C., Aoki, S., Ariga, A., Assylbekov, S., Autiero, D., Barbi, M., Barker, G.J., Barr, G., Bartet Friburg, P., Bass, M., Batkiewicz, M., Bay, F., Berardi, V., Berger, B.E., Berkman, S., Bhadra, S., et al.. - In: PROGRESS OF THEORETICAL AND EXPERIMENTAL PHYSICS. - ISSN 2050-3911. - 2015:4(2015). [10.1093/ptep/ptv031]
Neutrino oscillation physics potential of the T2K experiment
Abe, K.;Adam, J.;Aihara, H.;Akiri, T.;Andreopoulos, C.;Aoki, S.;Ariga, A.;Assylbekov, S.;Autiero, D.;Barbi, M.;Barker, G. J.;Barr, G.;Bartet Friburg, P.;Bass, M.;Batkiewicz, M.;Bay, F.;BERARDI, Vincenzo;Berger, B. E.;Berkman, S.;Bhadra, S.;Blaszczyk, F. D. M.;Blondel, A.;Bojechko, C.;Bordoni, S.;Boyd, S. B.;Brailsford, D.;Bravar, A.;Bronner, C.;Buchanan, N.;Calland, R. G.;Caravaca Rodríguez, J.;Cartwright, S. L.;Castillo, R.;Catanesi, M. G.;Cervera, A.;Cherdack, D.;Christodoulou, G.;Clifton, A.;Coleman, J.;Coleman, S. J.;Collazuol, G.;Connolly, K.;Cremonesi, L.;Dabrowska, A.;Danko, I.;Das, R.;Davis, S.;De Perio, P.;De Rosa, G.;Dealtry, T.;Dennis, S. R.;Densham, C.;Dewhurst, D.;Di Lodovico, F.;Di Luise, S.;Drapier, O.;Duboyski, T.;Duffy, K.;Dumarchez, J.;Dytman, S.;Dziewiecki, M.;Emery Schrenk, S.;Ereditato, A.;Escudero, L.;Feusels, T.;Finch, A. J.;Fiorentini, G. A.;Friend, M.;Fujii, Y.;Fukuda, Y.;Furmanski, A. P.;Galymov, V.;Garcia, A.;Giffin, S.;Giganti, C.;Gilje, K.;Goeldi, D.;Golan, T.;Gonin, M.;Grant, N.;Gudin, D.;Hadley, D. R.;Haegel, L.;Haesler, A.;Haigh, M. D.;Hamilton, P.;Hansen, D.;Hara, T.;Hartz, M.;Hasegawa, T.;Hastings, N. C.;Hayashino, T.;Hayato, Y.;Hearty, C.;Helmer, R. L.;Hierholzer, M.;Hignight, J.;Hillairet, A.;Himmel, A.;Hiraki, T.;Hirota, S.;Holeczek, J.;Horikawa, S.;Huang, K.;Ichikawa, A. K.;Ieki, K.;Ieva, M.;Ikeda, M.;Imber, J.;Insler, J.;Irvine, T. J.;Ishida, T.;Ishii, T.;Iwai, E.;Iwamoto, K.;Iyogi, K.;Izmaylov, A.;Jacob, A.;Jamieson, B.;Johnson, R. A.;Johnson, S.;Jo, J. H.;Jonsson, P.;Jung, C. K.;Kabirnezhad, M.;Kaboth, A. C.;Kajita, T.;Kakuno, H.;Kameda, J.;Kanazawa, Y.;Karlen, D.;Karpikov, I.;Katori, T.;Kearns, E.;Khabibullin, M.;Khotjantsev, A.;Kielczewska, D.;Kikawa, T.;Kilinski, A.;Kim, J.;King, S.;Kisiel, J.;Kitching, P.;Kobayashi, T.;Koch, L.;Koga, T.;Kolaceke, A.;Konaka, A.;Kormos, L. L.;Korzenev, A.;Koshio, Y.;Kropp, W.;Kubo, H.;Kudenko, Y.;Kurjata, R.;Kutter, T.;Lagoda, J.;Laihem, K.;Lamont, I.;Larkin, E.;Laveder, M.;Lawe, M.;Lazos, M.;Lindner, T.;Lister, C.;Litchfield, R. P.;Longhin, A.;Lopez, J. P.;Ludovici, L.;MAGALETTI, Lorenzo;Mahn, K.;Malek, M.;Manly, S.;Marino, A. D.;Marteau, J.;Martin, J. F.;Martins, P.;Martynenko, S.;Maruyama, T.;Matveev, V.;Mavrokoridis, K.;Mazzucato, E.;Mccarthy, M.;Mccauley, N.;Mcfarland, K. S.;Mcgrew, C.;Mefodiev, A.;Metelko, C.;Mezzetto, M.;Mijakowski, P.;Miller, C. A.;Minamino, A.;Mineev, O.;Missert, A.;Miura, M.;Moriyama, S.;Mueller, T.h. A.;Murakami, A.;Murdoch, M.;Murphy, S.;Myslik, J.;Nakadaira, T.;Nakahata, M.;Nakamura, K. G.;Nakamura, K.;Nakayama, S.;Nakaya, T.;Nakayoshi, K.;Nantais, C.;Nielsen, C.;Nirkko, M.;Nishikawa, K.;Nishimura, Y.;Nowak, J.;O'Keeffe, H. M.;Ohta, R.;Okumura, K.;Okusawa, T.;Oryszczak, W.;Oser, S. M.;Ovsyannikova, T.;Owen, R. A.;Oyama, Y.;Palladino, V.;Palomino, J. L.;Paolone, V.;Payne, D.;Perevozchikov, O.;Perkin, J. D.;Petrov, Y.;Pickard, L.;Pinzon Guerra, E. S.;Pistillo, C.;Plonski, P.;Poplawska, E.;Popov, B.;Posiadala Zezula, M.;Poutissou, J. M.;Poutissou, R.;Przewlocki, P.;Quilain, B.;Radicioni, E.;Ratoff, P. N.;Ravonel, M.;Rayner, M. A. M.;Redij, A.;Reeves, M.;Reinherz Aronis, E.;Riccio, C.;Rodrigues, P. A.;Rojas, P.;Rondio, E.;Roth, S.;Rubbia, A.;Ruterbories, D.;Sacco, R.;Sakashita, K.;Sánchez, F.;Sato, F.;Scantamburlo, E.;Scholberg, K.;Schoppmann, S.;Schwehr, J.;Scott, M.;Seiya, Y.;Sekiguchi, T.;Sekiya, H.;Sgalaberna, D.;Shah, R.;Shaker, F.;Shiozawa, M.;Short, S.;Shustrov, Y.;Sinclair, P.;Smith, B.;Smy, M.;Sobczyk, J. T.;Sobel, H.;Sorel, M.;Southwell, L.;Stamoulis, P.;Steinmann, J.;Still, B.;Suda, Y.;Suzuki, A.;Suzuki, K.;Suzuki, S. Y.;Suzuki, Y.;Tacik, R.;Tada, M.;Takahashi, S.;Takeda, A.;Takeuchi, Y.;Tanaka, H. K.;Tanaka, H. A.;Tanaka, M. M.;Terhorst, D.;Terri, R.;Thompson, L. F.;Thorley, A.;Tobayama, S.;Toki, W.;Tomura, T.;Totsuka, Y.;Touramanis, C.;Tsukamoto, T.;Tzanov, M.;Uchida, Y.;Vacheret, A.;Vagins, M.;Vasseur, G.;Wachala, T.;Waldron, A. V.;Wakamatsu, K.;Walter, C. W.;Wark, D.;Warzycha, W.;Wascko, M. O.;Weber, A.;Wendell, R.;Wilkes, R. J.;Wilking, M. J.;Wilkinson, C.;Williamson, Z.;Wilson, J. R.;Wilson, R. J.;Wongjirad, T.;Yamada, Y.;Yamamoto, K.;Yanagisawa, C.;Yano, T.;Yen, S.;Yershov, N.;Yokoyama, M.;Yoshida, K.;Yuan, T.;Yu, M.;Zalewska, A.;Zalipska, J.;Zambelli, L.;Zaremba, K.;Ziembicki, M.;Zimmerman, E. D.;Zito, M.;Zmuda, J.
2015
Abstract
The observation of the recent electron neutrino appearance in a muon neutrino beam and the high-precision measurement of the mixing angle θ13 have led to a re-evaluation of the physics potential of the T2K long-baseline neutrino oscillation experiment. Sensitivities are explored for CP violation in neutrinos, non-maximal sin22θ23, the octant of θ23, and the mass hierarchy, in addition to the measurements of δCP, sin2θ23, and Δm232, for various combinations of ν-mode and ν¯-mode data-taking.
With an exposure of 7.8×1021 protons-on-target, T2K can achieve 1σ resolution of 0.050 (0.054) on sin2θ23 and 0.040 (0.045)×10−3eV2 on Δm232 for 100% (50%) neutrino beam mode running assuming sin2θ23=0.5 and Δm232=2.4×10−3eV2. T2K will have sensitivity to the CP-violating phase δCP at 90% C.L. or better over a significant range. For example, if sin22θ23 is maximal (i.e. θ23=45∘) the range is −115∘<δCP<−60∘ for normal hierarchy and +50∘<δCP<+130∘ for inverted hierarchy. When T2K data is combined with data from the NOνA experiment, the region of oscillation parameter space where there is sensitivity to observe a non-zero δCP is substantially increased compared to if each experiment is analyzed alone.
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
