Metodo di misura ad ampia banda per la prognosi di guasto di saldature su schede elettroniche / Andria, Gregorio; DI NISIO, Attilio; Savino, Mario; Scarano, VALERIA L.; Spadavecchia, Maurizio. - (2014), pp. 107-108. (Intervento presentato al convegno XXXI Congresso Nazionale dell’Associazione Gruppo Misure Elettriche ed Elettroniche tenutosi a Ancona nel 11-13 settembre 2014).
Metodo di misura ad ampia banda per la prognosi di guasto di saldature su schede elettroniche
ANDRIA, Gregorio;DI NISIO, Attilio;SAVINO, Mario;SCARANO, VALERIA L.;SPADAVECCHIA, MAURIZIO
2014-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.