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POLITECNICO DI BARI - Catalogo dei prodotti della Ricerca
A measurement of the partial width ratio GAMMA(bbBAR)/GAMMA(had) using a method which tags the Z --> bbBAR decays through the lifetime of the produced heavy hadrons is presented. This method relies on the tracking precision afforded by a double-sided silicon vertex detector. The tag algorithm makes a probabilistic interpretation of three-dimensional track impact parameters, using the data to measure the resolution. By tagging the two b hadrons separately, both GAMMA(bbBAR)/GAMMA(had) and the tag efficiency can be determined from the data. For a 26% efficiency of tagging a single b hadron within the vertex detector solid angle coverage, a purity of 96% is achieved. A value of GAMMA(bbBAR)/GAMMA(had) = 0.2192+/-0.0022(stat.)+/-0.0026(syst.)+/-0.0016(GAMMA(ccBAR)/GAMMA(had)) is found. Combining this result with other recent ALEPH GAMMA(bbBAR)/GAMMA(had) measurements gives a 95% confidence upper limit on the Standard Model top mass of M(t) < 228 GeV.
A precise measurement of ΓZ-->bb/ΓZ-->hadrons / Buskulic, D., de Bonis, I., Decamp, D., Ghez, P., Goy, C., Lees, J.-P., Minard, M.-N., Pietrzyk, B., Ariztizabal, F., Comas, P., Crespo, J.M., Delfino, M., Efthymiopoulos, I., Fernandez, E., Fernandez-Bosman, M., Gaitan, V., Garrido, Ll., Mattison, T., Pacheco, A., Padilla, C., et al.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - STAMPA. - 313:3-4(1993), pp. 535-548. [10.1016/0370-2693(93)90028-G]
A precise measurement of ΓZ-->bb/ΓZ-->hadrons
Buskulic, D.;de Bonis, I.;Decamp, D.;Ghez, P.;Goy, C.;Lees, J. -P.;Minard, M. -N.;Pietrzyk, B.;Ariztizabal, F.;Comas, P.;Crespo, J. M.;Delfino, M.;Efthymiopoulos, I.;Fernandez, E.;Fernandez-Bosman, M.;Gaitan, V.;Garrido, Ll.;Mattison, T.;Pacheco, A.;Padilla, C.;Pascual, A.;Creanza, D.;de Palma, M.;Farilla, A.;Iaselli, G.;Maggi, G.;Natali, S.;Nuzzo, S.;Quattromini, M.;Ranieri, A.;Raso, G.;Romano, F.;Ruggieri, F.;Selvaggi, G.;Silvestris, L.;Tempesta, P.;Zito, G.;Chai, Y.;Hu, H.;Huang, D.;Huang, X.;Lin, J.;Wang, T.;Xie, Y.;Xu, D.;Xu, R.;Zhang, J.;Zhang, L.;Zhao, W.;Blucher, E.;Bonvicini, G.;Boudreau, J.;Casper, D.;Drevermann, H.;Forty, R. W.;Ganis, G.;Gay, C.;Hagelberg, R.;Harvey, J.;Hilgart, J.;Jacobsen, R.;Jost, B.;Knobloch, J.;Lehraus, I.;Lohse, T.;Maggi, M.;Markou, C.;Martinez, M.;Mato, P.;Meinhard, H.;Minten, A.;Miotto, A.;Miquel, R.;Moser, H. -G.;Palazzi, P.;Pater, J. R.;Perlas, J. A.;Pusztaszeri, J. -F.;Ranjard, F.;Redlinger, G.;Rolandi, L.;Rothberg, J.;Ruan, T.;Saich, M.;Schlatter, D.;Schmelling, M.;Sefkow, F.;Tejessy, W.;Tomalin, I. R.;Veenhof, R.;Wachsmuth, H.;Wasserbaech, S.;Wiedenmann, W.;Wildish, T.;Witzeling, W.;Wotschack, J.;Ajaltouni, Z.;Badaud, F.;Bardadin-Otwinowska, M.;El Fellous, R.;Falvard, A.;Gay, P.;Guicheney, C.;Henrard, P.;Jousset, J.;Michel, B.;Montret, J. -C.;Pallin, D.;Perret, P.;Podlyski, F.;Proriol, J.;Prulhière, F.;Saadi, F.;Fearnley, T.;Hansen, J. B.;Hansen, J. D.;Hansen, J. R.;Hansen, P. H.;Møllerud, R.;Nilsson, B. S.;Kyriakis, A.;Simopoulou, E.;Siotis, I.;Vayaki, A.;Zachariadou, K.;Badier, J.;Blondel, A.;Bonneaud, G.;Brient, J. C.;Fouque, G.;Orteu, S.;Rougé, A.;Rumpf, M.;Tanaka, R.;Verderi, M.;Videau, H.;Candlin, D. J.;Parsons, M. I.;Veitch, E.;Focardi, E.;Moneta, L.;Parrini, G.;Corden, M.;Georgiopoulos, C.;Ikeda, M.;Levinthal, D.;Antonelli, A.;Baldini, R.;Bencivenni, G.;Bologna, G.;Bossi, F.;Campana, P.;Capon, G.;Cerutti, F.;Chiarella, V.;D'Ettorre-Piazzoli, B.;Felici, G.;Laurelli, P.;Mannocchi, G.;Murtas, F.;Murtas, G. P.;Passalacqua, L.;Pepe-Altarelli, M.;Picchi, P.;Colrain, P.;Ten Have, I.;Lynch, J. G.;Maitland, W.;Morton, W. T.;Raine, C.;Reeves, P.;Scarr, J. M.;Smith, K.;Smith, M. G.;Thompson, A. S.;Turnbull, R. M.;Brandl, B.;Braun, O.;Geweniger, C.;Hanke, P.;Hepp, V.;Kluge, E. E.;Maumary, Y.;Putzer, A.;Rensch, B.;Stahl, A.;Tittel, K.;Wunsch, M.;Beuselinck, R.;Binnie, D. M.;Cameron, W.;Cattaneo, M.;Colling, D. J.;Dornan, P. J.;Greene, A. M.;Hassard, J. F.;Lieske, N. M.;Moutoussi, A.;Nash, J.;Patton, S.;Payne, D. G.;Phillips, M. J.;San Martin, G.;Sedgbeer, J. K.;Wright, A. G.;Girtler, P.;Kuhn, D.;Rudolph, G.;Vogl, R.;Bowdery, C. K.;Brodbeck, T. J.;Finch, A. J.;Foster, F.;Hughes, G.;Jackson, D.;Keemer, N. R.;Nuttall, M.;Patel, A.;Sloan, T.;Snow, S. W.;Whelan, E. P.;Kleinknecht, K.;Raab, J.;Renk, B.;Sander, H. -G.;Schmidt, H.;Steeg, F.;Walther, S. M.;Wanke, R.;Wolf, B.;Bencheikh, A. M.;Benchouk, C.;Bonissent, A.;Carr, J.;Coyle, P.;Drinkard, J.;Etienne, F.;Nicod, D.;Papalexiou, S.;Payre, P.;Roos, L.;Rousseau, D.;Schwemling, P.;Talby, M.;Adlung, S.;Assmann, R.;Bauer, C.;Blum, W.;Brown, D.;Cattaneo, P.;Dehning, B.;Dietl, H.;Dydak, F.;Frank, M.;Halley, A. W.;Jakobs, K.;Lauber, J.;Lütjens, G.;Lutz, G.;Männer, W.;Richter, R.;Schröder, J.;Schwarz, A. S.;Settles, R.;Seywerd, H.;Stierlin, U.;Stiegler, U.;St. Denis, R.;Wolf, G.;Alemany, R.;Boucrot, J.;Callot, O.;Cordier, A.;Davier, M.;Duflot, L.;Grivaz, J. -F.;Heusse, Ph.;Jaffe, D. E.;Janot, P.;Kim, D. W.;Le Diberder, F.;Lefrançois, J.;Lutz, A. -M.;Schune, M. -H.;Veillet, J. -J.;Videau, I.;Zhang, Z.;Abbaneo, D.;Bagliesi, G.;Batignani, G.;Bottigli, U.;Bozzi, C.;Calderini, G.;Carpinelli, M.;Ciocci, M. A.;dell'Orso, R.;Ferrante, I.;Fidecaro, F.;Foà, L.;Forti, F.;Giassi, A.;Giorgi, M. A.;Gregorio, A.;Ligabue, F.;Lusiani, A.;Mannelli, E. B.;Marrocchesi, P. S.;Messineo, A.;Palla, F.;Rizzo, G.;Sanguinetti, G.;Spagnolo, P.;Steinberger, J.;Tenchini, R.;Tonelli, G.;Triggiani, G.;Vannini, C.;Venturi, A.;Verdini, P. G.;Walsh, J.;Betteridge, A. P.;Gao, Y.;Green, M. G.;March, P. V.;Mir, Ll. M.;Medcalf, T.;Quazi, I. S.;Strong, J. A.;West, L. R.;Botterill, D. R.;Clifft, R. W.;Edgecock, T. R.;Haywood, S.;Norton, P. R.;Thompson, J. C.;Bloch-Devaux, B.;Colas, P.;Duarte, H.;Emery, S.;Kozanecki, W.;Lançon, E.;Lemaire, M. C.;Locci, E.;Marx, B.;Perez, P.;Rander, J.;Renardy, J. -F.;Rosowsky, A.;Roussarie, A.;Schuller, J. -P.;Schwindling, J.;Si Mohand, D.;Vallage, B.;Johnson, R. P.;Litke, A. M.;Taylor, G.;Wear, J.;Ashman, J. G.;Babbage, W.;Booth, C. N.;Buttar, C.;Cartwright, S.;Combley, F.;Dawson, I.;Thompson, L. F.;Barberio, E.;Böhrer, A.;Brandt, S.;Cowan, G.;Grupen, C.;Lutters, G.;Rivera, F.;Schäfer, U.;Smolik, L.;Bosisio, L.;Della Marina, R.;Giannini, G.;Gobbo, B.;Ragusa, F.;Bellantoni, L.;Chen, W.;Conway, J. S.;Feng, Z.;Ferguson, D. P. S.;Gao, Y. S.;Grahl, J.;Harton, J. L.;Hayes, O. J.;Nachtman, J. M.;Pan, Y. B.;Saadi, Y.;Schmitt, M.;Scott, I.;Sharma, V.;Shi, Z. H.;Turk, J. D.;Walsh, A. M.;Weber, F. V.;Sau Lan;Wu;Wu, X.;Zheng, M.;Zobernig, G.
1993
Abstract
A measurement of the partial width ratio GAMMA(bbBAR)/GAMMA(had) using a method which tags the Z --> bbBAR decays through the lifetime of the produced heavy hadrons is presented. This method relies on the tracking precision afforded by a double-sided silicon vertex detector. The tag algorithm makes a probabilistic interpretation of three-dimensional track impact parameters, using the data to measure the resolution. By tagging the two b hadrons separately, both GAMMA(bbBAR)/GAMMA(had) and the tag efficiency can be determined from the data. For a 26% efficiency of tagging a single b hadron within the vertex detector solid angle coverage, a purity of 96% is achieved. A value of GAMMA(bbBAR)/GAMMA(had) = 0.2192+/-0.0022(stat.)+/-0.0026(syst.)+/-0.0016(GAMMA(ccBAR)/GAMMA(had)) is found. Combining this result with other recent ALEPH GAMMA(bbBAR)/GAMMA(had) measurements gives a 95% confidence upper limit on the Standard Model top mass of M(t) < 228 GeV.
A precise measurement of ΓZ-->bb/ΓZ-->hadrons / Buskulic, D., de Bonis, I., Decamp, D., Ghez, P., Goy, C., Lees, J.-P., Minard, M.-N., Pietrzyk, B., Ariztizabal, F., Comas, P., Crespo, J.M., Delfino, M., Efthymiopoulos, I., Fernandez, E., Fernandez-Bosman, M., Gaitan, V., Garrido, Ll., Mattison, T., Pacheco, A., Padilla, C., et al.. - In: PHYSICS LETTERS. SECTION B. - ISSN 0370-2693. - STAMPA. - 313:3-4(1993), pp. 535-548. [10.1016/0370-2693(93)90028-G]
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.
