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We report on measurements of neutrino oscillation using data from the T2K long-baseline neutrino experiment collected between 2010 and 2013. In an analysis of muon neutrino disappearance alone, we find the following estimates and 68% confidence intervals for the two possible mass hierarchies: normal hierarchy: sin2θ23=0.514+0.055−0.056 and Δm232=(2.51±0.10)×10−3 eV2/c4 and inverted hierarchy: sin2θ23=0.511±0.055 and Δm213=(2.48±0.10)×10−3 eV2/c4. The analysis accounts for multinucleon mechanisms in neutrino interactions which were found to introduce negligible bias. We describe our first analyses that combine measurements of muon neutrino disappearance and electron neutrino appearance to estimate four oscillation parameters, |Δm2|, sin2θ23, sin2θ13, δCP, and the mass hierarchy. Frequentist and Bayesian intervals are presented for combinations of these parameters, with and without including recent reactor measurements. At 90% confidence level and including reactor measurements, we exclude the region δCP=[0.15,0.83]π for normal hierarchy and δCP=[−0.08,1.09]π for inverted hierarchy. The T2K and reactor data weakly favor the normal hierarchy with a Bayes factor of 2.2. The most probable values and 68% one-dimensional credible intervals for the other oscillation parameters, when reactor data are included, are sin2θ23=0.528+0.055−0.038 and |Δm232|=(2.51±0.11)×10−3 eV2/c4.
Measurements of neutrino oscillation in appearance and disappearance channels by the T2K experiment with 6.6×1020 protons on target / Abe, K.; Adam, J.; Aihara, H.; Akiri, T.; Andreopoulos, C.; Aoki, S.; Ariga, A.; Assylbekov, S.; Autiero, D.; Barbi, M.; Barker, G. J.; Barr, G.; Bartet Friburg, P.; Bass, M.; Batkiewicz, M.; Bay, F.; Berardi, Vincenzo; Berger, B. E.; Berkman, S.; Bhadra, S.; Blaszczyk, F. D. M.; Blondel, A.; Bolognesi, S.; Bordoni, S.; Boyd, S. B.; Brailsford, D.; Bravar, A.; Bronner, C.; Buchanan, N.; Calland, R. G.; Caravaca Rodríguez, J.; Cartwright, S. L.; Castillo, R.; Catanesi, M. G.; Cervera, A.; Cherdack, D.; Chikuma, N.; Christodoulou, G.; Clifton, A.; Coleman, J.; Coleman, S. J.; Collazuol, G.; Connolly, K.; Cremonesi, L.; Dabrowska, A.; Danko, I.; Das, R.; Davis, S.; De Perio, P.; De Rosa, G.; Dealtry, T.; Dennis, S. R.; Densham, C.; Dewhurst, D.; Di Lodovico, F.; Di Luise, S.; Dolan, S.; Drapier, O.; Duboyski, T.; Duffy, K.; Dumarchez, J.; Dytman, S.; Dziewiecki, M.; Emery Schrenk, S.; Ereditato, A.; Escudero, L.; Ferchichi, C.; Feusels, T.; Finch, A. J.; Fiorentini, G. A.; Friend, M.; Fujii, Y.; Fukuda, Y.; Furmanski, A. P.; Galymov, V.; Garcia, A.; Giffin, S.; Giganti, C.; Gilje, K.; Goeldi, D.; Golan, T.; Gonin, M.; Grant, N.; Gudin, D.; Hadley, D. R.; Haegel, L.; Haesler, A.; Haigh, M. D.; Hamilton, P.; Hansen, D.; Hara, T.; Hartz, M.; Hasegawa, T.; Hastings, N. C.; Hayashino, T.; Hayato, Y.; Hearty, C.; Helmer, R. L.; Hierholzer, M.; Hignight, J.; Hillairet, A.; Himmel, A.; Hiraki, T.; Hirota, S.; Holeczek, J.; Horikawa, S.; Hosomi, F.; Huang, K.; Ichikawa, A. K.; Ieki, K.; Ieva, M.; Ikeda, M.; Imber, J.; Insler, J.; Irvine, T. J.; Ishida, T.; Ishii, T.; Iwai, E.; Iwamoto, K.; Iyogi, K.; Izmaylov, A.; Jacob, A.; Jamieson, B.; Jiang, M.; Johnson, S.; Jo, J. H.; Jonsson, P.; Jung, C. K.; Kabirnezhad, M.; Kaboth, A. C.; Kajita, T.; Kakuno, H.; Kameda, J.; Kanazawa, Y.; Karlen, D.; Karpikov, I.; Katori, T.; Kearns, E.; Khabibullin, M.; Khotjantsev, A.; Kielczewska, D.; Kikawa, T.; Kilinski, A.; Kim, J.; King, S.; Kisiel, J.; Kitching, P.; Kobayashi, T.; Koch, L.; Koga, T.; Kolaceke, A.; Konaka, A.; Kopylov, A.; Kormos, L. L.; Korzenev, A.; Koshio, Y.; Kropp, W.; Kubo, H.; Kudenko, Y.; Kurjata, R.; Kutter, T.; Lagoda, J.; Lamont, I.; Larkin, E.; Laveder, M.; Lawe, M.; Lazos, M.; Lindner, T.; Lister, C.; Litchfield, R. P.; Longhin, A.; Lopez, J. P.; Ludovici, L.; Magaletti, Lorenzo; Mahn, K.; Malek, M.; Manly, S.; Marino, A. D.; Marteau, J.; Martin, J. F.; Martins, P.; Martynenko, S.; Maruyama, T.; Matveev, V.; Mavrokoridis, K.; Mazzucato, E.; Mccarthy, M.; Mccauley, N.; Mcfarland, K. S.; Mcgrew, C.; Mefodiev, A.; Metelko, C.; Mezzetto, M.; Mijakowski, P.; Miller, C. A.; Minamino, A.; Mineev, O.; Missert, A.; Miura, M.; Moriyama, S.; Mueller, T. h. A.; Murakami, A.; Murdoch, M.; Murphy, S.; Myslik, J.; Nakadaira, T.; Nakahata, M.; Nakamura, K. G.; Nakamura, K.; Nakayama, S.; Nakaya, T.; Nakayoshi, K.; Nantais, C.; Nielsen, C.; Nirkko, M.; Nishikawa, K.; Nishimura, Y.; Nowak, J.; O'Keeffe, H. M.; Ohta, R.; Okumura, K.; Okusawa, T.; Oryszczak, W.; Oser, S. M.; Ovsyannikova, T.; Owen, R. A.; Oyama, Y.; Palladino, V.; Palomino, J. L.; Paolone, V.; Payne, D.; Perevozchikov, O.; Perkin, J. D.; Petrov, Y.; Pickard, L.; Pinzon Guerra, E. S.; Pistillo, C.; Plonski, P.; Poplawska, E.; Popov, B.; Posiadala Zezula, M.; Poutissou, J. M.; Poutissou, R.; Przewlocki, P.; Quilain, B.; Radicioni, E.; Ratoff, P. N.; Ravonel, M.; Rayner, M. A. M.; Redij, A.; Reeves, M.; Reinherz Aronis, E.; Riccio, C.; Rodrigues, P. A.; Rojas, P.; Rondio, E.; Roth, S.; Rubbia, A.; Ruterbories, D.; Rychter, A.; Sacco, R.; Sakashita, K.; Sánchez, F.; Sato, F.; Scantamburlo, E.; Scholberg, K.; Schoppmann, S.; Schwehr, J. D.; Scott, M.; Seiya, Y.; Sekiguchi, T.; Sekiya, H.; Sgalaberna, D.; Shah, R.; Shaker, F.; Shaw, D.; Shiozawa, M.; Short, S.; Shustrov, Y.; Sinclair, P.; Smith, B.; Smy, M.; Sobczyk, J. T.; Sobel, H.; Sorel, M.; Southwell, L.; Stamoulis, P.; Steinmann, J.; Still, B.; Suda, Y.; Suzuki, A.; Suzuki, K.; Suzuki, S. Y.; Suzuki, Y.; Tacik, R.; Tada, M.; Takahashi, S.; Takeda, A.; Takeuchi, Y.; Tanaka, H. K.; Tanaka, H. A.; Tanaka, M. M.; Terhorst, D.; Terri, R.; Thompson, L. F.; Thorley, A.; Tobayama, S.; Toki, W.; Tomura, T.; Touramanis, C.; Tsukamoto, T.; Tzanov, M.; Uchida, Y.; Vacheret, A.; Vagins, M.; Vasseur, G.; Wachala, T.; Wakamatsu, K.; Walter, C. W.; Wark, D.; Warzycha, W.; Wascko, M. O.; Weber, A.; Wendell, R.; Wilkes, R. J.; Wilking, M. J.; Wilkinson, C.; Williamson, Z.; Wilson, J. R.; Wilson, R. J.; Wongjirad, T.; Yamada, Y.; Yamamoto, K.; Yanagisawa, C.; Yano, T.; Yen, S.; Yershov, N.; Yokoyama, M.; Yoo, J.; Yoshida, K.; Yuan, T.; Yu, M.; Zalewska, A.; Zalipska, J.; Zambelli, L.; Zaremba, K.; Ziembicki, M.; Zimmerman, E. D.; Zito, M.; Zmuda, J.. - In: PHYSICAL REVIEW D, PARTICLES, FIELDS, GRAVITATION, AND COSMOLOGY. - ISSN 1550-7998. - 91:7(2015). [10.1103/PhysRevD.91.072010]
Measurements of neutrino oscillation in appearance and disappearance channels by the T2K experiment with 6.6×1020 protons on target
Abe, K.;Adam, J.;Aihara, H.;Akiri, T.;Andreopoulos, C.;Aoki, S.;Ariga, A.;Assylbekov, S.;Autiero, D.;Barbi, M.;Barker, G. J.;Barr, G.;Bartet Friburg, P.;Bass, M.;Batkiewicz, M.;Bay, F.;BERARDI, Vincenzo;Berger, B. E.;Berkman, S.;Bhadra, S.;Blaszczyk, F. D. M.;Blondel, A.;Bolognesi, S.;Bordoni, S.;Boyd, S. B.;Brailsford, D.;Bravar, A.;Bronner, C.;Buchanan, N.;Calland, R. G.;Caravaca Rodríguez, J.;Cartwright, S. L.;Castillo, R.;Catanesi, M. G.;Cervera, A.;Cherdack, D.;Chikuma, N.;Christodoulou, G.;Clifton, A.;Coleman, J.;Coleman, S. J.;Collazuol, G.;Connolly, K.;Cremonesi, L.;Dabrowska, A.;Danko, I.;Das, R.;Davis, S.;De Perio, P.;De Rosa, G.;Dealtry, T.;Dennis, S. R.;Densham, C.;Dewhurst, D.;Di Lodovico, F.;Di Luise, S.;Dolan, S.;Drapier, O.;Duboyski, T.;Duffy, K.;Dumarchez, J.;Dytman, S.;Dziewiecki, M.;Emery Schrenk, S.;Ereditato, A.;Escudero, L.;Ferchichi, C.;Feusels, T.;Finch, A. J.;Fiorentini, G. A.;Friend, M.;Fujii, Y.;Fukuda, Y.;Furmanski, A. P.;Galymov, V.;Garcia, A.;Giffin, S.;Giganti, C.;Gilje, K.;Goeldi, D.;Golan, T.;Gonin, M.;Grant, N.;Gudin, D.;Hadley, D. R.;Haegel, L.;Haesler, A.;Haigh, M. D.;Hamilton, P.;Hansen, D.;Hara, T.;Hartz, M.;Hasegawa, T.;Hastings, N. C.;Hayashino, T.;Hayato, Y.;Hearty, C.;Helmer, R. L.;Hierholzer, M.;Hignight, J.;Hillairet, A.;Himmel, A.;Hiraki, T.;Hirota, S.;Holeczek, J.;Horikawa, S.;Hosomi, F.;Huang, K.;Ichikawa, A. K.;Ieki, K.;Ieva, M.;Ikeda, M.;Imber, J.;Insler, J.;Irvine, T. J.;Ishida, T.;Ishii, T.;Iwai, E.;Iwamoto, K.;Iyogi, K.;Izmaylov, A.;Jacob, A.;Jamieson, B.;Jiang, M.;Johnson, S.;Jo, J. H.;Jonsson, P.;Jung, C. K.;Kabirnezhad, M.;Kaboth, A. C.;Kajita, T.;Kakuno, H.;Kameda, J.;Kanazawa, Y.;Karlen, D.;Karpikov, I.;Katori, T.;Kearns, E.;Khabibullin, M.;Khotjantsev, A.;Kielczewska, D.;Kikawa, T.;Kilinski, A.;Kim, J.;King, S.;Kisiel, J.;Kitching, P.;Kobayashi, T.;Koch, L.;Koga, T.;Kolaceke, A.;Konaka, A.;Kopylov, A.;Kormos, L. L.;Korzenev, A.;Koshio, Y.;Kropp, W.;Kubo, H.;Kudenko, Y.;Kurjata, R.;Kutter, T.;Lagoda, J.;Lamont, I.;Larkin, E.;Laveder, M.;Lawe, M.;Lazos, M.;Lindner, T.;Lister, C.;Litchfield, R. P.;Longhin, A.;Lopez, J. P.;Ludovici, L.;MAGALETTI, Lorenzo;Mahn, K.;Malek, M.;Manly, S.;Marino, A. D.;Marteau, J.;Martin, J. F.;Martins, P.;Martynenko, S.;Maruyama, T.;Matveev, V.;Mavrokoridis, K.;Mazzucato, E.;Mccarthy, M.;Mccauley, N.;Mcfarland, K. S.;Mcgrew, C.;Mefodiev, A.;Metelko, C.;Mezzetto, M.;Mijakowski, P.;Miller, C. A.;Minamino, A.;Mineev, O.;Missert, A.;Miura, M.;Moriyama, S.;Mueller, T.h. A.;Murakami, A.;Murdoch, M.;Murphy, S.;Myslik, J.;Nakadaira, T.;Nakahata, M.;Nakamura, K. G.;Nakamura, K.;Nakayama, S.;Nakaya, T.;Nakayoshi, K.;Nantais, C.;Nielsen, C.;Nirkko, M.;Nishikawa, K.;Nishimura, Y.;Nowak, J.;O'Keeffe, H. M.;Ohta, R.;Okumura, K.;Okusawa, T.;Oryszczak, W.;Oser, S. M.;Ovsyannikova, T.;Owen, R. A.;Oyama, Y.;Palladino, V.;Palomino, J. L.;Paolone, V.;Payne, D.;Perevozchikov, O.;Perkin, J. D.;Petrov, Y.;Pickard, L.;Pinzon Guerra, E. S.;Pistillo, C.;Plonski, P.;Poplawska, E.;Popov, B.;Posiadala Zezula, M.;Poutissou, J. M.;Poutissou, R.;Przewlocki, P.;Quilain, B.;Radicioni, E.;Ratoff, P. N.;Ravonel, M.;Rayner, M. A. M.;Redij, A.;Reeves, M.;Reinherz Aronis, E.;Riccio, C.;Rodrigues, P. A.;Rojas, P.;Rondio, E.;Roth, S.;Rubbia, A.;Ruterbories, D.;Rychter, A.;Sacco, R.;Sakashita, K.;Sánchez, F.;Sato, F.;Scantamburlo, E.;Scholberg, K.;Schoppmann, S.;Schwehr, J. D.;Scott, M.;Seiya, Y.;Sekiguchi, T.;Sekiya, H.;Sgalaberna, D.;Shah, R.;Shaker, F.;Shaw, D.;Shiozawa, M.;Short, S.;Shustrov, Y.;Sinclair, P.;Smith, B.;Smy, M.;Sobczyk, J. T.;Sobel, H.;Sorel, M.;Southwell, L.;Stamoulis, P.;Steinmann, J.;Still, B.;Suda, Y.;Suzuki, A.;Suzuki, K.;Suzuki, S. Y.;Suzuki, Y.;Tacik, R.;Tada, M.;Takahashi, S.;Takeda, A.;Takeuchi, Y.;Tanaka, H. K.;Tanaka, H. A.;Tanaka, M. M.;Terhorst, D.;Terri, R.;Thompson, L. F.;Thorley, A.;Tobayama, S.;Toki, W.;Tomura, T.;Touramanis, C.;Tsukamoto, T.;Tzanov, M.;Uchida, Y.;Vacheret, A.;Vagins, M.;Vasseur, G.;Wachala, T.;Wakamatsu, K.;Walter, C. W.;Wark, D.;Warzycha, W.;Wascko, M. O.;Weber, A.;Wendell, R.;Wilkes, R. J.;Wilking, M. J.;Wilkinson, C.;Williamson, Z.;Wilson, J. R.;Wilson, R. J.;Wongjirad, T.;Yamada, Y.;Yamamoto, K.;Yanagisawa, C.;Yano, T.;Yen, S.;Yershov, N.;Yokoyama, M.;Yoo, J.;Yoshida, K.;Yuan, T.;Yu, M.;Zalewska, A.;Zalipska, J.;Zambelli, L.;Zaremba, K.;Ziembicki, M.;Zimmerman, E. D.;Zito, M.;Zmuda, J.
2015-01-01
Abstract
We report on measurements of neutrino oscillation using data from the T2K long-baseline neutrino experiment collected between 2010 and 2013. In an analysis of muon neutrino disappearance alone, we find the following estimates and 68% confidence intervals for the two possible mass hierarchies: normal hierarchy: sin2θ23=0.514+0.055−0.056 and Δm232=(2.51±0.10)×10−3 eV2/c4 and inverted hierarchy: sin2θ23=0.511±0.055 and Δm213=(2.48±0.10)×10−3 eV2/c4. The analysis accounts for multinucleon mechanisms in neutrino interactions which were found to introduce negligible bias. We describe our first analyses that combine measurements of muon neutrino disappearance and electron neutrino appearance to estimate four oscillation parameters, |Δm2|, sin2θ23, sin2θ13, δCP, and the mass hierarchy. Frequentist and Bayesian intervals are presented for combinations of these parameters, with and without including recent reactor measurements. At 90% confidence level and including reactor measurements, we exclude the region δCP=[0.15,0.83]π for normal hierarchy and δCP=[−0.08,1.09]π for inverted hierarchy. The T2K and reactor data weakly favor the normal hierarchy with a Bayes factor of 2.2. The most probable values and 68% one-dimensional credible intervals for the other oscillation parameters, when reactor data are included, are sin2θ23=0.528+0.055−0.038 and |Δm232|=(2.51±0.11)×10−3 eV2/c4.
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.