Simulating the Drain Current Characteristics of CNTFETs in a Wide Range of the Diameter Values and Polarization Conditions / Giorgio, Agostino. - In: INTERNATIONAL JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY. - ISSN 0974-3081. - 6:1(2015), pp. 21-32.
Simulating the Drain Current Characteristics of CNTFETs in a Wide Range of the Diameter Values and Polarization Conditions
GIORGIO, Agostino
2015-01-01
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